光学测量装置制造方法及图纸

一种光学测量装置，用于测量透明基板，包括：固定所述透明基板的固定器件，所述固定器件与所述透明基板的待测表面相接触；对所述待测表面进行成像，形成待测表面像的成像器件；位于所述待测表面像的像面位置处，通过探测所述待测表面像获得缺陷信息的探测器件。本实用新型专利技术的光学测量装置结构比较简单。（*该技术在2022年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及光学仪器
，尤其涉及一种光学测量装置。
技术介绍
玻璃具有透明、强度高、不透气的特点，在日常环境中呈化学惰性，也不会与生物起作用，因此用途非常广泛。常见的玻璃包括汽车玻璃、平板玻璃、保温玻璃等。在玻璃制造过程中，难免会在玻璃内部或玻璃表面形成诸如划伤、污点、颗粒等的缺陷。如何能检查出玻璃内部或玻璃表面的上述缺陷成为本领域技术人员亟待解决的问题之一 O在现有技术的测量装置中，由于具有缺陷的待测面可以位于玻璃表面也可以位于玻璃内部，通常采用自动光学测量系统(Automatic Optical Inspection, AOI)对不同的待测面进行聚焦，以检测玻璃表面或玻璃内部所有的缺陷。此外，即使是对玻璃表面进行测量，由于各种玻璃的厚度的不同，对各种玻璃进行光学测量时，也需要AOI系统对玻璃的待测表面进行聚焦。但是，所述AOI系统价格较高，因此采用AOI系统的光学测量装置成本较高。同时，也会增加对测量装置操作的复杂程度。更多关于测量玻璃缺陷的光学测量装置的技术方案可参考公告号为CN101652625B的中国专利，所述中国专利公开的技术方案也未能解决上述技术问题。
技术实现思路
本技术解决的技术问题是提供一种结构较为简单的光学测量装置为了解决上述问题，本技术提供一种光学测量装置，用于测量透明基板，包括固定所述透明基板的固定器件，所述固定器件与所述透明基板的待测表面相接触；对所述待测表面进行成像，形成待测表面像的成像器件；位于所述待测表面像的像面位置处，通过探测所述待测表面像获得缺陷信息的探测器件。可选地，所述固定器件为支撑式固定器件，所述透明基板位于所述支撑式固定器件的上方，所述透明基板的待测表面与所述支撑式固定器件的上表面相接触。可选地，所述成像器件位于支撑式固定器件上方，所述探测器件位于所述成像器件的上方。 可选地，所述支撑式固定器件为基台。可选地，所述固定器件为悬挂式固定器件，所述透明基板的待测表面与所述悬挂式固定器件的底部相接触。可选地，所述固定器件包括固定于透明基板上表面边缘位置处的两个悬挂式固定器件，所述透明基板位于所述两个悬挂式固定器件的下方，所述透明基板的待测表面与所述两个悬挂式固定器件的底部相接触。可选地，所述成像器件位于透明基板下方，所述探测器件位于所述成像器件的下方。可选地，所述成像器件位于透明基板上方，所述探测器件位于所述成像器件的上方。可选地，所述悬挂式固定器件包括固定部、连接部、吸盘，所述固定部通过连接部与吸盘连接在一起，所述吸盘与所述透明基板上表面的边缘位置处相接触。可选地，所述悬挂式固定器件包括固定部、连接部、夹持部，所述固定部通过连接部与夹持部的顶面连接在一起，透明基板的端部嵌入至所述夹持部内，与夹持部紧密接触，以实现固定。可选地，所述成像器件为凸透镜。可选地，所述探测器件为图像传感器。可选地，所述探测器件为CMOS图像传感器或CXD图像传感器。可选地，所述成像器件和所述探测器件集成在一起。可选地，所述光学测量装置还包括照明器件，用于照亮所述待测表面。可选地，所述照明器件包括至少一个光源，所述光源发出的光掠入射至待测表面。可选地，所述照明器件包括位于透明基板任意一侧的光源。可选地，所述照明器件包括分别位于透明基板相对侧的两个光源。可选地，所述固定器件为基台，所述两个光源装配于基台侧面，所述两个光源的发光面朝向基台。可选地，所述光源为线性灯或线性激光。可选地，所述光源发出的光入射至待测表面的入射角在80 90°的范围内。可选地，所述光学测量装置还包括扫描器件，所述扫描器件与成像器件和探测器件固定在一起，所述扫描器件能沿与待测表面平行的平面移动，以带动所述成像器件和所述探测器件移动，获取待测表面不同位置处的缺陷信息。