【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及厚度测量工具，尤其涉及低硬度物体厚度测量工具。
技术介绍
厚度测量按照测量方式可分为直接测量法、间接测量法；间接测量法中常用的有超声波测量法，超声波是利用声音在材料中的传播并反射回来的时间来计算材料的厚度，这种测量方法不适用于多种材料分层排列的物体的厚度测量。厚度测量按照接触方式一般分为两种一种为接触式厚度测量仪、一种为非接触式厚度测量仪；对于非接触式厚度测量仪主要存在对于表面粗糙程度大的物品测量时不准确的问题，且存在仪器设备较为复杂的问题。一般，接触式厚度测量仪在测量厚度时如果需要夹持都会导致被夹持部位的形 变，硬度越大这种形变就越小，反之硬度越小这种形变就越大；我们在对柔软的物体进行厚度测量时如果需要进行夹持时，我们分多人测量就会发现每个人的测量结果各不相同，这是因为每个人在对夹持状况的判定各不相同；同一人在不同的时间测量的结果也有可能不同。现在的接触式测量工具主要用于对刚性规则物体的厚度测量，对于柔性非规则物体的测量工具较少，已有的对低硬度非规则物体的测量工具大都存在操作步骤繁琐，测量准确性不高，人为因素较多等问题。对于很多行业都希望在不破坏...
【技术保护点】
低硬度物体厚度测量工具，其特征在于：它包括测量平台（1）、基座（2）和厚度测量仪（3）；所述测量平台（1）上表面固设有基座（2），测量平台（1）上表面还设有基准探头（11），所述基座（2）上表面垂设有滑轨（21），所述厚度测量仪（3）滑配合设置于滑轨（21）上。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：任磊，
申请(专利权)人：深圳汇洁集团股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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