光洁度测量仪制造技术

本实用新型专利技术属于一种仪器，具体是一种光洁度测量仪。光洁度测量仪包括半导体激光器、测量透镜、试件放置台、反射镜、多单元光电转换器、信号处理单元、显示器，其中，半导体激光器与测量透镜之间连接有准直光纤，反射镜连接有柱面镜，且反射镜与柱面镜的连接角度是45度。本实用新型专利技术可以方便、自动、精确地实现对陶瓷制品、玻璃制品光洁度的测量。克服了以往技术中光洁度测量仪精度低、性能不稳定的缺点。本实用新型专利技术有广阔的应用前景，可以使我国的陶瓷制品、玻璃制品光洁度的测量精度提高一个新的台阶。另外，本实用新型专利技术的生产成本不高，结构简单，适合在相关技术领域中推广使用。（*该技术在2022年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术属于一种仪器，具体是一种光洁度测量仪。技术背景由于我国是一个陶瓷制品大国，特别是高档的陶瓷制品对光洁度的要求更高，传统的陶瓷光洁度检测仪器由于精度低、性能不稳定等缺点，难以达到精确检测陶瓷制品光洁度的要求。因此，需要技术上的进步，以解决陶瓷光洁度检测仪器的精度低、性能不稳定的问题。
技术实现思路
本技术的目的是为了解决现有技术中的不足，提供一种检测精度高、性能稳定的光洁度检测仪器。光洁度测量仪包括半导体激光器、测量透镜、试件放置台、反射镜、多单元光电转换器、信号处理单元、显示器，其中，半导体激光器与测量透镜之间连接有准直光纤，反射镜连接有柱面镜，且反射镜与柱面镜的连接角度是45度。柱面镜与多单元光电转换器连接。本技术的信号处理单元包括信号放大器、数字处理器、微处理器。其中，信号放大器与多单元光电转换器连接，微处理器与显示器连接。本技术的半导体激光器呈矩形；测量透镜呈椭圆形。本技术可以实现方便、自动、精确地对陶瓷制品、玻璃制品光洁度的测量。克服了以往技术中光洁度测量仪精度低、性能不稳定的缺点。本技术有广阔的应用前景，可以使我国的陶瓷制品、玻璃制品光洁度的测量精度提高一个新的台阶。另本文档来自技高网...

【技术保护点】
光洁度测量仪，包括半导体激光器、测量透镜、试件放置台、反射镜、多单元光电转换器、信号处理单元、显示器，其中，半导体激光器与测量透镜之间连接有准直光纤，其特征在于反射镜连接有柱面镜，且柱面镜与多单元光电转换器连接。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：滕春梅，
申请(专利权)人：淄博职业学院，
类型：实用新型
国别省市：