【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及ー种超光谱成像光谱仪装调、测试用狭缝组件。
技术介绍
一般物体成像包含ニ维空间信息，而超光谱成像在包含空间信息的基础上同时记录了像元随波长变化而变化的辐射强度信息，像元具有三维的信息，即空间維，X，y与光谱维入，成像光谱仪已经广泛应用于卫星遥感、地质探测、精准农业、生产制造和军事侦察等领域。超光谱成像光谱仪一般其光谱分辨率为亚纳米级别，空间分辨率为像元级，此精度对调试提出了很高的要求。一方面要求光谱内部光栅、镜片需要高精度的装调装置、探測器面需要高精度的装调，同时也要求为装调提供合适的光源，本专利技术设计研发了专用的成 像光谱仪装调、测试用狭缝组件，该组件结合不同的光源可以为成像光谱仪提供合适的入射光源。
技术实现思路
本专利技术目的就是为了弥补已有技术的缺陷，提供一种专用的成像光谱仪装调、测试用狭缝组件，解决了超光谱成像光谱仪装调、测试过程缺乏合适光源的问题。本专利技术是通过以下技术方案实现的ー种超光谱成像光谱仪装调、测试用狭缝组件，包括有入射狭縫，在所述的入射狭缝上开有一系列不同间距的圆形小孔，可以测试整个像面的情況，因为狭缝是1:1成像在像面上，...
【技术保护点】
一种超光谱成像光谱仪装调、测试用狭缝组件，包括有入射狭缝，其特征在于：在所述的入射狭缝上开有一系列不同间距的圆形小孔，所述的圆形小孔的直径等于所述的入射狭缝的宽度，所述的圆形小孔的间距有三种：等于超光谱成像光谱仪理论空间分辨率、大于超光谱成像光谱仪理论空间分辨率和小于超光谱成像光谱仪理论空间分辨率。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：司福祺，江宇，相连钦，周海金，赵敏杰，刘文清，
申请(专利权)人：中国科学院安徽光学精密机械研究所，
类型：发明
国别省市：
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