【技术实现步骤摘要】
本技术涉及工业过程控制或监视系统。更具体地,本技术涉及在工业过程中测量过程流体的流量的系统。技术背景许多工业过程使用各种类型的流体或对其进行操作。在过程的操作期间,流体可以通过过程管道从一个位置传送至另一位置。在许多实例中,期望监视这种经过过程管道的流体的流量。该监视可以仅用于测量目的,或者可以用在控制系统中。例如,可以基于所测量的过程流体的流量的量来对阀门(valve)进行控制。过程变量变送器用于测量工业过程的过程变量。一种这样的过程变量是以上讨论的过程流体的流量。可以使用各种技术来测量这种流量。一种这样的技术基于置于过程管道中的限制元件上展现(develop)的差压来测量流量。差压可以由差压变送器测量并用于计算过程流体的流量。如Richard Steven的、名称为“ MPR0VEMENTS IN OR RELATING TOFLOW METERING”、国际申请日为2006年8月29日的W02008/025935中所描述,置于流中的限制元件使得各种压力得以展现。
技术实现思路
本技术所要解决的问题是如何利用较少的差压来实现工业过程中过程流体的测量。一种用于在工业过程中测量经过过程管道的过程流体的流量的系统,包括过程管道中的流量限制元件。第一差压变送器被配置为测量响应于过程流体的流动而在所述流量限制元件上出现的第一压降。第二差压变送器被配置为测量穿过所述流量限制元件的过程流体中的第二差压。电路基于第一差压和第二差压来执行诊断。系统可以包括第一差压变送器与第二差压变送器之间的数据链路。电路可以位于第一差压变送器中。第一差压变送器和第二差压变送器中的至少一个 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
2011.03.03 US 13/039,6981.一种用于测量过程流体的流量的系统,所述过程流体通过エ业过程中的过程管道中设置的流量限制元件,其特征是,所述系统包括 第一差压变送器,被配置为测量由于过程流体流过所述流量限制元件而引起的所述过程流体中的第一差压; 第二差压变送器,被配置为测量由于过程流体流过所述流量限制元件而引起的所述过程流体中的第二差压;以及 电路,被配置为基于所述第一差压和所述第二差压来执行诊断。2.根据权利要求I所述的系统,其特征是,所述系统包括所述第一差压变送器与所述第二差压变送器之间的数据链路。3.根据权利要求I所述的系统,其特征是...
【专利技术属性】
技术研发人员:大卫·L·韦尔斯,约翰·P·米勒,安德鲁·J·科乐森斯基,
申请(专利权)人:罗斯蒙德公司,
类型:实用新型
国别省市:
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