具有照明光源之缺陷检测系统技术方案

一种具有照明光源之缺陷检测系统，包含有第一与第二取像装置，可分别自不同的方向取得待测物影像，照明光源装置安装于第一取像装置之邻近处而发射照明光束，第一光学镜片设置于照明光束的光路上，照明光束照射于第一光学镜片后将部分反射，使第一取像装置得以取得待测物的影像，照明光束会部分穿透第一光学镜片，而照射于第二光学镜片，第二光学镜片将反射照明光束于待测物并穿透之，让安装于待测物另一侧的第二取像装置取得待测物的影像。（*该技术在2022年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种光学校准装置，特别是一种取得不同方向之待测物影像的具有照明光源之缺陷检测系统。
技术介绍
机器视觉(Machine Vision)是结合机械的物理运动控制与计算机影像辨识的综合技术，应用层面广泛。一般比较常见的是在半导体产业的应用，例如对各类芯片、集成电路等电子组件、印刷电路板，或是LCD屏幕等，进行表面刮伤、瑕疵、异物等各式缺陷检测。当料件(或称待测物)经由传输带进入检测设备后，藉由摄影机取得料件影像，再透过计算机设备的图学运算，进行比对量测，找出具有缺陷的料件而警示，以上就是机器视觉检测设备的基本流程。·然而料件的缺陷种类有很多种，除了前面提到的种类之外，还有凹凸、压痕、波纹等等，虽然藉由光源的照射能够取得影像，但一般检测设备所取得的影像大多从料件的正上方拍摄，聚焦于待测物之顶侧或称第一侧而进行检测。但是，待测物的背侧或称第二侧，也存在有上述缺陷。传统的作法是装配另一套检测仪器针对第二侧进行检测，但是如此一来必须挪出空间加以安置，而造成设计上的困难与整体体积上的增加，以及成本上的负担与维护作业的不便。
技术实现思路
本技术之目的在于提供一种具有照明光源之缺陷检测系统，利用单一光源，就可以同时对待测物进行不同方向的照明，以取得待测物两侧的影像，如此检测作业更加全面而降低误判的比率，产品的良率也随之提升。本技术公开了一种具有照明光源之缺陷检测系统，其特征在于包括—第一取像装置，设置于所述待测物之第一侧，用以撷取所述待测物之影像；一第二取像装置，设置于所述待测物之第二侧，相对于所述第一侧，用以撷取所述待测物之影像；一照明光源装置，位于所述待测物之所述第一侧，邻设于所述第一取像装置，可产生一照明光束；—第一光学镜片，位于所述待测物之所述第一侧，设置于所述照明光束之光路上；以及一第二光学镜片，位于所述待测物之所述第一侧；其中，所述照明光束发射至所述第一光学镜片后，将部分反射所述照明光束而产生一第一照明反射光束，而照射于所述待测物之所述第一侧的表面，所述第一取像装置利用所述第一照明反射光束，而取得所述待测物之所述第一侧的影像；所述照明光束发射至所述第一光学镜片后，将部分穿透所述第一光学镜片，再照射于所述第二光学镜片，而所述第二光学镜片可反射所述照明光束而产生一第二照明反射光束，照射于所述待测物并自所述第二侧穿透射出，所述第二取像装置利用所述第二照明反射光束，取得所述待测物之第二侧的影像。根据本技术所揭露之具有照明光源之缺陷检测系统，包括有第一取像装置与第二取像装置，可分别取得待测物不同方向的影像，照明光源装置邻设于第一取像装置，产生照明光束，第一光学镜片设置于照明光束的光路上，第二光学镜片设置于第一光学镜片的附近。当照明光束发射至第一光学镜片后，将部分反射照明光束而产生第一照明反射光束而照射于待测物的第一侧，此时第一取像装置就可以利用第一照明反射光束而取得待测物的影像。此外，当照明光束发射至第一光学镜片后，也会部分穿透第一光学镜片，而照射于第二光学镜片，而第二光学镜片会反射照明光束，产生第二照明反射光束穿透待测物。如此，安装于待测物之第二侧的第二取像装置，就可以利用第二照明反射光束，取得待测物另一个方向的影像。为了让本技术的上述和其它目的、特征、和优点能更明显易懂，因此将在具体 详细说明本技术之
技术实现思路
