本发明专利技术涉及一种基于交叉组合的自然积污绝缘子串外绝缘状态评估方法。目前，对于同一基铁塔上取到的带电绝缘子串，选取某相绝缘子进行污秽度测试及化学成分分析，其它相绝缘子进行污闪电压试验，在此基础上进行数据分析并不是十分准确。本发明专利技术的特征在于，对同一基铁塔上的自然积污绝缘子串，交叉组成一部分绝缘子用于表面等值盐密和灰密并进行化学成分分析，一部分用于污秽闪络电压试验，在此基础上，考虑盐类型、上下表面不均匀积污的影响，得到自然积污绝缘子串污闪电压与表面污秽度及化学成分之间的关系。本发明专利技术能够得到更为有效的自然积污绝缘子串污闪电压及绝缘子表面污秽度数据，并得到更为有效的污闪电压校正公式。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及绝缘子外绝缘状态的评估方法，具体地说是一种。
技术介绍
正确评估自然积污绝缘子的外绝缘状态，找到自然积污绝缘子污闪电压与表面污秽度(等值盐密和灰密)及化学成分之间的量化关系，对于实现绝缘子污闪的预测、预防具有重要意义。然而，在目前电力系统状态检修体制下，输电线路停电机会十分少，挂网运行绝缘子的取样工作十分困难。在同一基铁塔上，通常只能取到2 3串带电的自然积污绝缘子串。如何充分利用数量有限的自然积污绝缘子串，选取合理的试验方法，对其外绝缘状态进行评估是值得研究的问题。目前，通常采用的方法是，对于同一基铁塔上取到的带电绝缘子串(如取A、B、C三相)，选取某相(如A相)绝缘子进行污秽度测试及化学成分分析，其它相(如B、C相)绝缘子进行污闪电压试验，在此基础上进行数据分析。然而，这种方法存在一定的局限性。由于绝缘子悬挂位置的差异等原因，A相绝缘子的积污状况与B、C相绝缘子的积污状况存在一定差异。利用A相绝缘子的污秽度及化学成数据对B、C相绝缘子的闪络电压数据进行分析并不是十分恰当。此外，传统方法中，在对自然积污绝缘子污闪电压试验数据进行分析时，未考虑盐类型、上下表面不均匀积污的影响。然而，这两方面却是影响污闪电压的重要因素。
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题是克服上述现有技术存在的缺陷，提供一种，通过交叉组合综合利用数量有限的自然积污绝缘子串，得到绝缘子串的污秽度、化学成分及污闪电压，在此基础上分析得到自然积污绝缘子串污闪电压的校正公式。为此，本专利技术采用的技术方案如下，其特征在于，通过交叉组合综合利用数量有限的自然积污绝缘子串，对同一基铁塔上的自然积污绝缘子串，交叉组成一部分绝缘子用于表面等值盐密(ESDD)和灰密 (NSDD)并进行化学成分分析，一部分用于污秽闪络电压试验，在此基础上，考虑盐类型、上下表面不均匀积污的影响，得到自然积污绝缘子串污闪电压与表面污秽度(等值盐密和灰密)及化学成分之间的关系；所述评估方法的具体步骤如下(a)取同一基铁塔上悬挂的带电自然积污绝缘子串3串，A、B、C三相各一串，对其中的两相绝缘子串中的各片绝缘子进行编号；(b)确定两相待进行污秽度测试及化学成分分析的绝缘子；(C)确定两相待进行污闪电压试验的绝缘子；(d)进行两相绝缘子的交叉组合，对两相中待进行污秽度测试及化学成分分析的绝缘子形成绝缘子串，然后对该绝缘子串进行污秽度测试及化学成分分析；(e)进行两相绝缘子的交叉组合，对两相中待进行污闪电压试验的绝缘子形成绝缘子串，然后对该绝缘子串进行污闪电压试验；(f)根据多组试品测量得到的等值盐密(ESDD)、灰密(NSDD)、Ca2+浓度以及污闪电压数据，通过数据拟合，得到自然积污绝缘子串的污闪电压与表面污秽度(等值盐密和灰密)及化学成分之间的量化关系。本专利技术为一种能够有效评估自然积污绝缘子外绝缘状态的方法，与传统方法相比，能够得到更为有效的自然积污绝缘子串污闪电压及绝缘子表面污秽度数据，并得到更为有效的污闪电压校正公式。