本发明专利技术提供一种电子元件电性能综合测试机，其特征在于：包括电控机构，电控机构连接控制主机机构，主机机构包括上料机构、测试机构和下料分档机构，上料机构固定在机架上，上料机构的出料口处布置有测试机构，测试机构的出料口布置有下料分档机构。本发明专利技术通过在测试盘上安装两组探针和多个摄像机来实现多产品多方位的检测，多个摄像机能够准确的测量产品的外观使其有效的提高精确性。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种电子元件电性能综合测试机。
技术介绍
目前国内采用的电阻片分档方法主要是采用电阻片测试分档机。基本原理是将散放的电阻片送入 输送结构后，经电阻片测试分档机测试并自动分类存放。该方法提高了生产效率，节省了劳动力，改变了长期以来全部人工手动测试的局面，且分档范围可以视具体情况调整。这种方法对电阻分档有一定的效果，但存在精度不高，不能测试电阻片外形尺寸参数，分档范围不广等缺陷，在生产实践中的使用受到了一定的限制。
技术实现思路
本专利技术的目的是克服现有技术存在的不足，提供一种电子元件电性能综合测试机，有效提闻了稳定性、精确性。本专利技术的目的通过以下技术方案来实现 电子元件电性能综合测试机，其特征在于包括电控机构，所述电控机构连接控制主机机构，所述主机机构包括上料机构、测试机构和下料分档机构，所述上料机构固定在机架上，所述上料机构的出料口处布置有测试机构，所述测试机构的出料口布置有下料分档机构； 所述上料机构包括分度盘和上料装置，所述分度盘通过安装转轴转动，所述分度盘上沿圆周边间隔90°布置有吸嘴，所述分度盘的上方设置有水平相对的下压气缸，所述下压气缸通过顶柱与分度盘上的吸嘴竖直相对且相互配合，所述分度盘上的吸嘴的正下方设置有上料装置，所述上料机构以上料装置的上料为上料口水平旋转180°为上料机构的出料n ； 所述测试机构包括测试盘，所述测试盘通过安装转轴转动，所述测试盘正对出料口的位置为起始位置逆时针旋转45° 90° 135° 180° 215°处通过支架依次布置有第一探针、第二探针、第一摄像机、第二摄像机和第三摄像机，其中第一探针、第二探针、第一摄像机、第二摄像机沿测试盘的圆周外围固定，第三摄像机固定在测试盘中心处，所述测试盘的270°处为出料口 ； 所述下料分档机构包括分档盘和分档盒，所述分档盒设有十个且都沿分档盘的圆周外围依次布置，所述分档盘的中心处设置夹取装置，所述夹取装置与分档盒相配合。进一步地，上述的电子元件电性能综合测试机，其中，上料装置包括料匣、步进电机以及顶杆，所述步进电机通过丝杆与顶杆形成传动副，所述顶杆正对料匣的底部与料匣相配合。更进一步地，上述的电子元件电性能综合测试机，其中，分档盘的圆周外围设置有废料盒。更进一步地，上述的电子元件电性能综合测试机，其中，分档盒处设置有储料匣。再进一步地，上述的电子元件电性能综合测试机，其中，废料盒处设置有储料匣。本专利技术技术方案的实质性特点和进步主要体现在 本专利技术通过在测试盘上安装两组探针和多个摄像机来实现多产品多方位的检测，多个摄像机能够准确的测量广品的外观使其有效的提闻精确性，该装置能有效提闻生广效率，且装置操作简便，容易维护。 附图说明下面结合附图对本专利技术技术方案作进一步说明 图I :本专利技术的构造不意 图2 :本专利技术的上料机构结构示意图 图3 :本专利技术的上料装置的结构示意 图4 :本专利技术的测试机构结构示意 图5 :本专利技术的下料分档机构结构示意图。具体实施例方式如图I、图2、图3、图4、图5所示，电子元件电性能综合测试机，包括电控机构，电控机构连接控制主机机构，主机机构包括上料机构I、测试机构2和下料分档机构3，上料机构I固定在机架上，上料机构I的出料口处布置有测试机构2，测试机构2的出料口布置有下料分档机构3 ;上料机构I包括分度盘4和上料装置，分度盘4通过安装转轴转动，分度盘4上沿圆周边间隔90°布置有吸嘴7，分度盘4的上方设置有水平相对的下压气缸5，下压气缸5通过顶柱6与分度盘4上的吸嘴7竖直相对且相互配合，分度盘4上的吸嘴7的正下方设置有上料装置，上料机构I以上料装置的上料为上料口水平旋转180°为上料机构I的出料口 ；测试机构2包括测试盘12，测试盘12通过安装转轴转动，测试盘12正对出料口的位置为起始位置逆时针旋转45° 90° 135° 180° 215°处通过支架依次布置有第一探针13、第二探针14、第一摄像机15、第二摄像机16和第三摄像机17，其中第一探针13、第二探针14、第一摄像机15、第二摄像机16沿测试盘12的圆周外围固定，第三摄像机17固定在测试盘12中心处，测试盘12的270°处为出料口 ；下料分档机构3包括分档盘18和分档盒20，分档盒20设有十个且都沿分档盘18的圆周外围依次布置，分档盘18的中心处设置夹取装置21，夹取装置21与分档盒20相配合。上料装置包括料匣10、步进电机8以及顶杆11，步进电机8通过丝杆9与顶杆11形成传动副，顶杆11正对料匣10的底部与料匣10相配合。分档盘18的圆周外围设置有废料盒，分档盒20处设置有储料匣19，废料盒处设置有储料匣。