本发明专利技术提供了一种应用于薄层色谱扫描仪的图像补偿方法，扫描仪上的监测光电倍增管记录扫描仪上的光源对目标物扫描时的光强数据矩阵，然后根据光强数据矩阵计算光强平均强度，再利用光强数据矩阵和光强平均强度计算光强分布矩阵；然后扫描仪上的测定光电倍增管记录光源对目标物扫描时的反射光数据矩阵，利用光强分布矩阵对反射光数据矩阵进行修正处理，以抵消光强发生变化对测定光电倍增管检测数据的影响；最后根据反射管数据修正矩阵与光强平均强度，即可分析获得扫描数据。本发明专利技术同时还提供了基于上述图像补偿方法的数据采集及控制系统。本发明专利技术有以下优点：（1）扫描速度快。（2）检测稳定。（3）处理方法简便，更易于实现图像去噪。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术提供了一种图像补偿方法，适用于薄层色谱扫描仪中，本专利技术还提供了基于图像补偿方法的数据采集及控制系统，属于分析仪器领域。
技术介绍
薄层色谱(Thin Layer Chromatography)常用TLC表示，又称薄层层析,属于固一液吸附色谱。是近年来发展起来的一种微量、快速而简单的色谱法，它兼备了柱色谱和纸色谱的优点。近年来，薄层层析法在药物的合成、中草药有效成分的分离分析等方面也得到了广泛的应用。它具有学习快、容易掌握、灵活的特点；并且可随时改换展开剂、展开方向，随时衍生、显色、观察、检测。同时还具有灵敏度及分辨率高、分离快速、操作方便、能够同时分离多个样品、样品预处理简单、设备简单等特点。 薄层色谱扫描仪是对薄层色谱进行定量检测分析的仪器，全波段扫描仪提供波长200-800nm范围的可选波长，通过检测样品对光的吸收强弱确定物质含量。该扫描仪也能检测254nm或365nm紫外照射产生的荧光强度，从而进行特异性检测。—般扫描仪的扫描方式分为单光束扫描、双光束扫描和双波长锯齿扫描。目前，在定量分析中，薄层扫描多采用双波长锯齿扫描。双波长锯齿扫描采用两个不同波长的光束交替扫描样品展开的通道区域，波长选择时，一个波长为样品最大吸收位置，另一是吸收极小值位置。这种方法可基本消除铺板不均产生的误差，因此扫描基线很稳定。检测误差主要来自光源的稳定性、光检测器的稳定性以及样品对光吸收(或荧光产生)的线性度等方面。为减少这些误差，需要非常精密的机电系统。特别是光源的稳定性对检测误差影响较大，目前最常用方法是采用监测光电倍增管(参比管)来检测光源强度，然后根据监测结果再控制调节参比管的高压模块电压大小来抵消光源强度变化。目前市面上的仪器多采用参比管来检测光源变化，调节参比管激发电压(高压模块)来维持输出信号大小不变。但在调节控制时电压调整是一个动态过程，也有可能带来误差；另外当激发电压改变时，光电倍增管输出信号随激发电压变化不是线性的，这样也会带来误差。
技术实现思路
本专利技术提供了一种应用于薄层色谱扫描仪的图像补偿方法，解决了上述
技术介绍
中的问题，该方法扫描速度快且方法处理简单易行。实现本专利技术上述目的所采用的技术方案为一种应用于薄层色谱扫描仪的图像补偿方法，包括以下步骤(I)、扫描仪上的监测光电倍增管记录扫描仪上的光源对目标物扫描时的光强数据矩阵Cu，记做权利要求1.一种应用于薄层色谱扫描仪的图像补偿方法，其特征在于包括以下步骤 (1)、扫描仪上的监测光电倍增管记录扫描仪上的光源对目标物扫描时的光强数据矩阵Cij，记做2.根据权利要求I所述的应用于薄层色谱扫描仪的图像补偿方法，其特征在于所述的光强平均强度M的计算方法为3.基于权利要求I所述的图像补偿方法的数据采集及控制系统，其特征在于至少包括单片机、光电倍增管信号采集装置、上位机、电机驱动装置以及限位信号采集装置，光电倍增管信号采集装置以及限位信号采集装置均与单片机连接，其中光电倍增管信号采集装置与扫描仪上的监测光电倍增管和测定光电倍增管连接，将监测光电倍增管和测定光电倍增管监测到的信号转化为电压信号后传输至单片机，单片机与上位机连接并将收集到的电压信号与限位信号传输至上位机，上位机根据信号进行运算得到运动代码并将运动代码传输至单片机，单片机与电机驱动装置连接并将运动代码传输至电机驱动装置。