本发明专利技术公开一种RDX或HMX晶体显微成像用的折光匹配液，是为解决无法清晰观察到RDX或HMX晶体内部缺陷的问题，本发明专利技术的RDX或HMX晶体显微成像用的折光匹配液为香柏油和α-溴代萘的混合液，香柏油与α-溴代萘的体积比为1∶1～1∶2。本发明专利技术主要用于普通显微镜观察RDX或HMX晶体的内部缺陷。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种RDX或HMX晶体显微成像用的折光匹配液。
技术介绍
炸药的晶体品质(如纯度、晶体形态、晶体缺陷等)是影响炸药易损性的主要因素之一，通过改善炸药的晶体品质可以在保持炸药原有做功能力的同时提高其安全性能，特别是降低冲击波感度性能。近年来随着提高炸药晶体品质的结晶技术不断发展，对于炸药晶体品质的表征技术也逐渐成为研究的热点。炸药的晶体缺陷是判断炸药晶体品质的主要技术指标。目前显微成像是表征炸药颗粒形貌、缺陷的主要方法。然而在空气中，普通光学显微镜只能观察到炸药晶体的结晶形状、晶体大小和均匀性，而无法观察到炸药晶体内部缺陷。当前在医学和冶金业，采用显微成像技术，观察放置在折光率浸油中细胞或透明矿物，可清晰地观察细胞或透明矿物的形貌。目前在上述领域中通常所使用的折光率浸油为煤油或液体石蜡。但是将RDX或HMX晶体放置在煤油或液体石蜡折光率浸油中无法观察到RDX或HMX炸药晶体的内部缺陷。
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题是克服现有技术不足，提供一种RDX或HMX晶体显微成像用的折光匹配液，用于RDX或HMX晶体显微成像。本专利技术的构思根据折光匹配显微原理，只有当炸药晶体至于与其折光指数匹配的溶液中，才可以通过普通光学显微镜清晰地观察到晶体内部缺陷。由于RDX或HMX晶体的理论折光指数在I. 6左右，因此需要选择折光指数为I. 6的溶液作为折光匹配液，从而通过普通光学显微镜清晰地观察到RDX或HMX晶体的内部缺陷。。为了解决上述技术问题，本专利技术的RDX或HMX晶体显微成像用的折光匹配液的组分为香柏油与a-溴代萘，香柏油与a-溴代萘的体积比为I : I I : 2。本专利技术的RDX或HMX晶体显微成像用的折光匹配液优选技术方案为香柏油与a -溴代萘的体积比为I : I. 4。本专利技术的优点采用本专利技术的RDX或HMX晶体显微成像用的折光匹配液，可清晰的观察到RDX、HMX晶体的内部缺陷，而现有的折光率浸油无法清晰地观察到RDX或HMX晶体的内部缺陷。附图说明图I为RDX晶体浸没在折光匹配液显微成像的成像图。图2为HMX晶体浸没在折光匹配液显微成像的成像图。图3为RDX晶体浸没在煤油中显微成像的成像图。图4为HMX晶体浸没在液体石蜡中显微成像的成像图。具体实施例方式下列结合实施例对本专利技术进一步 详述说明，但并不限制本专利技术的范围。用于检测折光指数仪器为WAY-2S型数字阿贝折射仪；用于显微成像的仪器为莱卡DM2500M型显微镜。实施例I折光匹配液的制备在温度为20°C 25°C，取两支25mL的量筒，分别量取IOmL香柏油和IOmLa-溴代萘，然后将香柏油和a -溴代萘两种液体倒入反应瓶中，搅拌5分钟，再放置到超声微波震荡仪中，开启超声按钮，超声震荡3分钟后，关闭超声微波震荡仪，取出反应瓶静置15分钟，得到折光匹配液。折光匹配液的折光指数测定检查阿贝折射仪上下棱镜表面，并用酒精小心清洁其表面，用干净滴管吸取1-2滴折光匹配液放在下棱镜表面上，然后将上面的进光棱镜盖上。调整光路，使进光棱镜的进光表面得到均匀照明。旋转手轮，使明暗分界线准确对准交叉线的交点。读取折光率数据，本实施例制备的折光匹配液的折光指数为I. 59。