一种测量介电常数的设备制造技术

本发明专利技术实施例提供了一种测量介电常数的设备，该设备包括顶部开口以放置被测介质的腔体和位于该腔体内部的用于发射电磁波的同轴线，腔体的底部的长度大于0.5倍波长，且腔体的顶部的长度小于0.1倍波长，该波长为同轴线发射的电磁波的波长，腔体的底部的宽度和顶部的宽度小于腔体的底部的长度，使得在腔体的出口处形成倏逝波，并利用不同介电常数的被测材料对倏逝波的电场分量的影响，通过测量腔体内电磁波的变化，反推出被测材料各个方向的介电常数，从而对各向异性的材料的不同方向的介电常数都有准确的测量。

【技术实现步骤摘要】
一种测量介电常数的设备
本专利技术涉及一种测量介电常数的设备，特别是涉及一种测量各向异性材料介电常数的设备。
技术介绍
材料介电常数是表征电介质或绝缘材料电性能的一个重要数据，常用e表示。它是指在同一电容器中用同一物质为电介质和真空时的电容的比值，表示电介质在电场中贮存静电能的相对能力。介电常数具有复数形式，实数部分称为介电常数，虚数部分称为损耗因子，通常用损耗正切值(损耗因子与介电常数之比)来表示材料与微波的耦合能力，损耗正切值越大，材料与微波的耦合能力就越强。 测量材料的介电常数的方法和设备很多，但是都只能测量各向同性材料的介电常数，不能测量各向异性的材料的介电常数。也即，现有技术中的测量材料的介电常数的方法和设备大多只能测量各个方向上介电常数均相同的材料的介电常数，而不能实现对各个方向上介电常数不相同的材料的介电常数进行测量。现有技术中提供的设备测量只能测量各向同性的材料的介电常数，而各向异性的材料的介电常数的测量是个难题，现有技术不能测量各向异性的材料的介电常数。
技术实现思路
本专利技术实施例提供一种测量介电常数的设备，解决了现有技术不能对各向异性的材料的不同方向的介电常数都有本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种测量介电常数的设备，其特征在于，所述设备包括顶部开口以放置被测介质的腔体和插入述腔体内部的用于发射电磁波的同轴线，所述腔体的底部的长度大于0.5倍波长，所述波长为同轴线发射的电磁波的波长，且腔体的顶部的长度小于等于0.1倍波长，所述腔体的底部的宽度和顶部的宽度小于所述腔体的底部的长度。

【技术特征摘要】
1.一种测量介电常数的设备，其特征在于，所述设备包括顶部开口以放置被测介质的腔体和插入述腔体内部的用于发射电磁波的同轴线，所述腔体的底部的长度大于0. 5倍波长，所述波长为同轴线发射的电磁波的波长，且腔体的顶部的长度小于等于0. I倍波长，所述腔体的底部的宽度和顶部的宽度小于所述腔体的底部的长度。2.根据权利要求I所述的设备，其特征在于，所述腔体的顶部的出口处能产生倏逝波。3.根据权利要求2所述的设备，其特征在于，所述倏逝波的电场分量指向同一方向。4.根据权利要求I所述的设备，其特征在于，所述腔体的底部的宽度和顶部的宽度小于0. I倍波长。5.根据权利要求I所述的设...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘若鹏，栾琳，刘京京，
申请(专利权)人：深圳光启高等理工研究院，深圳光启创新技术有限公司，
类型：发明
国别省市：