一种检测隔垫物高度的装置制造方法及图纸

技术编号:8147604 阅读:163 留言:0更新日期:2012-12-28 16:03
本实用新型专利技术涉及液晶显示技术领域,尤其涉及一种检测隔垫物高度的装置,用于检测液晶显示器基板上的隔垫物的高度,该装置包括:光源、光线接收装置及检测装置,所述光源发出光线照射到隔垫物及所述隔垫物所在的基板上,所述光线接收装置接收由所述隔垫物及所述基板表面反射的光线;所述检测装置与所述光线接收装置相连接,所述检测装置接收所述光线接收装置发送的由所述隔垫物及所述基板表面反射的光线,根据所述反射光线的相位计算得到所述隔垫物的高度。本实用新型专利技术测量的隔垫物的高度精确,进一步提高了液晶显示器的质量。(*该技术在2022年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及液晶显示
,尤其涉及一种检测隔垫物高度的装置
技术介绍
随着科技的发展,液晶显示已经频繁应用于各种设备中。目前,液晶显示器是常用的平板显示器,其中薄膜晶体管液晶显示器(Thin Film Transistor-Liquid CrystalDisplay,简称TFT-IXD)是液晶显示器中的主流产品。TFT-IXD通常包括对盒设置的阵列基板和彩膜基板,在阵列基板和彩膜基板之间填充有液晶层。其中,在阵列基板和彩膜基板之间设置有隔垫物,隔垫物将对阵列基板和彩膜基板起到支撑盒厚的作用。隔垫物是液晶显示器的重要部件,隔垫物的高度决定了对盒后的阵列基板和彩膜 基板需注入液晶的用量。隔垫物主要分为球形隔垫物及柱状隔垫物,其中,柱状隔垫物因为能很好地控制分布密度,从而能有效地保证液晶盒厚的均一性,成为现有普遍采用的方法。现有技术中测量隔垫物高度采用的方法,测量不够准确,影响了液晶显示器的质量。
技术实现思路
针对现有技术中存在的不足,本技术提供了一种检测隔垫物高度的装置,可以准确地测量出液晶显示器基板(包括彩膜基板和阵列基板)上的隔垫物高度,提高了液晶显示器的质量。对实现上述技术方案,本本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种检测隔垫物高度的装置,用于检测液晶显示器基板上的隔垫物高度,其特征在于,该装置包括:光源、光线接收装置及检测装置,所述光源发出光线照射到所述隔垫物及所述隔垫物所在的基板上;所述光线接收装置接收由所述隔垫物及所述基板表面反射的光线;所述检测装置与所述光线接收装置相连接,所述检测装置接收所述光线接收装置发送的由所述隔垫物及所述基板表面反射的光线,根据所述反射光线的相位计算得到所述隔垫物的高度。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员:张浪
申请(专利权)人:北京京东方光电科技有限公司
类型:实用新型
国别省市:

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