折光匹配液的应用取数粒RDX晶体置于载玻片上，用干净滴管吸取数滴折光匹配液滴加在晶体表面上，将晶体浸没，调整焦距，使图像清晰，选择40倍放大物镜，找准被检物，并置于视野中央，清楚地观察到炸药RDX晶体内部缺陷。取数粒HMX晶体置于载玻片上，用干净滴管吸取数滴折光匹配液滴加在晶体表面上，将晶体浸没，调整焦距，使图像清晰，选择40倍放大物镜，找准被检物，并置于视野中央，清楚地观察到炸药HMX晶体内部缺陷。实施例2折光匹配液的制备在温度为20°C 25°C，取两支25mL的量筒，分别量取IOmL香柏油和14mLa-溴代萘，然后将香柏油和a -溴代萘两种液体倒入反应瓶中，搅拌5分钟，再放置到超声微波震荡仪中，开启超声按钮，超声震荡3分钟后，关闭超声微波震荡仪，取出反应瓶静置15分钟，得到折光匹配液。折光匹配液的折光指数测定检查阿贝折射仪上下棱镜表面，并用酒精小心清洁其表面，用干净滴管吸取1-2滴折光匹配液放在下棱镜表面上，然后将上面的进光棱镜盖上。调整光路，使进光棱镜的进光表面得到均匀照明。旋转手轮，使明暗分界线准确对准交叉线的交点。读取折光率数据，本实施例制备的折光匹配液的折光指数为1.60。折光匹配液的应用取数粒RDX晶体置于载玻片上，用干净滴管吸取数滴折光匹配液滴加在晶体表面上，将晶体浸没，调整焦距，使图像清晰，选择40倍放大物镜，找准被检物，并置于视野中央，清楚地观察到炸药RDX晶体内部缺陷。取数粒HMX晶体置于载玻片上，用干净滴管吸取数滴折光匹配液滴加在晶体表面上，将晶体浸没，调整焦距，使图像清晰，选择40倍放大物镜，找准被检物，并置于视野中央，清楚地观察到炸药HMX晶体内部缺陷。实施例3折光匹配液的制备在温度为20°C 25°C，取两支25mL的量筒，分别量取IOmL香柏油和20mL a -溴代萘，然后将香柏油和a -溴代萘两种液体倒入反应瓶中，搅拌5分钟，再放置到超声微波震荡仪中，开启超声按钮，超声震荡3分钟后，关闭超声微波震荡仪，取出反应瓶静置15分钟，得到折光匹配液。 折光匹配液的折光指数测定检查阿贝折射仪上下棱镜表面，并用酒精小心清洁其表面，用干净滴管吸取1-2滴折光匹配液放在下棱镜表面上，然后将上面的进光棱镜盖上。调整光路，使进光棱镜的进光表面得到均匀照明。旋转手轮，使明暗分界线准确对准交叉线的交点。读取折光率数据，本实施例制备的折光匹配液的折光指数为1.61。折光匹配液的应用取数粒RDX晶体置于载玻片上，用干净滴管吸取数滴折光匹配液滴加在晶体表面上，将晶体浸没，调整焦距，使图像清晰，选择40倍放大物镜，找准被检物，并置于视野中央，清楚地观察到炸药RDX晶体内部缺陷。取数粒HMX晶体置于载玻片上，用干净滴管吸取数滴折光匹配液滴加在晶体表面上，将晶体浸没，调整焦距，使图像清晰，选择40倍放大物镜，找准被检物，并置于视野中央，清楚地观察到炸药HMX晶体内部缺陷。实施对比例I取数粒RDX晶体置于载玻片上，用干净滴管吸取数滴煤油滴加在晶体表面上，将晶体浸没，调整焦距，使图像清晰，选择40倍放大物镜，找准被检物，实施对比例2取数粒HMX晶体置于载玻片上，用干净滴管吸取数滴液体石蜡滴加在晶体表面上，将晶体浸没，调整焦距，使图像清晰，选择40倍放大物镜，找准被检，并置于视野中央，无法观察到HMX晶体内部缺陷。本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种RDX或HMX晶体显微成像用的折光匹配液，其特征在于该RDX或HMX晶体显微成像用的折光匹配液的组分为香柏油与a -溴代萘，体积比为I :...
【专利技术属性】
技术研发人员：徐敏，赵娟，李涛，苏鹏飞，周文静，马燕，张皋，陈智群，毕富强，
申请(专利权)人：西安近代化学研究所，
类型：发明
国别省市：
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