微光像增强器组件反馈离子测试装置及方法制造方法及图纸

微光像增强器组件反馈离子测试装置及方法，属于光电成像器件领域，包括聚焦紫外光源、真空室、无阴极微光像增强器组件、离子导管、离子探测器、屏蔽盒；方法是：聚焦紫外光源通过紫外窗口入射到微通道板表面，激发出的电子使微光像增强器组件工作，微光像增强器组件中产生的反馈离子经加速后，经离子导管、隔离栅网进入离子探测器，输出信号经电荷放大器放大后输入到多道脉冲幅度分析器，通过脉冲幅度分析将离子脉冲信号与噪声信号进行分离，得到反馈离子脉冲信号幅度值，然后将信号幅值做为阈值输入到单道谱仪中，实现离子脉冲计数。该装置能够实现复杂电磁环境下的极微弱离子流检测，用于微光像增强器中防离子反馈膜离子阻透特性的测量。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种微光像增强器组件反馈离子测试装置及其方法，是一种能够实现复杂电磁环境下的极微弱离子流检测装置，能够用于微光器件中的防离子反馈膜离子阻透特性测量。
技术介绍
像管工作时，管内残余气体分子在微通道板输出端被高密度电子云电离形成气体离子，并沿微通道反馈至微通道板输入端，在输入端近贴区电场加速作用下，高速轰击光阴极，使光阴极发射电子，造成信噪比降低，在荧光屏上形成离子斑；高速离子的轰击还会使GaAs光阴极表面Cs-O层受到损伤，灵敏度急剧下降，使阴极寿命大幅度缩短。为解决这一问题，在微通道板输入面上均覆盖一层介质薄膜，用以阻止气体离子由通道内射出，达到保 护光阴极的目的，这层薄膜称之为防离子反馈膜。据报道，MCP覆防离子反馈膜后可使像管工作寿命达到10000小时以上。对于高性能的防离子反馈膜，需要具有高的电子透过率和离子阻挡率，膜层的性能与膜层的制作工艺、膜层组份等因素相关，为此需要一种能够直接测量防离子反馈膜离子阻透特性的装置，对膜层性能进行定量检测，为制备优质膜层提供依据。防离子反馈膜的厚度只有几个纳米，制作的时候必须有衬底的存在，所以不能将膜层独立出来进行离子阻透特本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种微光像增强器组件反馈离子测试装置，其特征是：包括聚焦紫外光源（1）、真空室（3）、无阴极微光像增强器组件（4）、离子导管（7）、离子探测器（8）、屏蔽盒（9）；所述的真空室（3）设置有紫外窗口（2），真空室内部的无阴极微光像增强器组件（4）斜上方对准离子导管（7）；所述的屏蔽盒（9）内置有电场隔离栅网（5）、光阑（6）和离子探测器（8），所述离子探测器（8）与电荷放大器（10）连接；所述的电荷放大器分别与多道脉冲幅度分析器（11）、单道谱仪（12）连接；所述无阴极微光像增强器组件（4）和离子探测器（8）中间设置离子导管（7）、电场隔离网（5）和光阑（6）。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：李野，秦旭磊，付申成，端木庆铎，
申请(专利权)人：长春理工大学，
类型：发明
国别省市：