一种缺陷区域提取方法技术

本发明专利技术涉及一种缺陷区域提取方法，首先对图像进行列或行的逐步扫描；扫描过程中若是发现一个点的图像灰度值差大于预设阈值，则该点为可疑缺陷点；沿扫描方向扩展，分别从上下或左右方向执行边界局部搜索算法，找出上下或左右两个缺陷边界；直到上下或左右边界采到的边界点重合，提取缺陷区域；本方法在提取缺陷的过程中，仅对图像进行一次扫描运算，而且当检测到缺陷第一点之后，扫描过程就更简单，会自动紧紧沿着缺陷区域进行检测，直到缺陷区域被完整提取出来；该检测方法速度快，适用于快速边缘区域定位及实时性要求高的缺陷区域提取。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于表面缺陷质量检测
，涉及ー种缺陷区域提取方法。
技术介绍
目前在表面缺陷质量检测技术方面，一般是对图像进行处理，先提取缺陷区域，然后再针对缺陷区域进行特征提取，对缺陷进行识别分类。针对第一阶段的缺陷区域提取，传统的缺陷区域提取方法，主要是针对图像进行各种滤波，再对滤波之后的图像进行ニ值化，从而获取缺陷区域。如基于分区域自适应中值滤波的X射线图像缺陷提取方法是根据图像不同区域内灰度变化特点进行不同方向的基于扫描线的ー维中值滤波，并使滤波器的长度能随着缺陷尺寸自动调整，快速、准确地提取出被测试件的缺陷，但中值滤波处理速度较慢，而且对缺陷尺寸调整过程耗费的时间也较多。这种方法处理速度太慢，不适合实时检 测的需求，同时容易产生较多噪声，需要后续处理才能进ー步确定缺陷区域。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供，以解决现有提取方法速度慢不适于实时检测的问题。为实现上述目的，本专利技术的缺陷区域提取方法步骤如下 (1)对图像进行列或行的逐步扫描；(2)扫描过程中若是发现一个点的图像灰度值差大于预设阈值，则该点为可疑缺陷点； (3)沿扫描方向扩展，分别从上下或左右方向执行边界本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种缺陷区域提取方法，其特征在于，该方法的步骤如下 (1)对图像进行列或行的逐步扫描； (2)扫描过程中若是发现一个点的图像灰度值差大于预设阈值，则该点为可疑缺陷点； (3)沿扫描方向扩展，分别从上下或左右方向执行...

【专利技术属性】
技术研发人员：吴贵芳，
申请(专利权)人：河南科技大学，
类型：发明
国别省市：