一种应用于薄层色谱扫描仪的图像补偿方法及控制系统技术方案

技术编号:8190190 阅读:182 留言:0更新日期:2013-01-10 01:20
本发明专利技术提供了一种应用于薄层色谱扫描仪的图像补偿方法,扫描仪上的监测光电倍增管记录扫描仪上的光源对目标物扫描时的光强数据矩阵,然后根据光强数据矩阵计算光强平均强度,再利用光强数据矩阵和光强平均强度计算光强分布矩阵;然后扫描仪上的测定光电倍增管记录光源对目标物扫描时的反射光数据矩阵,利用光强分布矩阵对反射光数据矩阵进行修正处理,以抵消光强发生变化对测定光电倍增管检测数据的影响;最后根据反射管数据修正矩阵与光强平均强度,即可分析获得扫描数据。本发明专利技术同时还提供了基于上述图像补偿方法的数据采集及控制系统。本发明专利技术有以下优点:(1)扫描速度快。(2)检测稳定。(3)处理方法简便,更易于实现图像去噪。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术提供了一种图像补偿方法,适用于薄层色谱扫描仪中,本专利技术还提供了基于图像补偿方法的数据采集及控制系统,属于分析仪器领域。
技术介绍
薄层色谱(Thin Layer Chromatography)常用TLC表示,又称薄层层析,属于固一液吸附色谱。是近年来发展起来的一种微量、快速而简单的色谱法,它兼备了柱色谱和纸色谱的优点。近年来,薄层层析法在药物的合成、中草药有效成分的分离分析等方面也得到了广泛的应用。它具有学习快、容易掌握、灵活的特点;并且可随时改换展开剂、展开方向,随时衍生、显色、观察、检测。同时还具有灵敏度及分辨率高、分离快速、操作方便、能够同时分离多个样品、样品预处理简单、设备简单等特点。 薄层色谱扫描仪是对薄层色谱进行定量检测分析的仪器,全波段扫描仪提供波长200-800nm范围的可选波长,通过检测样品对光的吸收强弱确定物质含量。该扫描仪也能检测254nm或365nm紫外照射产生的荧光强度,从而进行特异性检测。—般扫描仪的扫描方式分为单光束扫描、双光束扫描和双波长锯齿扫描。目前,在定量分析中,薄层扫描多采用双波长锯齿扫描。双波长锯齿扫描采用两个不同波长的光束交替本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种应用于薄层色谱扫描仪的图像补偿方法,其特征在于包括以下步骤:(1)、扫描仪上的监测光电倍增管记录扫描仪上的光源对目标物扫描时的光强数据矩阵Cij,记做:c11,c12...c1(n-1),c1nc21,c22...c2(n-1),c2n...cm1,cm2...cm(n-1),cmn其中m为扫描行数,n为扫描列线数,cij为任一扫描点光强数据;(2)、根据光强数据矩阵Cij计算光强平均强度M;(3)、利用光强数据矩阵Cij和光强平均强度M计算光强分布矩阵Qij,记做:q11,q12...,q1(n-1),q1nq21,q22...,q2(n-1),q2n...qm1,qm2...,qm(n...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:吴涛杨代华李勇波甘明何王勇
申请(专利权)人:中国地质大学武汉
类型:发明
国别省市:

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