一种提供电阻式触碰位置信息的检测装置与应用其的检测系统，适用于检测待测单元。待测单元根据电阻式触碰位置来执行功能。此检测装置包括电阻式触碰位置产生单元、切换单元以及控制单元。电阻式触碰位置产生单元由多个电阻组成，用以产生触碰位置。切换单元用以切换触碰位置信息的坐标值。控制单元控制切换单元与待测单元的运作，选择性地控制触碰位置信息的坐标值。待测单元执行关联于坐标值的功能并输出测试结果，而控制单元根据测试结果来判断待测单元所执行的功能是否正常。本检测装置与检测系统主要是提供电阻式触碰位置信息，以供待测单元进行测试，不需经由实体触控面板即可测试待测单元，从而提高测试速度及测试准确性。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种检测技术，尤其涉及一种提供电阻式触碰位置信息的检测装置与应用其的检测系统。
技术介绍
随着信息技术、无线行动通信和信息家电的快速发展与应用，为了携带更便利、体积更轻巧化以及操作更人性化的目的，许多的信息产品已由传统的键盘或鼠标等输入装置，加入触控面板(Touch Panel)作为输入装置。一般具有电阻式触控面板的产品，例如，具触控式面板的手机、个人数字助理机 (personal digital assistant, PDA)，在进行测试时需经由人为触碰或经由测试机构，来触碰面板的特定位置，以进行此产品的功能测试。然而，人为触碰方式有可能因人为的精神不济而有触碰位置不对的情况。这种藉由实体面板进行互动的测试方式相当耗时，且所需的成本较高。此外，对于触控面板的测试位置与测试多少也会影响测试速度及测试准确性。 关于测试机构的设计也相当复杂。如何实现一种检测治具而可以对电阻式触控面板的电路板在进行测试时，不使用实体的电阻式触控面板，以方便测试人员进行测试，这是一个有待克服的课题。
技术实现思路
本专利技术提供一种提供电阻式触碰位置信息的检测装置与应用其的检测系统，在检测待测单元(待测电路板)时不需安装高成本的触控面板，可以提高测试速度及测试准确性。本专利技术提出一种提供电阻式触碰位置信息的检测装置，适用于检测待测单元。所述待测单元根据电阻式触碰位置来执行功能。所述检测装置包括电阻式触碰位置产生单元、切换单元以及控制单元。所述电阻式触碰位置产生单元由多个电阻组成，用以产生触碰位置信息。所述切换单元耦接所述电阻式触碰位置产生单元，用以切换所述触碰位置信息的坐标值。所述控制单元耦接至所述切换单元与所述待测单元，所述控制单元控制所述切换单元与所述待测单元的运作，选择性地控制所述触碰位置信息的所述坐标值，所述待测单元执行关联于所述坐标值的功能并输出测试结果，而所述控制单元根据所述测试结果来判断所述待测单元所执行的功能是否正常。本专利技术另提出一种提供电阻式触碰位置信息的检测系统。所述检测系统包括待测单元、电阻式触碰位置产生单元、切换单元以及控制单元。所述待测单元根据电阻式触碰位置来执行功能。所述电阻式触碰位置产生单元由多个电阻组成，用以产生触碰位置信息。所述切换单元耦接所述电阻式触碰位置产生单元，用以切换所述触碰位置信息的坐标值。所述控制单元耦接至所述切换单元与所述待测单元，所述控制单元控制所述切换单元与所述待测单元的运作，选择性地控制所述触碰位置信息的所述坐标值，所述待测单元执行关联于所述坐标值的功能并输出测试结果，而所述控制单元根据所述测试结果来判断所述待测单元所执行的功能是否正常。在本专利技术的一实施例中，所述电阻式触碰位置产生单元包括第一串联电阻以及第二串联电阻。第一串联电阻具有多个第一输出端，用以提供所述坐标值的第一轴向位置，其中这些第一输出端的每一个位于所述第一串联电阻上的两个电阻的连接点上。第二串联电阻具有多个第二输出端，用以提供所述坐标值的第二轴向位置，其中这些第二输出端的每一个位于所述第二串联电阻上的两个电阻的连接点上。在本专利技术的一实施例中，所述切换单元包括多个开关，每一这些开关具有一控制端，这些第一输出端与这些第二输出端所各别对应的一线路上耦接这些开关的其中一个， 而所述控制单元控制每一这些开关的所述控制端，以决定所述线路是否导通。在本专利技术的一实施例中，所述第一串联电阻与所述第二串联电阻中的每一电阻是藉由对触控面板的实际触碰位置进行等效电阻计算而获得。