用于静电放电发生器的电路结构制造技术

一种用于静电放电发生器的电路结构，包括：放电电极和放电回路连接端子，此放电电极连接到用于控制放电通断的第一开关，此第一开关另一端连接到一放电电阻一端，此放电电阻另一端连接到一充电电阻一端，充电电阻另一端连接到用于控制充电通断第二开关，一直流高压电源位于第二开关和放电回路连接端子之间，一储能电容位于所述放电电阻和充电电阻的接点与所述直流高压电源和放电回路连接端子的接点之间。可提高各个等级所需要的不同大小的静电电压、能精确控制静电施加时间和静电打击次数，满足多种测试要求的需要。（*该技术在2022年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术属于电磁兼容抗干扰
，尤其涉及一种用于静电放电发生器的电路结构。
技术介绍
带电的绝缘体本身不会对电子设备产生静电危害，然而静电放电将对电子设备的正常工作产生非常严重的威胁。静电产生过程中的正电荷或负电荷逐渐累积，从而与周围环境产生电位差，电荷经由放电路径而产生在不同电位之间的转移即为静电放电，简称ESD。静电放电的产生需要有三个条件I、静电电荷在绝缘体上的积累； 2、静电电荷通过接触或者感应向导体转移；3、充满静电电荷的导体靠近金属物体产生静电放电；静电放电的能量可以通过两种方式耦合到电子电路，一种为传导耦合，即静电放电电流直接流经敏感电路威胁其正常工作；另一种为辐射耦合，即静电放电能量通过空间电磁场耦合产生高压、大电流威胁电子电路的正常工作，空间电磁场耦合又包括电容耦合和感应耦合。静电放电对电力电子系统的危害主要分为三种类型I、硬件危害；2、软件危害；3、瞬时干扰；其中硬件危害将直接损坏系统硬件，软件危害影响系统的软件运行但不造成物理损坏，而瞬时干扰不会产生错误，但是现象很明显。因此如何设计一种控制简单，成本低并能满足多种测试要求的静电放电发生器的电路结构，成为本领域技术人员努力的方向。
技术实现思路
本技术目的是提供一种用于静电放电发生器的电路结构，该电路结构控制简单、可提高各个等级所需要的不同大小的静电电压、能精确控制静电施加时间和静电打击次数，满足多种测试要求的需要。为达到上述目的，本技术采用的技术方案是一种用于静电放电发生器的电路结构，包括放电电极和放电回路连接端子，此放电电极连接到用于控制放电通断的第一开关，此第一开关另一端连接到一放电电阻一端，此放电电阻另一端连接到一充电电阻一端，充电电阻另一端连接到用于控制充电通断第二开关，一直流高压电源位于第二开关和放电回路连接端子之间，一储能电容位于所述放电电阻和充电电阻的接点与所述直流高压电源和放电回路连接端子的接点之间。上述技术方案进一步改进技术方案如下上述方案中，所述充电电阻阻值为5(Γ100ΜΩ之间，所述放电电阻阻值为290 370Ω，所述储能电容电容值为130 170pF。由于上述技术方案运用，本技术与现有技术相比具有下列优点本技术用于静电放电发生器的电路结构，该电路结构工作时，调节直流高压源的输出电压，使直流高压源通过充电电阻给储能电容充电，待储能电容上的电压充到额定试验电压后，通过依次通过放电电阻、放电电极即可进行接触放电，并采用优化的电阻值和电容值组合匹配，可提高各个等级所需要的不同大小的静电电压、能精确控制静电施加时间和静电打击次数，满足多种测试要求的需要；其次，本技术电路结构采用在充电回 路和放电回路中均设置有开关，其控制简单、从而达到灵活控制、高效测试的进行静电放电抗扰度测试试验目的。附图说明图I是本技术用于静电放电发生器的电路结构示意图。以上附图中1、放电电极；2、放电回路连接端子；3、直流高压电源。具体实施方式以下结合附图及实施例对本技术作进一步描述实施例一种用于静电放电发生器的电路结构，包括放电电极I和放电回路连接端子2，此放电电极I连接到用于控制放电通断的第一开关K1，此第一开关Kl另一端连接到一放电电阻Rd—端，此放电电阻Rd另一端连接到一充电电阻R。一端，充电电阻R。另一端连接到用于控制充电通断第二开关K2，一直流高压电源3位于第二开关K2和放电回路连接端子2之间，一储能电容Cs位于所述放电电阻Rd和充电电阻R。的接点与所述直流高压电源3和放电回路连接端子2的接点之间。上述充电电阻Re阻值为5(Γ100ΜΩ之间，所述放电电阻Rd阻值为290 370Ω，所述储能电容Cs电容值为13(Tl70pF。采用上述用于静电放电发生器的电路结构时，该电路结构工作时，调节直流高压源的输出电压，使直流高压源通过充电电阻给储能电容充电，待储能电容上的电压充到额定试验电压后，通过依次通过放电电阻、放电电极即可进行接触放电，并采用优化的电阻值和电容值组合匹配，可提高各个等级所需要的不同大小的静电电压、能精确控制静电施加时间和静电打击次数，满足多种测试要求的需要；其次，本实施例电路结构采用在充电回路和放电回路中均设置有开关，其控制简单、从而达到灵活控制、高效测试的进行静电放电抗扰度测试试验目的。上述实施例只为说明本技术的技术构思及特点，其目的在于让熟悉此项技术的人士能够了解本技术的内容并据以实施，并不能以此限制本技术的保护范围。凡根据本技术精神实质所作的等效变化或修饰，都应涵盖在本技术的保护范围之内。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于静电放电发生器的电路结构，其特征在于：包括：放电电极（1）和放电回路连接端子（2），此放电电极（1）连接到用于控制放电通断的第一开关（K1），此第一开关（K1）另一端连接到一放电电阻（Rd）一端，此放电电阻（Rd）另一端连接到一充电电阻（Rc）一端，充电电阻（Rc）另一端连接到用于控制充电通断第二开关（K2），一直流高压电源（3）位于第二开关（K2）和放电回路连接端子（2）之间，一储能电容（Cs）位于所述放电电阻（Rd）和充电电阻（Rc）的接点与所述直流高压电源（3）和放电回路连接端子（2）的接点之间。

【技术特征摘要】
1.一种用于静电放电发生器的电路结构，其特征在于包括放电电极(I)和放电回路连接端子(2)，此放电电极(I)连接到用于控制放电通断的第一开关(K1)，此第一开关(Kl)另一端连接到一放电电阻(Rd) —端，此放电电阻(Rd)另一端连接到一充电电阻(R。)一端，充电电阻(R。)另一端连接到用于控制充电通断第二开关(K2)，一直流高压电源(3)位于第ニ...

【专利技术属性】
技术研发人员：赵阳，黄学军，戎融，董颖华，陆婋泉，
申请(专利权)人：苏州泰思特电子科技有限公司，
类型：实用新型
国别省市：