光洁度测量仪制造技术

本实用新型专利技术属于一种仪器，具体是一种光洁度测量仪。光洁度测量仪包括半导体激光器、测量透镜、试件放置台、反射镜、多单元光电转换器、信号处理单元、显示器，其中，半导体激光器与测量透镜之间连接有准直光纤，反射镜连接有柱面镜，且反射镜与柱面镜的连接角度是45度。本实用新型专利技术可以方便、自动、精确地实现对陶瓷制品、玻璃制品光洁度的测量。克服了以往技术中光洁度测量仪精度低、性能不稳定的缺点。本实用新型专利技术有广阔的应用前景，可以使我国的陶瓷制品、玻璃制品光洁度的测量精度提高一个新的台阶。另外，本实用新型专利技术的生产成本不高，结构简单，适合在相关技术领域中推广使用。（*该技术在2022年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术属于一种仪器，具体是一种光洁度测量仪。技术背景由于我国是一个陶瓷制品大国，特别是高档的陶瓷制品对光洁度的要求更高，传统的陶瓷光洁度检测仪器由于精度低、性能不稳定等缺点，难以达到精确检测陶瓷制品光洁度的要求。因此，需要技术上的进步，以解决陶瓷光洁度检测仪器的精度低、性能不稳定的问题。
技术实现思路
本技术的目的是为了解决现有技术中的不足，提供一种检测精度高、性能稳定的光洁度检测仪器。光洁度测量仪包括半导体激光器、测量透镜、试件放置台、反射镜、多单元光电转换器、信号处理单元、显示器，其中，半导体激光器与测量透镜之间连接有准直光纤，反射镜连接有柱面镜，且反射镜与柱面镜的连接角度是45度。柱面镜与多单元光电转换器连接。本技术的信号处理单元包括信号放大器、数字处理器、微处理器。其中，信号放大器与多单元光电转换器连接，微处理器与显示器连接。本技术的半导体激光器呈矩形；测量透镜呈椭圆形。本技术可以实现方便、自动、精确地对陶瓷制品、玻璃制品光洁度的测量。克服了以往技术中光洁度测量仪精度低、性能不稳定的缺点。本技术有广阔的应用前景，可以使我国的陶瓷制品、玻璃制品光洁度的测量精度提高一个新的台阶。另外，本技术的生产成本不高，结构简单，方便生产制造，适合在相关
中推广使用。附图说明图I为本技术的结构示意图；图中1、半导体激光器；2、测量透镜；3、试件放置台；4、反射镜；5、多单元光电转换器；6、准直光纤；7、柱面镜；8、信号处理单元；9、显示器。具体实施方式为使本技术的技术方案和特点更加清楚，下面结合实施例和附图，对本技术做进一步的详细说明。在此，以下实施例用于说明本技术，但不用来限制本技术的范围。如图I所示，光洁度测量仪包括半导体激光器I、测量透镜2、试件放置台3、反射镜4、多单元光电转换器5、信号处理单元8、显示器9，其中，半导体激光器I与测量透镜2之间连接有准直光纤6，反射镜4连接有柱面镜7，且反射镜4与柱面镜7的连接角度是45度。本技术的柱面镜7与多单元光电转换器5连接。本技术的信号处理单元8包括信号放大器、数字处理器、微处理器。信号放大器与多单元光电转换器5连接，微处理器与显示器9连接。本技术的半导体激光器I呈矩形；测量透镜2呈椭圆形。本技术的技术方案是这样实现的，半导体激光器I发出激光经准直光纤6，由测量透镜2会聚到试件放置台3上的测量件表面形成一定直径的光斑，被粗糙表面调制的激光束所形成的散射带，包括反射中心光斑和一侧的散射光带、半散射光带返回测量透镜2成为近似的平行光带，经平面反射镜4反射，由柱面镜7会聚到光电二极管阵列光敏面上。然后，再由多单元光电转换器5将信号传输到信号处理单元8，最后信号处理单元8将处理后的信息显示在显示器9上，操作者可以通过显示器9得出光洁度的相应数值。显然，本技术的上述实施例仅仅是为清楚地说明本技术所作的举例，而并非是对本技术的实施方式的限定。对于所属领域的普通技术人员来说，在上述说明的基础上还可以做出其它不同形式的变化或变动。这里无法对所有的实施方式予以穷举。·凡是属于本技术的技术方案所引伸出的显而易见的变化或变动仍处于本技术的保护范围之列。权利要求1.光洁度测量仪，包括半导体激光器、测量透镜、试件放置台、反射镜、多单元光电转换器、信号处理单元、显示器，其中，半导体激光器与测量透镜之间连接有准直光纤，其特征在于反射镜连接有柱面镜，且柱面镜与多单元光电转换器连接。2.根据权利要求I所述的光洁度测量仪，其特征在于信号处理单元包括信号放大器、数字处理器、微处理器。3.根据权利要求2所述的光洁度测量仪，其特征在于信号放大器与多单元光电转换器连接，微处理器与显示器连接。4.根据权利要求I所述的光洁度测量仪，其特征在于反射镜与柱面镜的连接角度是45度。5.根据权利要求I所述的光洁度测量仪，其特征在于半导体激光器呈矩形。6.根据权利要求I所述的光洁度测量仪，其特征在于测量透镜呈椭圆形。专利摘要本技术属于一种仪器，具体是一种光洁度测量仪。光洁度测量仪包括半导体激光器、测量透镜、试件放置台、反射镜、多单元光电转换器、信号处理单元、显示器，其中，半导体激光器与测量透镜之间连接有准直光纤，反射镜连接有柱面镜，且反射镜与柱面镜的连接角度是45度。本技术可以方便、自动、精确地实现对陶瓷制品、玻璃制品光洁度的测量。克服了以往技术中光洁度测量仪精度低、性能不稳定的缺点。本技术有广阔的应用前景，可以使我国的陶瓷制品、玻璃制品光洁度的测量精度提高一个新的台阶。另外，本技术的生产成本不高，结构简单，适合在相关
中推广使用。文档编号G01B11/30GK202630932SQ20122031050公开日2012年12月26日 申请日期2012年6月29日 优先权日2012年6月29日专利技术者滕春梅 申请人:淄博职业学院本文档来自技高网...

【技术保护点】
光洁度测量仪，包括半导体激光器、测量透镜、试件放置台、反射镜、多单元光电转换器、信号处理单元、显示器，其中，半导体激光器与测量透镜之间连接有准直光纤，其特征在于反射镜连接有柱面镜，且柱面镜与多单元光电转换器连接。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：滕春梅，
申请(专利权)人：淄博职业学院，
类型：实用新型
国别省市：