焦度计制造技术

技术编号:7501731 阅读:189 留言:0更新日期:2012-07-11 02:04
本发明专利技术提供一种可以测量单焦式透镜的度数的偏差,且易于判定度数的偏差的焦度计。该焦度计具有测量光学系统,该测量光学系统具有测量光轴被配置在中心的规定图案的多个测量目标、和对基于穿过被检镜片以及所述测量目标的测量光束的目标图像进行受光的受光元件,关于测量单焦式透镜的屈光度数的焦度计具有:测量度数算出单元,其基于通过受光元件被受光的目标图像,求得镜片的光学中心部分的第1屈光度数,并求得镜片的光学中心的周边部分的屈光度数分布;变化度数分布算出单元,其算出相对于基准度数的屈光度数分布的相对的变化的度数分布,将基准度数设为第1屈光度数、或者将基准度数设为将所述第1屈光度数舍入为规定的度数等级后的第2屈光度数;和输出根据所述变化度数算出单元所算出的变化度数分布的输出单元。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种测量被检镜片的屈光度数(光学特性)的焦度计
技术介绍
已知有以下这样的焦度计,其将测量光束投光到被检镜片,透过了被检镜片的测量光束在受光元件受光,从而得到被检镜片的屈光度数(光学特性)(例如,参考专利文献 1)。关于单焦式镜片的测量,是通过使镜片的光学中心相对于测量光学系统的测量光轴在规定的容许范围内校准,由此来测量镜片的光学中心部分的屈光度数(球面度数S、散光度数C、散光轴角度A),测量结果在显示器等的显示部显示。又,为了易于测量渐进式透镜的远视部以及近视部,还提出了以下这样的焦度计, 其具有测量光学系统,该测量光学系统具有测量光轴被配置在中心的规定图案的多个测量目标、和对基于通过了被检透镜以及测量目标的测量光束的目标图像受光的受光元件,该焦度计基于利用受光元件所受光的目标图像,可以测量旋座内的测量区域内的度数分布。 关于该焦度计,在单焦式透镜的测量时,也只是基于以测量光轴为中心由受光元件所受光的特定的目标图像,或者基于将度数分布平均化处理后的结果,将透镜的光学中心部分的一个(S以及C的一组)屈光度数作为测量结果并进行显示。现有技术文献专利文献专利文献1 日本特开2008-241694号公报
技术实现思路
专利技术要解决的课题历来,透镜制造商判定单焦式透镜合格与否时,在透镜的光学中心部分相对于测量光学系统的测量光轴在规定的容许范围内被校准了的状态下,基于在透镜的光学中心部分所得到的屈光度数是否在规定的容许误差内来进行判定的。但是,关于单焦式透镜,在透镜的制造过程中,相对于光学中心部分的度数,其周边部分的度数的偏差较大,其中存在产生超出容许误差的情况。如果不检查超过这样的容许误差的度数的偏差,仅通过光学中心部分的屈光度数判定合格与否的话,屈光度数的偏差大的透镜没有成为不良品,恐怕会存在不良品就这样被出货并被提供给客户这样的问题。鉴于上述现有技术的问题,本专利技术提供一种可以测量单焦式透镜的度数的偏差, 且易于判定度数的偏差的焦度计。解决课题的方法为了解决上述课题,本专利技术具有以下那样构成的特征。一种焦度计,该焦度计测量被检镜片的屈光度数,并具有测量光学系统,为了测量包含被检镜片的光学中心的规定区域内的屈光度数分布,所述测量光学系统具有测量光轴被配置在中心的规定图案的多个测量目标、和对基于穿过被检镜片以及所述测量目标的测量光束的目标图像进行受光的受光元件,所述焦度计具有测量度数算出单元,其基于通过所述受光元件被受光的目标图像,求得镜片的光学中心部分的第1屈光度数,并求得镜片的光学中心的周边部分的屈光度数分布;变化度数分布算出单元,其算出相对于基准度数的所述屈光度数分布的相对的变化的度数分布,将所述基准度数设为所述第1屈光度数、或者将所述基准度数设为将所述第1屈光度数以规定的度数等级舍入后的第2屈光度数;和输出根据所述变化度数算出单元所算出的变化度数分布的输出单元。专利技术的效果根据本专利技术,可以测量单焦式透镜的度数的偏差,且易于判定度数的偏差。附图说明图1是焦度计的外观简图。图2是光学系统和控制系统的概略构成图。图3是说明栅格板的构成的图。图4是说明校准画面的图。图5是说明第1地图显示部的图。图6是说明第2地图显示部的图。图7是说明第3地图显示部的图。图8是表示容许误差的表格。图9是表示度数分布的变化量的图表。图10是表示第2实施方式的构成的图。符号的说明4 旋座14栅格板15受光传感器10测量光学系统40控制单元70第1地图显示部80第2地图显示部90第3地图显示部200计算机具体实施例基于附图,对本专利技术的实施方式进行说明。图1是本实施方式的焦度计的外观简图。焦度计1具有有接触面板功能的液晶显示器2、输入操作信号等的开关部3、载置镜片(被检透镜)LE的透镜载置台的旋座4、从上方按压镜片LE的镜片按压部5、使框入了镜片LE的眼镜框架F抵接的镜片托6、标记机构7和用于读取镜片LE的屈光度数数据的 READ开关8。在显示器2显示测量结果或校准用的目标等的测量所需的信息。又,还在显示器2 显示用于使镜片LE的度数分布在视觉上易于分辨的彩色图面(图形)。