包括光学被分析物传感器和光学读取器的过滤系统技术方案

本发明专利技术涉及一种过滤系统，其包括壳体、设置在所述壳体内的过滤介质以及也设置在所述壳体内与所述过滤介质流体连通的光学被分析物传感器。所述光学被分析物传感器包括检测介质，所述检测介质响应于被分析物而改变其至少一个光学特性。所述过滤系统还包括光学读取器，其具有至少一个光源和至少一个检测器。所述光学读取器附接至所述壳体，使得至少一个光源所发射的光的至少一部分从所述光学被分析物传感器反射，并被至少一个检测器捕获。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及过滤系统，其包括过滤介质、与所述过滤介质流体连通设置的光学被分析物传感器、以及被构造并设置为询问所述光学被分析物传感器的光学读取器。
技术介绍
过滤系统通常用在存在蒸气和其他危 害性空中物质的情况下。示例性过滤系统包括集体防护系统、一次性个人呼吸器、可重复使用的个人呼吸器、带动力空气净化呼吸器、危险品紧急处理防护服以及其他防护装置。已提出各种化学、光学或电子指示器以用于警告防护装置的使用者存在不期望的材料。例如，使用寿命终止指示器(“ESLI”)可警告此类装置中的过滤元件可能接近饱和或可能对特定材料无效。检测化学被分析物(尤其是有机化学被分析物)的能力在许多应用(包括环境监测等等)中是重要的。已开发出用于检测化学被分析物的一些装置，例如光学装置、重量分析装置、微电子装置、机械装置和比色装置。
技术实现思路
本专利技术涉及一种过滤系统，其包括壳体和设置在所述壳体内的过滤介质。所述过滤系统还包括光学被分析物传感器，其设置在所述壳体内，使得所述检测介质与所述过滤介质流体连通。所述光学被分析物传感器包括检测介质，所述检测介质响应于被分析物而改变其至少一个光学特性。所述过滤系统还包本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2010.04.02 US 61/320,4271.一种过滤系统，包括 壳体，其具有可移除壳体部分； 过滤介质，其设置在所述壳体内； 光学被分析物传感器，其包括检测介质，所述检测介质响应于被分析物而改变其至少一个光学特性，所述光学被分析物传感器设置在所述壳体内，使得所述检测介质与所述过滤介质流体连通；以及 光学读取器，其包括至少一个光源和至少一个检测器，所述光学读取器附接至所述可移除壳体部分，使得当所述可移除壳体部分附接至所述壳体时，所述至少一个光源所发射的光的至少一部分从所述光学被分析物传感器反射，并被所述至少一个检测器捕获。2.根据权利要求I所述的过滤系统，其中所述可移除壳体部分包括卡圈。3.根据权利要求I所述的过滤系统，其中所述可移除壳体部分包括上盖。4.根据权利要求I所述的过滤系统，其中所述可移除壳体部分通过一个或多个弹性按扣配合特征结构可移除地附接至所述壳体。5.根据权利要求I所述的过滤系统，其中所述光学读取器设置在所述可移除壳体部分和所述光学被分析物传感器之间，并且其中所述可移除壳体部分包括设置在所述光学读取器上方的至少一个开口。6.根据权利要求5所述的过滤系统，其中所述光学读取器包括通过所述开口可见的视觉指示器。7.根据权利要求I所述的过滤系统，其中所述光学读取器包括致动器。8.根据权利要求I所述的过滤系统，其中所述光学读取器可移除地附接至所述可移除壳体部分。9.根据权利要求8所述的过滤系统，其中所述光学读取器和所述可移除壳体部分中的至少一个包括至少一个配准特征结构结构。10.根据权利要求8所述的过滤系统，其中所述光学读取器和所述可移除壳体部分各包括配准特征结构结构。11.根据权利要求10所述的过滤系统，其中所述光学读取器包括狭槽，所述可移除壳体部分包括肋。12.一种过...

【专利技术属性】
技术研发人员：加里·E·德怀尔，托马斯·W·霍姆奎斯特布朗，基兰·S·卡努库尔蒂，尼尔·A·拉科，
申请(专利权)人：三M创新有限公司，
类型：
国别省市：