4.根据权利要求3所述的数据采集及控制系统，其特征在于光电倍增管信号采集装置内设有信号调理电路，所述的信号调理电路包括ΙΛ变换元件、低通滤波器、电压跟随器及采样保持器。5.根据权利要求3所述的数据采集及控制系统，其特征在于单片机上设有USB控制电路，单片机通过USB控制电路与USB接口连接。全文摘要本专利技术提供了一种应用于薄层色谱扫描仪的图像补偿方法，扫描仪上的监测光电倍增管记录扫描仪上的光源对目标物扫描时的光强数据矩阵，然后根据光强数据矩阵计算光强平均强度，再利用光强数据矩阵和光强平均强度计算光强分布矩阵；然后扫描仪上的测定光电倍增管记录光源对目标物扫描时的反射光数据矩阵，利用光强分布矩阵对反射光数据矩阵进行修正处理，以抵消光强发生变化对测定光电倍增管检测数据的影响；最后根据反射管数据修正矩阵与光强平均强度，即可分析获得扫描数据。本专利技术同时还提供了基于上述图像补偿方法的数据采集及控制系统。本专利技术有以下优点(1)扫描速度快。(2)检测稳定。(3)处理方法简便，更易于实现图像去噪。文档编号G01N30/90GK102866228SQ201210320478公开日2013年1月9日 申请日期2012年9月3日 优先权日2012年9月3日专利技术者吴涛, 杨代华, 李勇波, 甘明, 何王勇 申请人:中国地质大学(武汉)本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种应用于薄层色谱扫描仪的图像补偿方法，其特征在于包括以下步骤：（1）、扫描仪上的监测光电倍增管记录扫描仪上的光源对目标物扫描时的光强数据矩阵Cij，记做：c11,c12...c1(n-1),c1nc21,c22...c2(n-1),c2n...cm1,cm2...cm(n-1),cmn其中m为扫描行数，n为扫描列线数，cij为任一扫描点光强数据；（2）、根据光强数据矩阵Cij计算光强平均强度M；（3）、利用光强数据矩阵Cij和光强平均强度M计算光强分布矩阵Qij，记做：q11,q12...,q1(n-1),q1nq21,q22...,q2(n-1),q2n...qm1,qm2...,qm(n-1),qmn其中m为扫描行数，n为扫描列线数，qij为任一扫描点光强分布数据，且qij=cij/M;（4）、扫描仪上的测定光电倍增管记录光源对目标物扫描时的反射光数据矩阵Hij，记做：h11,h12...h1(n-1),h1nh21,h22...h2(n-1),h2n...hm1,hm2...hm(n-1),hmn其中m为扫描行数，n为扫描列线数，hij为测定光电倍增管检测任一点的数据；（5）、利用光强分布矩阵Qij对反射光数据矩阵Hij进行修正处理，以抵消光强发生变化对测定光电倍增管检测数据的影响，修正后得到反射光数据修正矩阵H′，记做：h11′,h12′...h1(n-1)′,h1n′h21′,h22′...h2(n-1)′,h2n′...hm1′,hm2′...hm(n-1)′,hmn′其中m为扫描行数，n为扫描列线数，h′ij为修正后的反射光检测数据，且h′ij=hij/qij；（6）、根据反射光数据修正矩阵H′与光强平均强度M，即可分析获得扫描数据。...
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：吴涛，杨代华，李勇波，甘明，何王勇，
申请(专利权)人：中国地质大学武汉，
类型：发明
国别省市：
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