本发明专利技术提供了一种定向垂距法测量变形监测定向水平位移的方法。该方法按相关要求选定基准点、监测点，设立相应的固定测量标志；以能反映监测对象基本轮廓为标准选定轮廓基本拐点，设立临时测量标志；测量、计算基准点坐标后，在基准点上设立测站，测量轮廓基本拐点坐标和监测点坐标，计算取中后展点绘制轮廓基本线及轮廓基本线与监测点的相关位置图，并根据相关位置图上监测点与轮廓基本线的相关位置，逐点计算监测点到相应轮廓基本线的垂距，再根据本次垂距减去上次垂距、本次垂距减去初始垂距计算本次位移值、累计位移值。本发明专利技术设站位置摆脱基准线在较大范围内选择，适应性强，测量成果相对准确，工作效率大幅提高。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于测绘
，涉及一种变形监测水平位移测量的方法，尤其涉及一种。
技术介绍
定向水平位移测量，是指在各种建筑过程中，测量特定方向上水平位移的数量及 其变化速率，为建筑施工及时提供准确可靠的监测成果，以利采取针对性措施，排除或减少隐患，确保施工安全。由于建筑基坑复杂多变，有的多达数十条边，有的是弧形，设计与施工经常出现差异，要测量的是向开挖坑内水平位移的数量及其变化速率；由于滑坡等自然灾害治理测量更是多种多样，要测量的是向下水平位移的数量及其变化速率；由于公路、铁路建筑开挖路段有的是弧形或多边形，要测量的是向开挖坑内水平位移的数量及其变化速率，本质上都属于定向水平位移测量。目前，变形监测中定向水平位移测量的方法主要是“视准线法”。而“视准线法”由于受基准线的束缚效率较低，与定向水平位移测量工作客观需求的矛盾日益突出。主要存在下列问题 I、适应性很差用“视准线法”进行定向水平位移测量，在一个测站上只能测量从测站点到定向点的单边、双边且在规范允许范围内的监测点成果，测量复杂多边形上的监测点成果就费时费力，适应性很差。2、工作效率较低由于建筑监测对象多种多样，有的是多边形，有的是多种形态的弧形，施工与设计往往存在差距，“视准线法”受基准线的束缚效率较低。3、质量难保在定向水平位移测量中，名义上一般都用“视准线法”，实际真正把所有监测点都布设在规范要求范围内的很少，这就导致定向水平位移测量的质量难保。
技术实现思路
本专利技术的目的是针对现有技术中存在的问题，提供一种。本专利技术，包括以下步骤 (1)选点定位按照《建筑变形测量规范》、《建筑基坑工程监测技术规范》要求选定基准点、监测点，设立相应的固定测量标志；以能反映监测对象基本轮廓为标准选定轮廓基本拐点，设立临时测量标志； (2)外业测量按照《建筑变形测量规范》、《建筑基坑工程监测技术规范》的要求测量、计算基准点的坐标，然后在基准点上设立测站，测量轮廓基本拐点坐标和监测点坐标； (3)内业计算、展绘坐标求垂距内业将轮廓基本拐点坐标和监测点坐标计算取中后，展点绘制轮廓基本线及轮廓基本线与监测点的相关位置图，并根据相关位置图上监测点与轮廓基本线的相关位置，按下列公式逐点计算监测点到相应轮廓基本线的垂距权利要求1.一种，包括以下步骤 (1)选点定位按照《建筑变形测量规范》、《建筑基坑工程监测技术规范》要求选定基准点、监测点，设立相应的固定测量标志；以能反映监测对象基本轮廓为标准选定轮廓基本拐点，设立临时测量标志； (2)外业测量按照《建筑变形测量规范》、《建筑基坑工程监测技术规范》的要求测量、计算基准点的坐标，然后在基准点上设立测站，测量轮廓基本拐点坐标和监测点坐标； (3)内业计算、展绘坐标求垂距内业将轮廓基本拐点坐标和监测点坐标计算取中后，展点绘制轮廓基本线及轮廓基本线与监测点的相关位置图，并根据相关位置图上监测点与轮廓基本线的相关位置，按下列公式逐点计算监测点到相应轮廓基本线的垂距全文摘要本专利技术提供了一种。该方法按相关要求选定基准点、监测点，设立相应的固定测量标志；以能反映监测对象基本轮廓为标准选定轮廓基本拐点，设立临时测量标志；测量、计算基准点坐标后，在基准点上设立测站，测量轮廓基本拐点坐标和监测点坐标，计算取中后展点绘制轮廓基本线及轮廓基本线与监测点的相关位置图，并根据相关位置图上监测点与轮廓基本线的相关位置，逐点计算监测点到相应轮廓基本线的垂距，再根据本次垂距减去上次垂距、本次垂距减去初始垂距计算本次位移值、累计位移值。本专利技术设站位置摆脱基准线在较大范围内选择，适应性强，测量成果相对准确，工作效率大幅提高。文档编号G01B21/02GK102620699SQ201210107758公开日2012年8月1日 申请日期2012年4月13日 优先权日2012年4月13日专利技术者靳德恩, 靳纪洲 申请人:靳纪洲本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：靳纪洲，靳德恩，
申请(专利权)人：靳纪洲，
类型：发明
国别省市：
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