可选地，所述透明基板为玻璃。与现有技术相比，本技术具有以下优点I.固定器件和透明基板的待测表面相接触，由于固定器件的位置不变，相应地，所述待测表面的位置不变，因此所述待测表面与成像器件之间的距离是固定的，也就是说，对成像器件而言物距不变，那么相应地，成像系统成像时像距也不变，所述探测器件与所述成像器件之前的距离固定，因此光学测量装置中的各个器件的位置无需改变，无需采用自动光学测量系统，结构较为简单，成本较低，也便于操作。2.可选方案中，所述光学测量装置采用基台作为支撑式固定器件，所述基台与所述透明基板有较大的接触表面，可以提高透明基板固定的牢固性。3.可选方案中，所述光学测量装置设置有位于透明基板上表面边缘位置处的两个悬挂式固定器件，由于所述悬挂式固定器件不会挡光，所述成像器件和所述探测器件既可以位于透明基板的上方，也可以位于透明基板的下方，具有较高的灵活性。4.可选方案中，所述光学测量装置设置有照明器件，以照亮待测表面，从而使待测表面的缺陷由于光的散射而在待测表面像上形成比缺陷尺寸大的亮点，通过对所述较大的亮点进行检测，可以获得较为精确的缺陷信息。5.可选方案中，所述光学测量装置还设置有与成像器件和探测器件固定在一起的扫描器件，所述扫描器件通过移动带动所述成像器件和图像器件沿与待测表面平行的平面移动，对透明基板不同位置处进行光学检测，以获得大尺寸透明基板的缺陷信息。附图说明图I是本技术光学测量装置第一实施例的示意图；图2是本技术光学测量装置第二实施例的示意图；图3是本技术光学测量装置第三实施例的示意图；图4是本技术光学测量装置第四实施例的示意图；图5是本技术光学测量装置第五实施例的示意图。具体实施方式在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本技术。但是本技术能够以很多不同于在此描述的其它方式来实施，本领域技术人员可以在不违背本技术内涵的情况下做类似推广，因此本技术不受下面公开的具体实施的限制。其次，本技术利用示意图进行详细描述，在详述本技术实施例时，为便于说明，所述示意图只是实例，其在此不应限制本技术保护的范围。为了解决现有技术的问题，本技术提供一种光学测量装置，用于测量透明基板，所述光学测量装置包括固定所述透明基板的固定器件，所述固定器件与所述透明基板的待测表面相接触；对所述待测表面进行成像，形成待测表面像的成像器件；位于所述待测表面像的像面位置处，通过探测所述待测表面像获得缺陷信息的探测器件。本技术中，所述固定器件与所述透明基板的待测表面相接触。由于固定器件的位置不变，相应地，所述待测表面的位置不变，因此所述待测表面与成像器件之间的距离是固定的。也就是说，对成像器件而言物距不变，那么相应地，像距也不变，所述探测器件与所述成像器件之间的距离固定。由此可见，本技术各个器件的位置无需改变，无需采用自动光学测量系统即可实现透明基板表面缺陷信息的测量，结构较为简单。下面结合具体实施例对本技术的技术方案做进一步说明。参考图1，示出了本技术光学测量装置第一实施例的示意图。本实施例中，所述固定器件为支撑式固定器件，具体地，支撑式固定器件为基台，但是本技术对此不做限制。所述光学测量装置，包括基台100、透明基板101、成像器件102、探测器件103，其中，基台100通过承载所述透明基板101的方式实现对所述透明基板101的固定。基台100与所述透明基板101本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光学测量装置，用于测量透明基板，其特征在于，包括：固定所述透明基板的固定器件，所述固定器件与所述透明基板的待测表面相接触；对所述待测表面进行成像，形成待测表面像的成像器件；位于所述待测表面像的像面位置处，通过探测所述待测表面像获得缺陷信息的探测器件。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：陈大志，郑媛，孙晓伟，史伟杰，
申请(专利权)人：法国圣戈班玻璃公司，
类型：实用新型
国别省市：