一种覆膜机，其用以对基板进行覆膜，其特征在于：覆膜机包含一光学检测器，在对基板进行覆膜之前与后，分别由光学检测器检测基板上的微粒及经覆膜后的基板上的气泡。利用光学检测器来检测基板在覆膜前的落尘附着在基板的情况，以及检测基板在覆膜后的气泡产生的情况，可及时发现覆膜不良的基板，以达到提高基板覆膜的总体良率的效果。（*该技术在2021年保护过期，可自由使用*）
【技术实现步骤摘要】
覆膜机
本技术有关于一种覆膜机，特别有关于针对触控面板的基板进行覆膜的覆膜机。
技术介绍
由于科技的进步，例如计算机、PDA、智能型手机或平板计算机等具有强大功能的智能型装置纷纷出炉。许多智能型装置安装有触控面板，以供使用者以触控方式来操作智能型装置。触控面板的产品中最主要的组件是玻璃，因此在该产品出货之前(如以雷射切割玻璃之后或在玻璃贴合阶段)，需要在玻璃表面上贴覆一层保护膜，以防止玻璃的表面因刮伤或落尘微粒等造成玻璃脏污。这层保护膜贴覆在玻璃上需要达到在覆膜后不能在贴膜与玻璃之间产生气泡。习知在覆膜制程中，皆是由操作人员用肉眼的方式来检查玻璃覆膜前后的质量是否达到标准(即是否有落尘或气泡)。然而，习知的人为检查方式容易因为不同操作人员、 不同时间、工作时程过长等因素而造成判断标准不一致且较不客观，因此对于覆膜的品质及稳定性而言是一个不利的因素，进而降低玻璃覆膜的良率。
技术实现思路
本技术提供一种覆膜机，利用覆膜机的检测装置以同一标准来检测基板在覆膜前的落尘附着在基板的情况，以及检测基板在覆膜后的气泡产生的情况，藉此提升覆膜的质量及稳定性以进一步提高基板的覆膜良率。本技术提供一种覆膜机，包含—覆膜平台，用来承载至少一基板以供覆膜；及一光学检测器，用来检测覆膜前后该覆膜平台上的该基板的品质。进一步地，根据本技术的覆膜机，其中，该光学检测器包含复数个光学耦合组件。进一步地，根据本技术的覆膜机，其中，该覆膜平台进一步包含一旋转机构；及复数个承载治具，设置于该旋转机构上，分别用来承载该基板。进一步地，根据本技术的覆膜机，进一步包含一载膜平台；一卷膜机构，装载一贴有贴膜的胶带，并且输送该贴有贴膜的胶带至该载膜平台；一吸膜治具，用来吸附并剥离该载膜平台上的贴膜，并将该贴膜贴合于该承载治具上的基板；一定位传感器，侦测该吸膜治具所吸附的贴膜的位置；以及一可程序逻辑控制器，控制该覆膜平台、该卷膜机构及该吸膜治具的运作，并且进一步根据该定位传感器的侦测结果来控制该吸膜治具进行一定位程序；以及根据该光学检测器的检测结果来产生一提示讯息。进一步地，根据本技术的覆膜机，其中，该卷膜机构包含一出膜料盘，装载并卷动出该贴有贴膜的胶带；至少一滚筒，设置于该出膜料盘下游，用来支撑及输送该贴有贴膜的胶带；以及一回收料盘，卷动回收该已剥离贴膜的胶带。进一步地，根据本技术的覆膜机，进一步包含一卷膜机构，用来输送及承载一贴有贴膜的胶带；一滚轮压头装置，用来剥离该卷膜机构上的贴膜，以将该贴膜滚压贴合至该基板；一标头系统，控制该卷膜机构及该滚轮压头装置的移动；—定位传感器，侦测该卷膜机构上的该贴有贴膜的胶带的位置；以及一可程序逻辑控制器，控制该覆膜平台及该标头系统的运作，并且进一步根据该定位传感器的侦测结果来控制该标头系统进行一定位程序；以及根据该光学检测器的检测结果来产生一提示讯息。进一步地，根据本技术的覆膜机，其中，该卷膜机构包含一出膜料盘，装载并卷动出该贴有贴膜的胶带；至少一滚筒，设置于该出膜料盘下游，用来输送及承载该贴有贴膜的胶带；以及一回收料盘，卷动回收该已剥离贴膜的胶带。