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本实用新型提供一种高精度光纤长度测量系统。现有的光纤长度测量系统OTDR具有测量精度低，设备庞大并且不能测短距离光纤的缺点；OFDR和OLCR具有造价昂贵、稳定性不高等缺点。本实用新型可以克服以上这些缺点。本实用新型主要由激光光源发射出的连...
该专利属于中国科学院西安光学精密机械研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院西安光学精密机械研究所授权不得商用。

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