干涉测量物镜制造技术

一种干涉测量物镜，其特征包含：物镜、分光镜、参照镜三部分；所述的分光镜，位于物镜下方且可360度旋转；所述的参照镜，包含一零位光阑与两个干涉条纹调节手轮，所述的零位光阑与所述的干涉条纹调节手轮都可自由调节。采用本实用新型专利技术，不需要在物镜下方安装调角工作台，只需在物镜上调节干涉条纹手轮，即可实现对干涉条纹的宽度、干涉条纹的旋转角度等参数的调节，操作方便，任何人都能操作它。另外，本干涉测量物镜在不需要使用干涉条纹时，可以关掉零位光阑，就是无限远平场复消色差物镜，一只物镜，二种用途，经济实惠。（*该技术在2021年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及测量领域的一种物镜，特别涉及一种非接触干涉测量物镜。
技术介绍
干涉测量物镜是一种非接触测量物镜，主要应用于显微镜的机体部分。然而，现有的干涉物镜，却不能在物镜上进行干涉条纹的调节，因此当需要调节干涉条纹时，要在物镜下方安装调角工作台(X轴Y轴)才能调节干涉条纹宽度。这样操作调节难度很高，一般人很难操作，使调节过程变的非常复杂。
技术实现思路
本技术要解决的技术问题是现有的干涉测量物镜，它不能在物镜上进行干涉条纹宽度的调节，要调节干涉条纹的宽度，要在物镜下方安装调角工作台(X轴Y轴)才能调节干涉条纹的宽度，其操作调节难度高，一般人很难操作。本技术解决其技术问题所采用的技术方案是提供一种干涉测量物镜，其特征包含物镜、分光镜、参照镜三部分；所述的分光镜，位于物镜下方且可360度旋转；所述的参照镜，包含一零位光阑与两个干涉条纹调节手轮，且与所述的分光镜相连，所述的零位光阑与所述的干涉条纹调节手轮都可自由调节。本技术的有益效果是采用本技术，不需要在物镜下方安装调角工作台 (X轴Y轴)，只需在物镜上调节干涉条纹手轮，即可实现对干涉条纹的宽度、干涉条纹的旋转角度等参数的调节，操作方便，任何人都能操作它。另外，本干涉测量物镜在不需要使用干涉条纹时，可以关掉零位光阑，就是无限远平场复消色差物镜，一只物镜，二种用途，经济头惠。附图说明图I是本干涉测量物镜结构示意图；其中1、物镜，2、分光镜，3、零位光阑，4、干涉条纹调节手轮。具体实施方式以下结合附图，对本技术做进一步说明。如图I所示干涉测量物镜，包含物镜I、分光镜2、零位光阑3、干涉条纹调节手轮4，其中零位光阑3和干涉条纹调节手轮4组成参照镜；所述的分光镜，位于物镜下方且可360度旋转；所述的零位光阑与所述的干涉条纹调节手轮都可自由调节。使用时，只需要调节干涉条纹手轮，就可以改变干涉条纹的宽度和干涉条纹的旋转角度等参数。另外，在不需要使用干涉条纹时，可以关掉零位光阑，就是无限远平场复消色差物镜。所述的干涉测量物镜是非接触测量物镜，只要显微镜部机体是镜筒长(F = 200mm)、无限远镜筒和带有同轴照明的，都可以使用本干涉物镜。以上显示和描述了本技术的基本原理和主要特征和本技术的优点。本行业的技术人员应该了解，本技术不受上述实施例的限制，上述实施例和说明书中描述的只是说明本技术在汉语应用中的部分有效方式，在不脱离本技术精神和范围的前提下，本技术适用于任何利用中文语言特征的验证内容，这些验证内容都落入要求保护的本技术范围内。本技术要求保护范围由所附的权利要求书及其等效物界定。权利要求1.一种干涉测量物镜，其特征包含物镜、分光镜、参照镜三部分；所述的分光镜，位于物镜下方且可360度旋转；所述的参照镜，包含一零位光阑与两个干涉条纹调节手轮，且与所述的分光镜相连。2.根据权利要求I所述的干涉测量物镜，其特征在于，所述的零位光阑与所述的干涉条纹调节手轮都可自由调节。专利摘要一种干涉测量物镜，其特征包含物镜、分光镜、参照镜三部分；所述的分光镜，位于物镜下方且可360度旋转；所述的参照镜，包含一零位光阑与两个干涉条纹调节手轮，所述的零位光阑与所述的干涉条纹调节手轮都可自由调节。采用本技术，不需要在物镜下方安装调角工作台，只需在物镜上调节干涉条纹手轮，即可实现对干涉条纹的宽度、干涉条纹的旋转角度等参数的调节，操作方便，任何人都能操作它。另外，本干涉测量物镜在不需要使用干涉条纹时，可以关掉零位光阑，就是无限远平场复消色差物镜，一只物镜，二种用途，经济实惠。文档编号G02B21/02GK202351500SQ201120353670公开日2012年7月25日 申请日期2011年9月20日 优先权日2011年9月20日专利技术者小坂春男 申请人:小坂春男本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：小坂春男，
申请(专利权)人：小坂春男，
类型：实用新型
国别省市：