一种光强探测电离室制造技术

技术编号:7865280 阅读:234 留言:0更新日期:2012-10-15 00:29
本实用新型专利技术公开了一种光强探测电离室,其包括:一电离室本体;两个转接法兰,分别沿电离室本体的轴向方向设于电离室本体的两端;各转接法兰与电离室本体密封连接;两透光窗口,分别设于各转接法兰与电离室本体连接的端面上,各透光窗口上均设有一低吸收低散射透光膜。本实用新型专利技术所述的光强探测电离室没有空气间隙,因此消除了这段空气间隙对光束产生的吸收和散射的作用,从而提高了实验的精确性;并且该电离室提高了光束到达样品的光通量,并且降低了探测信号的噪声;该电离室还能够节约光束线站的空间;此外,采用本实用新型专利技术所述的电离室还能够避免由于操作不当等原因而破坏电离室窗口的聚酰亚胺薄膜的问题。(*该技术在2022年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种光学装置,尤其涉及一种光束线站上使用的光强探测电离室
技术介绍
同步辐射装置是一种可以进行多种科学研究的设备,是一种先进的实验手段。同步辐射装置是通过光束线引入到实验站进行科学实验研究。随着现代科学技术的发展,在实验中对光强测量精确度的要求也越来越高。目前,基本上所有的光束线站都需要测量实验光束的强度,而最常用的光强测量技术就是使用电离室进行光强监测。电离室采用一般商品化的电离室,是一种独立设备,其两端密封并设有通光窗口,窗口材料通常使用Kapton膜(Kapton是美国杜邦公司生产的聚酰亚胺薄膜材料的商品名称,其具有优良的化学稳定 性、耐高温性、坚韧性、耐磨性、阻燃性、电绝缘性),电离室内部充有电离气体。但是,直接使用一般商品化的电离室进行光强检测存在一定的问题电离室在使用时是安装在光束线上的,其两端均有一段空气间隙,空气间隙和密封窗口材料均会吸收光束并产生散射,从而会影响到实验的光通量和实验结果,尤其是对于弱信号的实验,例如X射线小角散射等。由于空气间隙对光束的吸收,使得光束到达样品的光强减少,从而在实验数据处理中影响到结果的精确度。另一方面,在实验操作中,经常会由于操作不当等原因而破坏电离室的Kapton膜窗口,从而影响到实验。
技术实现思路
本技术的目的是提供一种光强探测电离室,该电离室应当能够消除其两端空气间隙对光束的吸收问题,从而提高光强测量精确度;此外,该电离室还应当能够消除由于操作不当等原因而破坏电离室窗口的聚酰亚胺薄膜的问题。根据上述技术的目的,本技术提出了一种光强探测电离室,其包括一电离室本体;两个转接法兰,其分别沿电离室本体的轴向方向设于电离室本体的两端;各转接法兰与电离室本体密封连接;两透光窗口,分别设于各转接法兰与电离室本体连接的端面上,各透光窗口上均设有一透光膜。该透光膜为低吸收低散射膜,如聚酰亚胺薄膜,与法兰密封连接。在本技术方案中,光束从透光窗口上的聚酰亚胺薄膜射入电离室本体,从而对光束强度进行探测。由于电离室本体两端的转接法兰可分别与光束线管道密封连接,从而消除了原有电离室两端的空气间隙,因此本技术方案所述的电离室能够消除空气间隙对射入光束的影响,提闻了实验的精确性。在上述的光强探测电离室中,电离室本体上还分别连接有一进气管道和一出气管道,进气管道和出气管道上分别对应设有一进气阀和一排气阀。由于电离室本体由转接法兰密封,通过带有进气阀的进气通道与带有排气阀的出气通道能够实现在密封气体和流动气体两种模式中进行光强测试进出气阀均关闭,此时电离室本体中为密封气体;进出气阀均打开,此时电离室本体中为流动气体。本技术所述的光强探测电离室具有下列优点(I)本技术所述的电离室的两端没有空气间隙,因此消除了这段空气间隙对光束产生的吸收和散射的作用,从而提高了实验的精确性;(2)本技术所述的电离室提高了光束到达样品的光通量,并且降低了探测信号的噪声;(3)本技术所述的电离室还能够 节约光束线站的空间;(4)采用本技术所述的电离室还能够避免由于操作不当等原因而破坏电离室窗口的聚酰亚胺薄膜的问题。附图说明图I是本技术所述的光强探测电离室在一种实施方式下的结构示意图。图2是图I的侧视图。具体实施方式下面将结合说明书附图和具体的实施例对本技术所述的光强探测电离室做进一步的详细说明。图I显示了本技术所述的光强探测电离室在本实施例中的结构。图2是图I的侧视图。如图I、图2所示,两个转接法兰2分别沿电离室本体I的轴向方向设于电离室本体I的两端,各转接法兰2与电离室本体I密封连接。两个透光窗口 3分别设于各转接法兰2与电离室本体I连接的端面上,各透光窗口 3上均设有一聚酰亚胺薄膜,本实施例中该聚酰亚胺薄膜采用美国杜邦公司生产的Kapton膜,也可以选择满足透光要求的其它薄膜。电离室本体I上还分别连接有进气管道4和出气管道6,进气管道4和出气管道6上分别对应设有进气阀5和排气阀7。请继续参阅图I、图2,在本实施例中,光束通过透光窗口 3上的Kapton膜射入电离室本体I内,从而对光束强度进行探测。由于电离室本体I两端的转接法兰2可分别与光束线管道密封连接,从而消除了原有电离室两端的空气间隙,因此本实施例所述的电离室能够消除空气间隙对射入光束的影响,提高了实验的精确性。此外,由于电离室本体I由转接法兰2密封,通过带有进气阀5的进气通道4与带有排气阀7的出气通道6能够实现在密封气体和流动气体两种模式中进行光强测试进出气阀5、7均关闭,此时电离室本体I中为密封气体;进出气阀5、7均打开,此时电离室本体I中为流动气体。要注意的是,以上列举的仅为本技术的具体实施例,显然本技术不限于以上实施例,随之有着许多的类似变化。本领域的技术人员如果从本技术公开的内容直接导出或联想到的所有变形,均应属于本技术的保护范围。本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种光强探测电离室,其包括一电离室本体,其特征在于,还包括 两个转接法兰,分别沿所述电离室本体的轴向方向设于电离室本体的两端;所述各转接法兰与电离室本体密封连接; 两透光窗口,分别设于所述 各转接法兰与电离室本体连接的端面上,所述各透光窗口上均...

【专利技术属性】
技术研发人员:边风刚王劼李秀宏王玉柱田丰周平
申请(专利权)人:中国科学院上海应用物理研究所
类型:实用新型
国别省市:

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1
相关领域技术
  • 暂无相关专利