开关部3与在显示器2上所表示的开关显示相对应地配置,通过开关部3的操作进行测量模式的切换等。作为测量模式,有单焦式透镜的测量模式和渐进式透镜的测量模式。关于单焦式透镜的测量模式,有仅表示屈光度数的第1测量模式和除显示屈光度数之外还用图形显示度数分布的第2测量模式。旋座4是具有开口如的筒状的部件。测量光学系统的光轴穿过旋座4内。 镜片按压部5能够上下运动地被保持在旋座4的上方。通过降下镜片按压部5,被载置在旋座4上的镜片LE被稳定地保持。镜片托6具有能相对于旋座4在前后方向(图中箭头A方向)移动的滑动机构。 关于框入眼镜框架F中的镜片LE的测量,通过使框架F的下边缘(眼镜框以及镜片的上下是指佩戴眼镜时的上下)抵接于镜片托6,从而能够稳定地保持框架F。因此,能够不偏离镜片LE的散光轴角度地移动框架F,可以精确地测量镜片LE的散光轴角度A。同样地,可以精确地测量渐进式镜片的远视部以及近视部。通过按压开关8,测量值在显示器2上被保留显示,且测量值被存储在装置内部的存储器中。图2是光学系统和控制系统的概略构成图。在测量光学系统10的测量光轴Ll上, 配置有各光学部件。测量光学系统10具有LED等的测量光源11、准直透镜12、镜子13、作为形成有规定图案的多个测量目标的测量目标板的栅格板14和二维受光传感器15。栅格板14被保持在主体1的保持部件16中,且旋座4的开口如位于栅格板14之上。开口如是直径为8mm的圆形。在总括地控制装置整体的控制单元40上,连接有测量光源11、受光传感器(受光元件)15、显示器2、开关部3、开关8和存储器41。在存储器41中,存储有焦度计1的控制程序41a。作为程序41a,包含有用于计算单焦式透镜的光学中心的屈光度数以及光学中心的周边部分的度数分布的运算处理、显示测量结果的显示处理、加工测量结果的加工处理等的处理(模块)。控制单元40进行这些处理。又,在存储器41中存储有设定信息、测量结果。被存储在存储器41中的测量结果,被加工用于数据输出,可以输出至外部装置。图3是表示被形成在栅格板14上的目标图案的示意图。栅格板14的外径形成得比旋座4的开口如的内径略大。在栅格板14上形成有具有几何学图案的许多测量目标 20,以便检测者不移动透镜,也可以同时测量开口如内的透镜的折射率分布。本实施方式中的测量目标20是多个圆形孔被设置为点阵状。更具体地说,测量目标20包括测量光轴 Ll穿过的、在中心位置形成的直径0. 4mm的中心孔21和在中心孔21的周围、以点阵状配置的直径0.2mm的多个小孔22。小孔22以0. 5mm的间距分布为点阵状。测量目标20通过在栅格板14的后面施加使孔21以及孔22为白色的黑Cr涂敷而形成。中心孔21是用于确定其他的孔22的对应关系的基准目标。即,对于镜片LE未放置在光路上的状态的“0D基准”,中心孔21作为用于确定与放置镜片LE时相对应的各目标图像的基准目标而被使用。 基准目标可以与其他的测量目标区别的话,不限定于栅格板14的中心,也可以在其它的位置,对其个数和形状也不作限定。形成在栅格板14所的多个孔成为点状本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
2010.09.30 JP 2010-2221351.一种焦度计,该焦度计测量被检镜片的屈光度数,并具有测量光学系统,为了测量包含被检镜片的光学中心的规定区域内的屈光度数分布,所述测量光学系统具有测量光轴被配置在中心的规定图案的多个测量目标、和对基于穿过被检镜片以及所述测量目标的测量光束的目标图像进行受光的受光元件,所述焦度计的特征在于,具有测量度数算出单元,其基于通过所述受光元件被受光的目标图像,求得镜片的光学中心部分的第1屈光度数,并求得镜片的光学中心的周边部分的屈光度数分布;变化度数分布算出单元,其算出相对于基准度数的所述屈光度数分布的相对的变化的度数分布,将所述基准度数设为所述第1屈光度数、或者将所述基准度数设为将所述第1屈光度数舍入为规定的度数等级后的第2屈光度数;和输出根据所述变化度数算出单元所算出的变化度数分布的输出单元。2.如权利要求1所述的焦度计,其特征在于,具有设定相对于所述基准度数的容许误差的容许误差设定单元,所述容许误差用于判断单焦式镜片的屈光度数检查合格与否,所述输出单元进一步输出表示在所述变化度数分布中是否有在所述容许误差之外的部分的信息。3.如权利要求2所述的焦度计,其特征在于,所述输出单元具有包含显示器的显示单元,所述显示单元在所述显示器的画面上显示表示所述变化度数分布的第1图形、和表示所述变化度数分布的各度数是否在所述容许偏差之外的第2图形。4.如权利要求3所述的焦度计,其特征在于,所述变化度数分布算出单元是算出球面度数和散光度数各自的变化度数分布的单元,所...

【专利技术属性】
技术研发人员:梶野正
申请(专利权)人:株式会社尼德克
类型:发明
国别省市:

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