用于二阶导数边缘检测方法的边缘取向技术

提供一种改善的边缘检测算法，其利用图像的强度分布函数的二阶导数来提供所检测边缘的边缘取向信息。该改善的算法的一示范性实施例包括确定强度分布函数的二阶导数，识别水平方向和垂直方向上的过零，向所识别的水平方向和垂直方向上的过零分配角信息；以及基于为边缘和相邻边缘的水平和垂直过零分配的角信息识别边缘取向。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】用于二阶导数边缘检测方法的边缘取向相关申请的交叉引用本申请主张2010年3月15日提交的共同未决美国专利申请No.12/661,335的优先权和权益，其整体通过引用合并于此。
本专利技术的实施例总体上涉及图像处理，更特别地，涉及基于图像强度的梯度变化检测二维图像的边缘。
技术介绍
图像通常认为是三维物体的二维表示。可以用二维网格定义图像，网格的每个元素被称为像素。与每个像素相关联的是强度。常常用亮度表示像素强度的大小。在数字图像中，可以为每个像素分配亮度值。在8位图像中，该值是0到255。暗像素具有低强度，而亮像素具有高强度。图1a示出图像强度沿水平轴（从左至右）增大的图像。图1b是图像沿x轴的强度分布的曲线图。该曲线图示出在大约像素24（即列24）处从低强度（黑）到高强度（白）的变化。尽管未示出，但沿y轴的强度分布将会是常数。边缘检测是图像处理的重要部分。边缘检测涉及到识别图像中对象的线条或边界。因此，返回参照图1a，图像处理装置使用边缘检测来沿水平线识别低强度暗区结束，高强度白区域开始的部分。当前，一种识别边缘的方法是利用图像的强度分布函数的一阶导数（即梯度）。因此，参考图2，边本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2010.03.15 US 12/661,3351.一种图像处理装置，包括边缘检测和分类模块，所述边缘检测和分类模块：基于沿着包含像素的像素行的强度分布的二阶导数中的过零点和沿着包含所述像素的像素列的强度分布的二阶导数中的过零点检测图像中的所述像素的边缘，以及基于上述各过零点和基于沿着包含相邻像素的像素行的强度分布的二阶导数中的过零点和沿着包含所述相邻像素的像素列的强度分布的二阶导数中的过零点确定所述像素的边缘取向。2.根据权利要求1所述的图像处理装置，其中，所述边缘检测和分类模块逐个像素地识别所检测的边缘的取向。3.根据权利要求1所述的图像处理装置，其中，所述边缘检测和分类模块基于预定的角度掩模识别所检测的边缘的取向，其中所述角度掩模包括多个边缘取向的定义和相应的边缘取向。4.根据权利要求1所述的图像处理装置，其中，所述边缘检测和分类模块针对所述图像中的每个像素检测边缘信息，所述边缘检测和分类模块针对所述图像中的每个像素检测所检测的边缘信息的取向。5.根据权利要求1所述的图像处理装置，还包括对象解析模块，其根据所述图像中的特定对象解析所检测的边缘信息和边缘取向。6.根据权利要求5所述的图像处理装置，还包括对象识别模块，其基于所解析的所检测边缘信息和边缘取向识别所述图像中的所述特定对象。7.一种检测图像的像素中的边缘的取向的方法，所述方法包括：确定沿着包含像素的像素行的强度分布的二阶导数中的过零点以及沿着包含周围像素的像素行的强度分布的二阶导数中的过零点；确定沿着包含所述像素的像素列的强度分布的二阶导数中的过零点以及包含所述像素以及所述周围像素的像素列的周围像素强度分布的二阶导数中的过零点；基于上述各过零点确定所述像素中的边缘取向。8.根据权利要求7...

【专利技术属性】
技术研发人员：G·卡拉纳姆，B·库斯塔施尔，
申请(专利权)人：美国亚德诺半导体公司，
类型：
国别省市：