下面结合说明书附图和具体实施方式对本专利技术作进一步说明。附图说明图I为本专利技术的原理图。图2为本专利技术待进行状态评估的同铁塔自然积污A相绝缘子串(即1#串)。图3为本专利技术待进行状态评估的同铁塔自然积污B相绝缘子串(即2#串)。图4为本专利技术待进行污秽度测试及化学成分分析的绝缘子串(即3#串)。图5为本专利技术待进行污闪电压试验的绝缘子串(即4#串)。具体实施例方式取某IlOkV铁塔上悬挂的带电自然积污绝缘子串3串(A、B、C三相各一串)。下面运用交叉组合方法对自然积污绝缘子串外绝缘状态进行评估，具体步骤如下①对其中A、B相绝缘子串中的各片绝缘子进行编号，如图2-3所示。②确定待进行污秽度测试及化学成分分析的绝缘子。利用1#串的1-1#、1-3#、 1-5#绝缘子以及2#串的2-2#、2-4#、2-6#绝缘子交叉组合成待进行污秽度测试的绝缘子串 (3#串)，如图4所示。③确定待进行污闪电压试验的绝缘子。利用1#串的1-2#、1-4#、1-6#绝缘子以及 2#串的2-1#、2-3#、2-5#绝缘子交叉组合成待进行污闪电压试验的绝缘子串(4#串)，如图 5所示。④对交叉组合形成的3#串中的8片绝缘子分别进行污秽度测试及化学成分分析。污秽度测试结果如表I所示。表I自然积污绝缘子的现场污秽度(SPS)测试结果权利要求1.，其特征在于，通过交叉组合综合利用数量有限的自然积污绝缘子串，对同一基铁塔上的自然积污绝缘子串，交叉组成一部分绝缘子用于表面等值盐密和灰密并进行化学成分分析，一部分用于污秽闪络电压试验，在此基础上，考虑盐类型、上下表面不均匀积污的影响，得到自然积污绝缘子串污闪电压与表面污秽度及化学成分之间的关系；所述评估方法的具体步骤如下a)取同一基铁塔上悬挂的带电自然积污绝缘子串3串，A、B、C三相各一串，对其中的两相绝缘子串中的各片绝缘子进行编号；b)确定两相待进行污秽度测试及化学成分分析的绝缘子；c)确定两相待进行污闪电压试验的绝缘子；d)进行两相绝缘子的交叉组合，对两相中待进行污秽度测试及化学成分分析的绝缘子形成绝缘子串，然后对该绝缘子串进行污秽度测试及化学成分分析；e)进行两相绝缘子的交叉组合，对两相中待进行污闪电压试验的绝缘子形成绝缘子串，然后对该绝缘子串进行污闪电压试验；f)根据多组试品测量得到的等值盐密、灰密、Ca2+浓度以及污闪电压数据，通过数据拟合，得到自然积污绝缘子串的污闪电压与表面污秽度及化学成分之间的量化关系。全文摘要本专利技术涉及一种。目前，对于同一基铁塔上取到的带电绝缘子串，选取某相绝缘子进行污秽度测试及化学成分分析，其它相绝缘子进行污闪电压试验，在此基础上进行数据分析并不是十分准确。本专利技术的特征在于，对同一基铁塔上的自然积污绝缘子串，交叉组成一部分绝缘子用于表面等值盐密和灰密并进行化学成分分析，一部分用于污秽闪络电压试验，在此基础上，考虑盐类型、上下表面不均匀积污的影响，得到自然积污绝缘子串污闪电压与表面污秽度及化学成分之间的关系。本专利技术能够得到更为有效的自然积污绝缘子串污闪电压及绝缘子表面污秽度数据，并得到更为有效的污闪电压校正公式。文档编号G01R31/12GK102608501SQ20121004811公开日2012年7月25日 申请日期2012年2月28日 优先权日2012年2月28日专利技术者刘黎, 叶自强, 吴锦华, 梅冰笑, 王少华, 罗盛, 胡文堂, 龚坚刚 申请人:浙江省电力试验研究院本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：吴锦华，胡文堂，王少华，梅冰笑，刘黎，龚坚刚，罗盛，叶自强，
申请(专利权)人：浙江省电力试验研究院，
类型：发明
国别省市：
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