。附图说明图I为本技术之较佳实施例的照明光束之光路前进示意图。图2为本技术之较佳实施例的照明光束另一个光路前进示意图。附图标号10待测物11 第一侧12 第二侧20照明光源装置30第一取像装置31第一镜头40第二取像装置41第二镜头50第一光学镜片60第二光学镜片100照明光束110第一照明反射光束120第二照明反射光束具体实施方式请参考图1，本技术所揭露之具有照明光源之缺陷检测系统包含有多个组件，主要设置于待测物10之第一侧11，包含有照明光源装置20、第一取像装置30，第一光学镜片50以及第二光学镜片60。第一取像装置30装配于待测物10之正上方，前侧具有第一镜头31，以过滤校正所拍摄的待测物影像。第二取像装置40设置于待测物10之第二侧12而对待测物10进行取像拍摄，取得待测物之不同方向的影像。如同第一取像装置30，第二取像装置40之前侧也具有对应的第二镜头41。照明光源装置20产生照明光束100，而照明光束100的前进方向，概略与待测物10之第一侧11的表面平行。当照明光束100抵达第一光学镜片50之时，第一光学镜片50将部分反射照明光束100而产生第一照明反射光束110，照射于待测物10第一侧11的表面并反射后，将穿透第一光学镜片50而射向第一取像装置30的方向，而第一照明反射光束110的前进方向，约与待测物10的第一侧11的表面垂直。此时，第一取像装置30即可利用此第一照明反射光束110，取得待测物10第一侧11的影像。第一光学镜片50较佳者，可选用半穿半反光学透镜片，此半穿半反光学透镜片可反射光束或让光束穿透，反射率大约在40% 60%之间。续请配合参考图2，照明光源装置20所发射的照明光束100抵达第一光学镜片50时，也会部分穿透第一光学镜片50,而照射于第二光学镜片60。第二光学镜片60将反射照明光束100而产生第二照明反射光束120，并与待测物10之第二侧12之表面垂直。此第二照明反射光束120随即穿透待测物10，并自待测物10之第二侧12朝外射出。第二取像装 置40即可利用第二照明反射光束120，而取得待测物10第二侧12的影像。关于第二光学镜片60之材质,较佳者可选用光学全反光镜。于此补充说明第一光学镜片50以及第二光学镜片60的空间位置,第一光学镜片50之镜面，与待测物10之第一侧11构成一个第一夹角(图中未示)，约为45度。相同地，第二光学镜片60之镜面也与待测物10之第一侧11构成约45度的第二夹角(图中未示)。以上所述，仅为本技术的具体实施方式，但本技术的保护范围并不局限于此，任何本
的技术人员在本技术揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本技术的保护范围之内。因此本技术的保护范围应以权利要求的保护范围为准。权利要求1.一种具有照明光源之缺陷检测系统，其特征在于包括 一第一取像装置，设置于所述待测物之第一侧，用以撷取所述待测物之影像； 一第二取像装置，设置于所述待测物之第二侧，相对于所述第一侧，用以撷取所述待测物之影像； 一照明光源装置，位于所述待测物之所述第一侧，邻设于所述第一取像装置，可产生一照明光束； 一第一光学镜片，位于所述待测物之所述第一侧，设置于所述照明光束之光路上；以及 一第二光学镜片，位于所述待测物之所述第一侧； 其中，所述照明光束发射至所述第一光学镜片后，将部分反射所述照明光束而产生一第一照明反射光束，而照射于所述待测物之所述第一侧的表面，所述第一取像装置利用所述第一照明反射光束，而取得所述待测物之所述第一侧的影像；所述照明光束发射至所述第一光学镜片后，将部分穿透所述第一光学镜片，再照射于所述第二光学镜片，而所述第二光学镜片可反射所述照明光束而产生一第二照明反射光束，照射于所述待测物并自所述第二侧穿透射出，所述第二取像装置利用所述第二照明反射光束，本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种具有照明光源之缺陷检测系统，其特征在于包括：一第一取像装置，设置于所述待测物之第一侧，用以撷取所述待测物之影像；一第二取像装置，设置于所述待测物之第二侧，相对于所述第一侧，用以撷取所述待测物之影像；一照明光源装置，位于所述待测物之所述第一侧，邻设于所述第一取像装置，可产生一照明光束；一第一光学镜片，位于所述待测物之所述第一侧，设置于所述照明光束之光路上；以及一第二光学镜片，位于所述待测物之所述第一侧；其中，所述照明光束发射至所述第一光学镜片后，将部分反射所述照明光束而产生一第一照明反射光束，而照射于所述待测物之所述第一侧的表面，所述第一取像装置利用所述第一照明反射光束，而取得所述待测物之所述第一侧的影像；所述照明光束发射至所述第一光学镜片后，将部分穿透所述第一光学镜片，再照射于所述第二光学镜片，而所述第二光学镜片可反射所述照明光束而产生一第二照明反射光束，照射于所述待测物并自所述第二侧穿透射出，所述第二取像装置利用所述第二照明反射光束，取得所述待测物之第二侧的影像。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：张子斌，方志恒，
申请(专利权)人：由田信息技术上海有限公司，
类型：实用新型
国别省市：