步进电机8是上料装置的动力装置，驱动着料匣10的运动。在上料处的空料匣槽中依次放入待测阻值和外形参数的电阻片。(上料用的是料匣槽而不是振动盘，因为电阻片的表面镀银，这样可以避免元件之间的磨损)放满后，料匣10中的检测传感器检测到电阻片放满后，步进电机8启动，步进电机8通过顶杆11将料匣10中电阻片的上升，上升到吸料位置处，在下压气缸5的作用下，带动顶柱6将吸嘴7下压，之后将电阻片吸附起来。传感器检测到上面的电阻片被吸附后，由料匣10下面的顶杆11将电阻片再一次顶起。分度盘4逆时针转动，转动到90°处后，对电阻片的下表面进行影像检测，检测的目的有两个，一是检测电阻片表面是否存在表面划痕，塌边等缺陷，若是存在这样的缺陷则由电脑程序记录该该电阻片；二是根据投影的下表面的影像的像素点的个数，借助每个像素点的尺寸，计算出电阻片下表面长边和短边的长度。检测完成以后，分度盘4继续转动，在分度盘4的180°位置处，分度盘4依次将电阻片下放到测试盘12上的治具中。测试盘12的主要功能是测试电阻 片的阻值以及表面的尺寸参数。在测试盘12的45° 90°位置处安装有第一探针13和第二探针14，第一探针13和第二探针14分别有两个探针顶压在电阻片的上下表面，探针分别代表正负极，在测量过程中保证两个探针与电阻片的金属部位有良好的接触，其第一探针13和第二探针14先后两次对电阻片进行阻值测量确保了所测阻值的精度，两次测量的阻值差应保持在一定的误差范围内，若误差较大可根据需要进行重测。在测试盘12的135°处安装有第一摄像机15且对电阻片上表面进行影像检测，检测电阻片的表面状况及各边长度。在测试盘12的180°处的第二摄像机16对电阻片的外短侧面及长侧面摄像，利用影像像素点测出各面的各边长。在215°处，同理得到内短侧面各边的长度以及电阻片内外各处的厚度。对电阻片各边的长度进行两次测量是为了避免电阻片的分割过程中可能因为不均匀分割造成误差。在测量盘12的270°处，分档盘18上的夹取装置21将测试盘12上的电阻片取走，然后对其电阻片进行分档。对电阻片按阻值分档是最后一道工序，分档盘18主要包括的是十个分档盒20，其中还设置有一个废料盒，电阻片随分档盘18转动，各电阻片分别进入不同的分档盒20中，不同的分档盒20中有不同的阻值范围。具体阻值范围可以视具体生产要求而定，体现了该装置的灵活性。具体应用时，在料匣10中放入电阻片，电阻片在下压缸和顶杆11的作用下，上升到吸料位置处，由吸嘴7吸附后，随分度盘4转动，在此过程中进行一次影像检测，检测该电本文档来自技高网...
【技术保护点】
电子元件电性能综合测试机，其特征在于：包括电控机构，所述电控机构连接控制主机机构，所述主机机构包括上料机构、测试机构和下料分档机构，所述上料机构固定在机架上，所述上料机构的出料口处布置有测试机构，所述测试机构的出料口布置有下料分档机构；所述上料机构包括分度盘和上料装置，所述分度盘通过安装转轴转动，所述分度盘上沿圆周边间隔90°布置有吸嘴，所述分度盘的上方设置有水平相对的下压气缸，所述下压气缸通过顶柱与分度盘上的吸嘴竖直相对且相互配合，所述分度盘上的吸嘴的正下方设置有上料装置，所述上料机构以上料装置的上料为上料口水平旋转180°为上料机构的出料口；所述测试机构包括测试盘，所述测试盘通过安装转轴转动，所述测试盘正对出料口的位置为起始位置逆时针旋转45°90°135°180°215°处通过支架依次布置有第一探针、第二探针、第一摄像机、第二摄像机和第三摄像机，其中第一探针、第二探针、第一摄像机、第二摄像机沿测试盘的圆周外围固定，第三摄像机固定在测试盘中心处，所述测试盘的270°处为出料口；所述下料分档机构包括分档盘和分档盒，所述分档盒设有十个且都沿分档盘的圆周外围依次布置，所述分档盘的中心处设置夹取装置，所述夹取装置与分档盒相配合。...
【技术特征摘要】
1.电子元件电性能综合测试机，其特征在于包括电控机构，所述电控机构连接控制主机机构，所述主机机构包括上料机构、测试机构和下料分档机构，所述上料机构固定在机架上，所述上料机构的出料口处布置有测试机构，所述测试机构的出料口布置有下料分档机构； 所述上料机构包括分度盘和上料装置，所述分度盘通过安装转轴转动，所述分度盘上沿圆周边间隔90°布置有吸嘴，所述分度盘的上方设置有水平相对的下压气缸，所述下压气缸通过顶柱与分度盘上的吸嘴竖直相对且相互配合，所述分度盘上的吸嘴的正下方设置有上料装置，所述上料机构以上料装置的上料为上料口水平旋转180°为上料机构的出料n ； 所述测试机构包括测试盘，所述测试盘通过安装转轴转动，所述测试盘正对出料口的位置为起始位置逆时针旋转45° 90° 135° 180° 215°处通过支架依次布置有第一探针、第二探针、第一摄...
【专利技术属性】
技术研发人员：曾航，章朝阳，
申请(专利权)人：苏州慧捷自动化科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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