【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及芯片测试
，更具体地说，涉及一种芯片摄像头接口功能测试方法及装置。
技术介绍
芯片测试是保证芯片功能的必要环节，在应用多媒体处理器芯片的测试过程中，一些模块的BBT(Bench Board Test,控制台测试)验证,即在一个接近实际使用环境的平台上对芯片的基本功能进行模拟测试，需要人来对测试结果进行主观判断，比如芯片设计了摄像头接口，用于接收摄像头端送来的图像数据，但是摄像头捕捉到的图像数据是不固定的，人眼判断的话，只能通过将摄像头捕捉到的图像数据转换为图片、或者在屏幕上显示来判断。通过摄像头进行图像采集会受到环境光、噪音等不确定因素的影响，采集的结果并不精确，重复性较低，不利于做到软件自动识别图像，并对图像质量做出判断。另外，市面上的摄像头设备，其数据采集的速度都是有固定范围的，因为受到实际情况的限制，无法做到很高的速度。
技术实现思路
本专利技术实施例提供一种芯片摄像头接口功能测试方法及装置，以提高测试的准确性和自动化程度，并提高测试过程的可重复性。为此，本专利技术实施例提供如下技术方案一种芯片摄像头接口功能测试方法，包括模拟摄像头接口信号...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种芯片摄像头接口功能测试方法，其特征在于，包括 模拟摄像头接口信号生成测试图像； 将所述测试图像输入到所述芯片摄像头接口，进行芯片功能测试。2.如权利要求I所述的方法，其特征在于，所述模拟摄像头接口信号生成测试图像包括 将主时钟信号MCLK经过时钟分频器进行分频，并延迟预定时间后作为像素时钟信号PCLK，所述主时钟信号MCLK是由所述芯片提供给摄像头的时钟信号； 进行像素计数、行计数、场计数，得到各计数值，并生成行同步信号HSYNC和场同步信号 VSYNC ； 根据像素计数值、行计数值、场计数值确定像素坐标； 获取所述像素坐标对应的颜色值，并将所述颜色值输出到数据线上。3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，所述生成行同步信号HSYNC包括 在进行像素计数过程中，判断像素计数是否到达一行的结尾； 如果是，则将像素计数归O，将行计数加1，并且将行同步信号HSYNC输出归O ; 如果不是，则将像素计数加1，并在超过行消隐限制数上限时，将行同步信号HSYNC输出置I。4.如权利要求3所述的方法，其特征在于，所述生成场同步信号VSYNC包括 在进行行计数过程中，判断行计数是否超过最大行数量； 如果是，则将行计数归O，并且将场同步信号VSYNC输出归O ; 如果不是，则将行计数加1，并在超过场消隐限制数上限时，将场同步信号VSYNC输出置I。5.如权利要求2所述的方法，其特征在于，所述获取所述像素坐标对应的颜色值包括 从预定义的图像数组中获取所述像素坐标对应的hash索引； 通过所述hash索引查找hash表，获取所述像素坐标对应的颜色值。6.一种芯片摄像头接口功能测试装置，其特征在于，包括 摄像头数据发生器，用于模拟摄像头接口信号生成测试图像； 测试单元，用于将所述测试图像输入到所述芯片摄像头接口，进行芯片功能测试。7.如权利要求6所述的装置，其...
【专利技术属性】
技术研发人员：谢树，葛保建，操冬华，胡胜发，
申请(专利权)人：安凯广州微电子技术有限公司，
类型：发明
国别省市：
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