辐射探测器用信号读出条制造技术

技术编号:7987075 阅读:202 留言:0更新日期:2012-11-17 02:49
本实用新型专利技术公开了一种辐射探测器用信号读出条,涉及核探测系统领域。它包括基板、铜箔和聚酯薄膜,所述铜箔设置于基板上,所述聚酯膜设置于铜箔上。本实用新型专利技术克服了现有技术中效率低,不易于大面积使用的不足,结构简单且实用,适用于多种探测器使用。(*该技术在2021年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及核探测系统领域,更具体的说涉及一种辐射探测器用信号读出条
技术介绍
核辐射探测器,是探测辐射射线用的器件,这类探测元件可以测量辐射射线和它们的性质。其原理主要是利用射线与物质相互作用时所产生的多种效应。如应用带电粒子与物质作用产生电离的原理制作的电离室、计数管,以及a径迹探测器等;利用其荧光作用做成的闪烁计数器;利用电离和激发所引起的化学反应过程制作原子核乳胶,固体核径迹探测器等。对带电离子可直接应用上述性质,对不带电的粒子(如Y射线),则应用其与物质作用的三种效应(光电效应、康普顿-吴有训效应、电子对效应)所产生的二次电子来达到上述目的。辐射探测器用信号读出条是其重要的元件,现有的辐射探测器用信号读出 条效率低,不易于大面积使用。
技术实现思路
为克服现有技术中的辐射探测器用信号读出条的效率低,不易于大面积使用等不足,本技术提供了一种适用于大面积的辐射探测器用信号读出条,它包括基板、铜箔和聚酯薄膜,所述铜箔设置于基板上,所述聚酯膜设置于铜箔上;根据本技术的一个实施例所述,所述基板(I)的厚度为0. 25mm,铜箔(2)的厚度为0. 035mm,聚酯薄膜(3)的厚度为0. 1mm。与现有技术相比,本技术所述的辐射探测器用信号读出条的有益效果在于,以0. 25mm厚的GlO环氧绝缘板做为基板,其绝缘强度可达5000V以上,电阻值为IO4Q,其绝缘性能可以抵抗高压电流击穿,其0. 25mm超薄厚度又可以使电磁信号顺利传导;以0. 035铜箔覆于基板上,通过刻蚀形成各种探测器所要求的不同形状、规格,以便于信号输出;上层覆0. Imm聚酯薄膜既保护读出系统又能保证信号的穿透传输。附图说明图I是本技术所述的辐射探测器用信号读出条的结构示意图。具体实施方式以下结合附图对本技术进行详细说明。图I是本技术的结构示意图。如图I所示,本技术包括基板、铜箔和聚酯薄膜,所述铜箔设置于基板上,所述聚酯膜设置于铜箔上;所述基板(I)的厚度为0. 25mm,铜箔(2)的厚度为0. 035mm,聚酯薄膜(3)的厚度为0. 1mm。以0. 25mm厚的GlO环氧绝缘板做为基板,其绝缘强度可达5000v以上,电阻值为IO4Q,其绝缘性能可以抵抗高压电流击穿,其0. 25mm超薄厚度又可以使电磁信号顺利传导;以0. 035铜箔覆于基板上,通过刻蚀形成各种探测器所要求的不同形状、规格,以便于信号输出;上层覆0. Imm聚酯薄膜既保护读出系统又能保证信号的穿透传输。上面所述的实施例仅仅是对本技术的优选实施方式进行描述,并非对本技术的范围进行限定,在不脱离本技术设计精神前提下,本领域普通工程技术人员对 本技术技术方案做出的各种变形和改进,均应落入本技术的权利要求书确定的保护范围内。权利要求1.一种辐射探测器用信号读出条,其特征在于,它包括基板(I)、铜箔(2)和聚酯薄膜(3),所述铜箔设置于基板上,所述聚酯膜设置于铜箔上。2.根据权利要求I所述的一种辐射探测器用信号读出条,其特征在于,所述基板(I)的厚度为O. 25mm,铜箔(2)的厚度为O. 035mm,聚酯薄膜(3)的厚度为O. 1mm。专利摘要本技术公开了一种辐射探测器用信号读出条,涉及核探测系统领域。它包括基板、铜箔和聚酯薄膜,所述铜箔设置于基板上,所述聚酯膜设置于铜箔上。本技术克服了现有技术中效率低,不易于大面积使用的不足,结构简单且实用,适用于多种探测器使用。文档编号G01T1/00GK202533586SQ20112044838公开日2012年11月14日 申请日期2011年11月14日 优先权日2011年11月14日专利技术者王万祥, 赵涛 申请人:北京高能科迪科技有限公司本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种辐射探测器用信号读出条,其特征在于,它包括:基板(1)、铜箔(2)和聚酯薄膜(3),所述铜箔设置于基板上,所述聚酯膜设置于铜箔上。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:王万祥赵涛
申请(专利权)人:北京高能科迪科技有限公司
类型:实用新型
国别省市:

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