具有用于将信号光映射到探测器上的衍射光学元件的光学系统技术方案

本发明专利技术涉及光学系统，具体地，所述光学系统能够实现对从光源（１）通过平玻璃衬底（１１）传播的信号光的改进探测。通过第一衍射光学元件ＤＯＥ（２１）将这一信号光中通常会在所述衬底（１１）的所述背面（１０）处受到全内反射的ＳＣ模式耦合出来。为了将离开所述衬底（１１）的所有信号光映射到单个目标位置（５１）上，将聚焦透镜（３１）和第二ＤＯＥ（４１）设置在处于所述衬底（１１）后面的光路内。例如，所述ＤＯＥ（２１，４１）可以是１Ｄ正弦光栅或２Ｄ闪耀光栅。具体地，可以将所述光学系统应用到用于探测荧光样本材料的多点的检验设备中。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及用于将信号光从至少一个光源映射(mapping)到目标 位置上的光学系统和方法。
技术介绍
在WO02/059583A1中给出了对来自发光样本的信号光通过玻 璃衬底的传播的详细分析。所述分析表明，其强度的大部分包含在 所谓的"SC模式"中，根据定义，所述"SC模式"包括在全内反 射角下抵达玻璃衬底的背面(即，与样本相反的一侧)的信号光。 因此，从探测目的来讲，SC模式的信号光通常会受到损耗。为了防 止这一损耗，在WO02/059583A1中建议在玻璃衬底的背面设置衍射 光学元件，其通过衍射将SC模式的光从玻璃衬底中耦合出来。但是， 这一方案的问题在于离开玻璃衬底的信号光分布在一个大角度范围 上，探测器必须覆盖这一大角度范围才能收集所有可用的信号光。 此外，从不同光源发出的信号光混合，因此不能通过探测器对所述 光进行空间分离。
技术实现思路
基于这一情况，本专利技术的目的在于提供用于对信号光进行改进 的处理，尤其是空间分解处理的装置。这一目的是通过根据权利要求1所述的光学系统和根据权利要 求11所述的方法实现的。在从属权利要求中公开了优选实施例。根据其第一方面，本专利技术包本文档来自技高网...

【技术保护点】
用于将来自至少一个光源（１）的信号光映射到目标位置（５１）上的具有成像单元（３１）的光学系统，其包括：ａ）至少一个第一衍射光学元件ＤＯＥ（２１），其相对于所述信号光的光路位于所述成像单元（３１）的前面；ｂ）至少一个第二衍射光学元件ＤＯＥ（４１），其相对于所述信号光的光路位于所述成像单元（３１）的后面。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：M巴利斯特雷里，DJW克隆德，M范赫佩恩，
申请(专利权)人：皇家飞利浦电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：NL[荷兰]