用于被分析物传感器光学读出器的对准配准特征结构制造技术

一种用于询问光学被分析物传感器的光学读出器，所述光学读出器包括壳体，所述壳体的内部包括：至少一个光源、检测器以及可编程逻辑装置。所述壳体具有配准特征结构，所述配准特征结构被配置成使所述光学读出器对准光学被分析物传感器。本发明专利技术还公开了用于确认此类光学读出器是否对准的方法。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及用于读出光学被分析物传感器的光学读出器。具体地讲，本专利技术涉及包括壳体的光学读出器，该壳体具有配准特征结构，配准特征结构被配置成使光学读出器对准光学被分析物传感器。
技术介绍
过滤器系统通常在存在蒸气和其他经空气传播的有害物质的情况下使用。示例性过滤器系统包括集体防护系统、一次性个人呼吸器、可重复使用的个人呼吸器、动力式空气净化呼吸器、危害物质隔离服以及其他防护装置。已提出各种化学、光学或电子指示器，以用于就存在废弃材料的情况警告防护装置的用户。例如，使用寿命终止指示器(“ESLI”)可以就此类装置中的过滤元件可能接近饱 和或者可能对特定材料无效的情况进行警告。检测化学被分析物(尤其是有机化学被分析物)的能力在许多应用(包括环境监测等)中是重要的。已开发出用于检测化学被分析物的一些装置，例如，光学装置、重量测定装置、微电子装置、机械装置以及比色装置。
技术实现思路
在一个实施方式中，本专利技术涉及一种用于询问光学被分析物传感器的光学读出器，所述光学读出器包括壳体，所述壳体的内部包括通过第一光谱范围来表征的第一光源、通过第二光谱范围来表征的第二光源、检测器、以及可编程逻辑本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2010.04.02 US 61/320,4331.一种用于询问光学被分析物传感器的光学读出器，包括 壳体，所述壳体的内部包括 第一光源，其特征为第一光谱范围； 第二光源，其特征为第二光谱范围； 检测器；以及 可编程逻辑装置； 其中所述壳体包括配准特征结构，所述配准特征结构被配置成使所述光学读出器对准所述光学被分析物传感器。2.根据权利要求I所述的光学读出器，还包括设置在所述壳体中的印刷电路板，其中所述第一光源、所述第二光源、所述检测器以及所述可编程逻辑装置安装在所述印刷电路板上。3.根据权利要求I所述的光学读出器，还包括警报装置。4.根据权利要求3所述的光学读出器，其中所述警报装置能够提供可视和可听指示中的至少一种指示。5.根据权利要求I所述的光学读出器，还包括致动器。6.根据权利要求I所述的光学读出器，还包括无线接口。7.根据权利要求6所述的光学读出器，其中所述无线接口能够与远程装置连接。8.根据权利要求7所述的光学读出器，其中所述远程装置是数据库。9.根据权利要求I所述的光学读出器，其中所述配准特征结构包括槽。10.根据权利要求I所述的光学读出器，其中所述壳体包括对可见光谱的光透明的部分。11.根据权利要求I所述的光学读出器，还包括第三光源，其特征为第三光谱范围。12.根据权利要求I所述的光学读出器，还包括第二检测器。13.根据权利要求I所述的光学读出器，其中所述检测器设置在所述第一光源和...

【专利技术属性】
技术研发人员：基兰·S·卡努库尔蒂，尼尔·A·拉科，
申请(专利权)人：三M创新有限公司，
类型：
国别省市：