一种用于成批量检测的影像测量仪制造技术

本发明专利技术公开一种用于成批量检测的影像测量仪，包括结构主体、影像系统和数字测量系统，所述的结构主体包括底座，立柱，Z轴传动机构，X/Y工作台及X光杆传动机构、Y光杆传动机构；所述影像系统包括变焦距镜头、彩色CCD摄像机、轮廓光源及表面光源；所述数字测量系统包括X轴光学尺、Y轴光学尺、控制器和电脑，所述变焦距镜头与彩色CCD摄像机的固定连接件上固定有金属定型管，所述金属定型管的端头安装有激光指示灯；本发明专利技术所述的用于成批量检测的影像测量仪，结构简单，操作方便，适合大对批量工件进行准确测量的用于成批量检测的影像测量仪，既提高了工作效率，又减小了测量的误差。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种测量仪器，具体涉及一种用于成批量检测的影像测量仪。
技术介绍
光电影像测量是目前较为先进的精密高效的测量方法之一，现有的影像测量仪的工作原理为被测工件置于工作台上由LED表面光或轮廓光(在底座内)照明后，经变焦距物镜和彩色CCD摄影机摄取影像，再通过S端子传送至电脑及显示器上，软件在显示器上产生的视频十字线为基准，对其进行瞄准测量，通过工作台带动光学尺与在X、Y方向上移动，由转接卡传至电脑，对测量资料进行处理显示，完成量测工作。当需要对大量同种工件的相同部位进行成批量的测量检测时，每次测量之前都需要根据工件的摆放位置对工作台进行调整，这样操作起来既麻烦，又浪费时间，降低了工作效率，对测量的精度也有影响。
技术实现思路
专利技术目的本专利技术的目的在于针对现有技术的不足，提供一种适合对大批量工件进行准确测量的影像测量仪，既提高了工作效率，又减小了测量的误差。技术方案本专利技术所述的一种用于成批量检测的影像测量仪，包括结构主体、影像系统和数字测量系统，所述的结构主体包括底座，立柱，Z轴传动机构，X/Y工作台、X光杆传动机构和Y光杆传动机构；所述影像系统包括变焦距镜头、彩色CXD摄像机、轮廓光源及表面光源；所述数字测量系统包括X轴光学尺、Y轴光学尺和电脑；所述变焦距镜头与彩色CCD摄像机的固定连接件上固定有金属定型管，所述金属定型管的端头安装有激光指示灯。进一步，所述金属定型管为不锈钢线类。本专利技术与现有技术相比，其有益效果是本专利技术所述的用于成批量检测的影像测量仪，结构简单，操作方便，适合大对批量工件进行准确测量的用于成批量检测的影像测量仪，既提高了工作效率，又减小了测量的误差。附图说明图I为本专利技术的结构示意图。具体实施例方式下面对本专利技术技术方案进行详细说明，但是本专利技术的保护范围不局限于所述实施例。如图I所示的用于成批量检测的影像测量仪，包括结构主体、影像系统和数字测量系统，所述的结构主体包括底座1，立柱2，Z轴传动机构，X/Y工作台4、X轴光杆传动机构10、Y轴光杆传动机构9 ;所述影像系统包括变焦距镜头5、彩色CXD摄像机、轮廓光源及表面光源6 ;所述数字测量系统包括X轴光学尺7、Y轴光学尺8和电脑11 ;所述底座I上设置有X/Y工作台4，所述底座I的后侧中间固定有所述立柱2，所述立柱2的前侧面固定有所述Z轴传动机构，所述Z轴传动机构通过镜头架固定有变焦距镜头5和彩色CCD摄像机，所述彩色CCD摄像机外侧包裹有机罩3，所述变焦镜头5的下端设置有表面光源6，所述X/Y工作台4上设置有X光杆传动机构10、Y光杆传动机构9和X轴光学尺7、Y轴光学尺8，所述X/Y工作台4的玻璃台下固定有轮廓光源，所述彩色CCD摄像机与所述电脑11的主机相连，所述轮廓光源、表面光源6、X轴光学尺7、Y轴光学尺8分别通过控制器与所述电脑11的主机相连，所述电脑11主机上装有影像测量软件、PCI控制卡和影像采集卡，所述变焦距镜头5与彩色CCD摄像机的固定连接件上固定有金属定型管13，所述金属定型管13的端头安装有激光指示灯13，所述金属定型管12为不锈钢线类。如上所述，尽管参照特定的优选实施例已经表示和表述了本专利技术，但其不得解释为对本专利技术自身的限制。在不脱离所附权利要求定义的本专利技术的精神和范围前提下，可对其在形式上和细节上作出各种变化。本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于成批量检测的影像测量仪，包括结构主体、影像系统和数字测量系统，所述的结构主体包括底座，立柱，Z轴传动机构，X/Y工作台、X光杆传动机构和Y光杆传动机构；所述影像系统包括变焦距镜头、彩色CCD摄像机、轮廓光源及表面光源；所述数字测量系统...

【专利技术属性】
技术研发人员：陆庆年，
申请(专利权)人：苏州怡信光电科技有限公司，
类型：发明
国别省市：