在本专利技术的一实施例中，所述控制单元与该切换单元连接，控制所述切换单元，以提供所述待测单元运作时所需的操作电压。在本专利技术的一实施例中，所述检测装置与应用其的检测系统还包括输入输出单元，所述输入输出单元耦接至所述控制单元与所述待测单元，其中所述控制单元通过所述输入输出单元传送命令至所述待测单元，且所述控制单元与所述待测单元通过所述输入输出单元进行双向数据传送。基于上述，本专利技术的检测装置与检测系统主要是提供电阻式触碰位置信息，以供待测单元(待测电路板)进行测试。如此一来，不需经由实体触控面板即可测试待测单元， 从而提高测试速度及测试准确性。为让本专利技术的上述特征和优点能更明显易懂，下文特举实施例，并配合附图作详细说明如下。附图说明图1是依照本专利技术一实施例的检测系统的方框图。图2是依照本专利技术另一实施例的检测系统的方框图。图3A是根据本专利技术实施例，说明触控区域310的上电极板与下电极板的示意图。图;3B说明触控区域310在X轴方向的等效电阻换算示意图。图3C说明触控区域310在Y轴方向的等效电阻换算示意图。图4是根据本专利技术实施例，说明实际触碰位置的坐标图。图5是依照本专利技术另一实施例的检测系统的方框图。主要元件符号说明100 检测系统110:检测装置120 控制单元I3OU3OAU3OB 切换单元200 检测系统210 检测装置220 第一串联电阻230 第二串联电阻310:触控区域320:上电极板330:下电极板500 检测系统510 检测装置520 控制单元530:切换接口540 切换单元550 输入输出单元II、12:电流POSl P0S5 触碰位置RXA、RXB、RYA、RYB 电阻S_TU:电阻式触碰位置产生单元TR 测试结果UUT 待测单元VCC:工作电压V1、V2:电压X、Y 轴XL、XR:第一对轴向端Xl X5 第一输出端YU、YD:第二对轴向端Yl Y5 第二输出端(Xa, Yn)、(Xa, Ya)、(Xe，Yc)、(Xn, Yn)、(Xn, Ya)实际坐标值(X，，Y，)坐标值具体实施例方式现将详细参考本专利技术的实施例，并在附图中说明所述实施例的实例。另外，凡可能之处，在附图及实施方式中使用相同元件符号的元件/构件代表相同或类似部分。图1是依照本专利技术一实施例的检测系统的方框图。请参照图1。检测系统100包括检测装置110以及待测单元(unit under test)UUT0于此实施例的检测系统100中，检测装置110适用于检测待测单元UUT，其中待测单元UUT可以是用于手机或个人数字助理机(PDA)的电路板，但并不限制于此，而待测单元UUT(也即待测电路板)根据电阻式触碰位置来执行功能。在此，为了方便说明，先将电阻式触控面板的触碰位置定义为X轴向与Y 轴向，而且以坐标值(X’，Y’)表示为触碰位置信息的坐标值，其中X’表示在X轴向的位置， 而Y’表示在Y轴向的位置。检测装置110可以包括电阻式触碰位置产生单元S_TU、切换单元130以及控制单元120。本实施例的电阻式触碰位置产生单元3_ 不包括实体电阻式触控面板，而是由多个电阻组成，主要是用来产生模拟电阻式触控面板的触碰位置信息。关于电阻式触碰位置产生单元S_TU的详细架构将于后续的实施例中描述。切换单元130可以耦接至控制单元120与电阻式触碰位置产生单元S_TU，而控制单元120可以耦接至切换单元130与待测单元UUT。其中，控制单元120可以控制切换单元130与待测单元UUT的运作，并且选择性地控制触碰位置信息的坐标值(X’，Y’)，以使坐标值(X’，Y’ )输出至待测单元UUT。如此一来，待测单元UUT即可执行关联于坐标值(X’， Y’)的功能并输出测试结果TR，藉以致使控制单元本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：陈振兴，
申请(专利权)人：泰金宝电通股份有限公司，金宝电子工业股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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