【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及驱动半导体开关元件的栅极驱动电路,特别涉及能够使半导体开关元件高速地进行开关的栅极驱动电路。
技术介绍
在以往的栅极驱动电路中,作为半导体开关元件MOSFET (Metal-Oxide-Semicondu ctor Field-Effect Transistor,金属氧化物半导体场效应晶体管)的栅极驱动电路,一般使用串联连接了晶体管、MOSFET的缓冲器电路。在该电路中,通过对缓冲器的基准电位施加负偏置,从而在MOSFET截止时能够使栅极电压成为负,所以能够防止半导体开关元件的开关的误动作(例如,参照专利文献1)。专利文献1 日本特开平7-M5557号公报(第3页、第1图)
技术实现思路
半导体开关元件在开关时的过渡状态期间产生传导损耗。伴随半导体开关元件的大容量化,传导损耗也会增加,但以往通过半导体开关元件的高速开关化来使过渡状态期间缩短,并降低了传导损耗。近年来,伴随利用宽带隙半导体形成的半导体开关元件的实用化,能够实现更高速的开关,期待降低传导损耗。但是,存在如下问题=MOSFET的驱动电路的驱动能力不足,无法使半导体开关元件的能力充分发挥。另 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...
【专利技术属性】
技术研发人员:北村达也,中武浩,中山靖,
申请(专利权)人:三菱电机株式会社,
类型:发明
国别省市:
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