本实用新型专利技术提供了一种多邮票孔PCB板测试装置，其包括测试架上基板、测试架下基板、连接测试架上基板和测试架下基板的支架和弹簧针，所述弹簧针设置在两块基板之间，设置方式为梯形上大下小的形式。本实用新型专利技术的多邮票孔PCB板测试装置的有益效果是：采用弹簧针比细小的顶针价格便宜的多；接触面比较大，不必因为一点点的偏差而导致接触不良；维护容易，一端固定一端活动，更换方便，还可自由调整高度。（*该技术在2021年保护过期，可自由使用*）
【技术实现步骤摘要】
本技术涉及一种测试装置，尤其涉及PCB板测试装置。
技术介绍
随着科技的发展，芯片的功能越来越强大，外围电路随着也增多，当这些功能都集成到一块板上作为一个模块与外部通讯时可以通过插座、插针等连接方式，对空间要求比较严格的机器来说只能减小引脚的间距及插座的高度等来满足要求，但这个连接由于虚焊或者抗震性不好导致接触不良等给机器造成一定的隐患，使用邮票孔的焊接方式能很好的解决以上存在的问题，可靠性比较高抗震性能好；但由于邮票孔间的间距过密，对单板功能的测试相对比较困难，目前市场上提供的测试架都是采用的顶针的方式，顶针细、价格昂贵且容易断、不好维护，实用性不高，不利于批量生产测试。
技术实现思路
为了解决测试的问题，将顶针用弹簧针来代替，针与PCB板的接触方式也由原来的平行顶在邮票孔上改成垂直的方式，测试架由2块基板组成，弹簧针定位在2块基板之间，采用梯形上大下小的方式，上端固定下端有活动槽，并可由螺丝自行调整基板间的高度来保证PCB板的取放与接触。一种多邮票孔PCB板测试装置，其包括测试架上基板、测试架下基板、连接测试架上基板和测试架下基板的支架和弹簧针，所述弹簧针设置在两块基板之间，设置方式为梯形上大下小的形式。作为本技术的进一步改进，所述支架为高度可调的支架。作为本技术的进一步改进，所述支架为螺丝。作为本技术的进一步改进，测试架上基板对应弹簧针上方设有缺口。作为本技术的进一步改进，弹簧针上端固定在测试架上基板上，弹簧针下端设置在测试架下基板的活动槽内。作为本技术的进一步改进，还包括走线圆孔，其设置在所述测试架下基板上。走线圆孔，方便连接线的走线。作为本技术的进一步改进，还包括测试孔，其设置在所述测试架下基板上。测试孔，将原测试点间的距离拉大，平整排放。本技术的多邮票孔PCB板测试装置的有益效果是采用弹簧针比细小的顶针价格便宜的多；接触面比较大，不必因为一点点的偏差而导致接触不良；维护容易，一端固定一端活动，更换方便，还可自由调整高度。附图说明图I是本技术多邮票孔PCB板测试装置立体图；图2是图I的俯视图；图3是图I的主视图；图4是本技术多邮票孔PCB板测试装置测试带邮票孔的测试板的结构示意图；图5是图4的俯视图；图6是图4的主视图；图7是图4中A部分的放大图。图中各部件名称如下测试架上基板101、支架102、测试架下基板103、弹簧针 104、带邮票孔的测试板105、活动槽106、走线圆孔107、测试孔108。具体实施方式如图I至3所示，一种多邮票孔PCB板测试装置，其包括测试架上基板101、测试架下基板103、连接测试架上基板101和测试架下基板103的支架102和弹簧针104，所述弹簧针104设置在两块基板之间，设置方式为梯形上大下小的形式。所述支架102为高度可调的支架。例如所述支架102为螺丝。所述测试架下基板103上设有走线圆孔107和测试孔 108。测试架上基板101对应弹簧针104上方设有缺口。这样方便多邮票孔PCB板测的取放。弹簧针104上端固定在测试架上基板101上，弹簧针104下端设置在测试架下基板103的活动槽内。图4至图6表示多邮票孔PCB板安放到测试装置上，由图中可以看出，接触面比较大，不必因为一点点的偏差而导致接触不良；维护容易，一端固定一端活动，更换方便，还可自由调整高度。图7是图4中A部分的放大图，具体的表示了活动槽。以上内容是结合具体的优选实施方式对本技术所作的进一步详细说明，不能认定本技术的具体实施只局限于这些说明。对于本技术所属
的普通技术人员来说，在不脱离本技术构思的前提下，还可以做出若干简单推演或替换，都应当视为属于本技术的保护范围。权利要求1.一种多邮票孔PCB板测试装置，其特征在于其包括测试架上基板(101)、测试架下基板(103)、连接测试架上基板(101)和测试架下基板(103)的支架(102)和弹簧针(104)，所述弹簧针(104)设置在两块基板之间，设置方式为梯形上大下小的形式。2.根据权利要求I所述的多邮票孔PCB板测试装置，其特征在于所述支架(102)为闻度可调的支架。3.根据权利要求2所述的多邮票孔PCB板测试装置，其特征在于所述支架(102)为螺丝。4.根据权利要求I所述的多邮票孔PCB板测试装置，其特征在于测试架上基板(101)对应弹簧针(104)上方设有缺口。5.根据权利要求I至4任意一项所述的多邮票孔PCB板测试装置，其特征在于弹簧针(104)上端固定在测试架上基板(101)上，弹簧针(104)下端设置在测试架下基板(103)的活动槽(106)内。6.根据权利要求I至4任意一项所述的多邮票孔PCB板测试装置，其特征在于还包括走线圆孔(107)，其设置在所述测试架下基板(103)上。7.根据权利要求5所述的多邮票孔PCB板测试装置，其特征在于还包括走线圆孔(107)，其设置在所述测试架下基板(103)上。8.根据权利要求I至4任意一项所述的多邮票孔PCB板测试装置，其特征在于还包括测试孔(108)，其设置在所述测试架下基板(103)上。9.根据权利要求5所述的多邮票孔PCB板测试装置，其特征在于还包括测试孔(108)，其设置在所述测试架下基板(103)上。专利摘要本技术提供了一种多邮票孔PCB板测试装置，其包括测试架上基板、测试架下基板、连接测试架上基板和测试架下基板的支架和弹簧针，所述弹簧针设置在两块基板之间，设置方式为梯形上大下小的形式。本技术的多邮票孔PCB板测试装置的有益效果是采用弹簧针比细小的顶针价格便宜的多；接触面比较大，不必因为一点点的偏差而导致接触不良；维护容易，一端固定一端活动，更换方便，还可自由调整高度。文档编号G01R1/04GK202362326SQ20112049552公开日2012年8月1日 申请日期2011年12月2日 优先权日2011年12月2日专利技术者刘杰, 周暖, 张世渡, 许明伟 申请人:深圳视融达科技有限公司本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：张世渡，许明伟，刘杰，周暖，
申请(专利权)人：深圳视融达科技有限公司，
类型：实用新型
国别省市：
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