一种检测逻辑电平极限值的方法及装置制造方法及图纸

发明专利技术实施例公开了一种检测逻辑电平极限值的方法及装置，包括：向基准IC和被测IC提供供电电压，向基准IC和被测IC分别提供基准驱动时序和被测驱动时序，判断基准IC根据接收的基准驱动时序返回的应答信号是否和被测IC根据接收的被测驱动时序返回的应答信号相同，若判断结果为是，则调节所述被测驱动时序的高电平，并初始化基准驱动时序，开始下一轮检测；若判断结果为否，则记录所述被测驱动时序的高电平值，并将记录的值作为被测IC的逻辑电平极限值；本发明专利技术实施例还公开了一种检测逻辑电平极限值的装置。能实现自动化检测IC的逻辑电平极限值，且提高了检测IC的逻辑电平极限值的精确度。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及电子领域，尤其涉及一种检测逻辑电平极限值的方法及装置。
技术介绍
由于受集成电路(IC, Integrated Circuit)生产工艺的制约,在实际应用中IC各项参数都会存在一定的容差，因此，检测IC的各个参数是相当重要的。逻辑电平的高低会影响IC的工作状态，因此，检测IC的逻辑电平极限值极其重要，目前，检测IC的逻辑电平极限值的方法如下计算被测IC与被测IC的下级电路的等效内电阻，然后通过人工在被测IC的输入\输出(10，ln\0ut)端口连接上拉电阻或者下拉电阻，达到逐步调高或调低逻辑电平，直到IC 无法正常工作，以此得出被测IC的逻辑电平极限值。现有技术中需要人工计算被测IC与被测IC的下级电路的等效内阻，人工拆除和焊接电阻，无法实现自动检测IC逻辑电平极限值，且在通电状态下，被测IC与被测IC的下级电路的等效电阻是不固定的，也就是说，通过在被测IC的IO端口连接上拉电阻或下拉电阻调高或调低逻辑电平，这种调节方法的精确度低，导致检测出的被测IC的逻辑电平极限值的精确度低。
技术实现思路
本专利技术实施例提供了一种检测逻辑电平极限值的方法及其装置，能实现自动化检测I本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：方南生，蔡越，
申请(专利权)人：深圳创维数字技术股份有限公司，
类型：发明
国别省市：