用于X射线荧光光谱分析的铁合金校准样品的制备方法技术

技术编号:8078049 阅读:196 留言:0更新日期:2012-12-13 20:00
本发明专利技术公开了一种用于X射线荧光光谱分析的铁合金校准样品的制备方法,其先用按合金配比称取高纯金属和/或基准试剂,再将高纯金属和/或基准试剂用熔剂溶解成溶液,然后定量转移至铂黄坩埚中,与硼酸锂、氧化剂和脱模剂混合后熔融,冷却即得铁合金校准样品玻璃熔片。本方法采用有相似元素组成和含量范围的基准或标准物质复配待测铁合金的校准样品,解决了待测铁合金无标准样品或标准样品不足的问题。采用本方法得到的校准样品玻璃熔片用于X射线荧光光谱分析,结果准确可靠,拓展了X射线荧光光谱分析法的应用范围。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种分析用校准样品的制备方法,尤其是一种用于X射线荧光光谱分析的铁合金校准样品的制备方法
技术介绍
在现代仪器分析法,尤其是X射线荧光光谱分析法中,分析方法的建立需依赖大量的标准物质。铁合金作为黑色冶金行业重要的辅料之一,一般用于炼钢脱氧和合金化。根据品种,一般分为两类,一是常规铁合金,例如硅铁、锰铁、硅锰、钛铁、钒铁等,有较长的使用历史,一般都有大量的标准样品;二是新型或小品种铁合金,例如铝锰钙铁、铝镁钙铁、磷铁、硅钙等,一般是新研发或小品种铁合金,一般没有或只有少量标准样品。因此,对于没有或只有少量标准样品铁合金的应用就受到了限制。
技术实现思路
本专利技术要解决的技术问题是提供一种用于X射线荧光光谱分析的铁合金校准样品的制备方法,以应用于无标准样品或标准样品不足铁合金的分析、检测。为解决上述技术问题,本专利技术所采取的技术方案是先用按合金配比称取高纯金属和/或基准试剂,再将高纯金属和/或基准试剂用熔剂溶解成溶液,然后定量转移至钼黄坩埚中,与硼酸锂、氧化剂和脱模剂混合后熔融,冷却即得铁合金校准样品玻璃熔片。本专利技术所述的熔剂是指硝酸溶液,氧化剂是指碳酸锂或过氧化钡本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于X射线荧光光谱分析的铁合金校准样品的制备方法,其包括,其特征在于:先用按合金配比称取高纯金属和/或基准试剂,再将高纯金属和/或基准试剂用熔剂溶解成溶液,然后定量转移至铂黄坩埚中,与硼酸锂、氧化剂和脱模剂混合后熔融,冷却即得铁合金校准样品玻璃熔片。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:王彬果李兰群赵靖徐静商英白淑霞张建中闫文喜李帆马永昌
申请(专利权)人:河北钢铁股份有限公司邯郸分公司
类型:发明
国别省市:

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