接触式测长装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供了一种接触式测长装置，包括右测针、右空气导轨、右激光尺、右端板、右激光位移传感器、右激光位移传感器安装板、右连接件、右数据线接头、底板、左激光位移传感器安装板、左激光尺、左激光位移传感器、左数据线接头、左端板、左测针、左弹簧、左空气导轨、左连接件、左进气接头、右进气接头、右弹簧；本发明专利技术具有两个反向安装的左测针和右测针，能实时读取轴系在运动过程中产生的线性运动误差，并将该误差值及时反馈到控制系统，以对测量值进行误差补偿，最终消除轴系误差对测量精度带来的影响，进一步提高了测量精度，使在精密测量领域面向精密模具、光学元件制造、数控加工领域中实现亚微米级甚至更小的测量精度成为可能。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及精密测量设备领域，具体涉及一种具有轴系误差补偿功能的接触式测长装置。
技术介绍
在精密测量设备领域，常需对物体表面形貌高低或长短进行测量，在精密模具、光学镜片制造、数控加工等领域常被应用，以精确测量得到被加工表面的形状误差和位置精密误差。传统应用于该领域的测量设备有三坐标测量仪、影像测量仪等。三坐标测量仪是采用接触式的测量方式，利用接触式测头对被测物表面某点相对基准面的高度或长短进行测量，并通过三坐标测量仪的轴系，带动测头运动，以对被测物表面进行点测量或是线性扫描测量，从而获得多个的测量数据，再经过数据拟合，以得到整个被测物表面的形貌特征参数，构成空间曲面，再与理论表面形位公差比对，最终得到加工误差，并以此判定加工精度。影响测量仪是通过CCD摄像技术对被测物表面进行摄像，再利用机器视觉和图像处理技术对所摄取图形进行处理，以构建被测物表面的形貌特征参数，与三坐标测量仪相同进行加工误差判定方法相同，以获得最终的加工精度。由于应用行业中被加工物绝大部分表面均不是非常洁净，或是表面具有高亮度发光、甚至是透明材料，面对这类被测物的表面形位公差测量时，采用影像测量仪会受到材料特性本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种接触式测长装置，其特征在于，包括右测针、右空气导轨、右激光尺、右端板、右激光位移传感器、右激光位移传感器安装板、右连接件、右数据线接头、底板、左激光位移传感器安装板、左激光尺、左激光位移传感器、左数据线接头、左端板、左测针、左弹簧、左空气导轨、左连接件、左进气接头、右进气接头、右弹簧；其中，左空气导轨和右空气导轨安装在底板的左右两侧，所述的左空气导轨与左端板之间安装有左弹簧，左端板靠外侧安装有左测针；右空气导轨与右端板之间安装有右弹簧，右端板靠外侧安装有右测针；左空气导轨的导芯的一端安装有左连接件，右空气导轨的导芯的一端安装有右连接件，所述左连接件上安装有左激光尺，右连接件上安装有右激光尺...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：赵春花，
申请(专利权)人：昆山允可精密工业技术有限公司，
类型：发明
国别省市：