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本发明提供一种可以测量单焦式透镜的度数的偏差，且易于判定度数的偏差的焦度计。该焦度计具有测量光学系统，该测量光学系统具有测量光轴被配置在中心的规定图案的多个测量目标、和对基于穿过被检镜片以及所述测量目标的测量光束的目标图像进行受光的受光元件...
该专利属于株式会社尼德克所有，仅供学习研究参考，未经过株式会社尼德克授权不得商用。

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