附图说明图1为本技术的覆膜机的第一实施例立体图；图2为本技术的覆膜机的第一实施例侧视图；图3为本技术的覆膜机的第一实施例后视图；图4为本技术的覆膜机的第一实施例俯视图；图5为本技术的覆膜方法的第一实施例流程图；图6为本技术的覆膜机的第二实施例立体图；图7为本技术的覆膜机的第二实施例侧视图；图8为本技术的覆膜机的第二实施例后视图；图9为本技术的覆膜机的第二实施例俯视图；以及图10为本技术的覆膜方法的第二实施例流程图。具体实施方式参考以下实施例，以说明本技术的覆膜机及覆膜方法的实施态样。其中，覆膜机大致可分为小尺寸的覆膜机及大尺寸的覆膜机，所谓的小尺寸的覆膜机适用于例如5英吋以下的基板的覆膜，大尺寸的覆膜机适用于例如5至15英吋的基板的覆膜。此外，所述的基板可例如是采用玻璃、塑料、压克力等材质，在此并无加以限制。请参考图1至图4，分别为本技术的覆膜机的第一实施例立体图、侧视图、后视图及俯视图。其中，第一实施例是例如用来说明小尺寸的覆膜机的实际实施态样。在图1至图4中，覆膜机20包含有一覆膜平台22、一卷膜机构M、一载膜平台26、 一吸膜治具观、一定位传感器30、一光学检测器32及一可程序逻辑控制器34。其中，可程序逻辑控制器34用来控制覆膜平台22、卷膜机构M及吸膜治具观的运作。覆膜平台22包含一旋转机构23及数个承载治具36 (本实施例为四个承载治具 36)。其中，该等承载治具36设置于旋转机构23上，分别用来承载一块基板38。可程序逻辑控制器34控制覆膜平台22的旋转机构23以每次旋转90度的方式进行运作，使得个别置放在每一承载治具36上的基板38得以依序进行检测或覆膜。卷膜机构M包含有一出膜料盘40、滚筒42及一回收料盘44。出膜料盘40装载及卷动出贴有贴膜(例如离型膜)的胶带至载膜平台沈的位置处。滚筒42设置于出膜料盘40的下游，用来支撑及输送贴有贴膜的胶带。回收料盘44卷动回收已剥离贴膜的胶带。 具体来讲，可程序逻辑控制器34控制出膜料盘40卷动出贴有贴膜的胶带，并经由滚筒42 卷动而输送至载膜平台沈的位置处，并控制回收料盘44经由滚筒42卷动回收已剥离贴膜的胶带。其中，当可程序逻辑控制器34判断出卷膜机构M所装载的胶带用完时，可程序逻辑控制器34将发出一提示讯息(如警示声音、闪光等)，以通知操作人员进行胶带的更换。可程序逻辑控制器34控制吸膜治具28移动至载膜平台沈的位置处，以进一步吸附并剥离贴膜，然后控制吸膜治具观移动至承载治具36以将贴膜贴合至基板38上。此外，本实施例所设计的定位传感器30，其是用来侦测吸膜治具观所吸附的贴膜的位置。而可程序逻辑控制器34根据定位传感器30的侦测结果来进一步控制吸膜治具观进行一定位程序。其中，本实施例的定位传感器30可例如由一凹槽限位开关及一光纤组成。再者，光学检测器32由数个光学耦合组件(如电荷耦合装置(Charge Coupled Device，(XD)) 46组成，本实施例举例是由两个光学耦合组件46所组成，以由光学检测器32 的其中一个光学耦合组件46检测置放在承载治具36上的未覆膜的基板38上的表面刮伤或落尘微粒等脏污，而由光学检测器32的另一个光学耦合组件46检测置放在承载治具36 上的经覆膜的基板38上的气泡。待任一光学耦合组件46检测完成之后，可程序逻辑控制器34即根据光学检测器32的检测结果来产生一提示讯息。如此一来，本实施例的可程序逻辑控制器34便可根据光学检测器32 (两个光学耦合组件46)的检测结果来判断基板38 在覆膜前与后的状况。承上所述的架构，以图4的俯视图来进一步举例说明，本实施例的四个承载治具 36例如是分别置放于旋转机构23的0° (上)、90° (右)、180° (下)及270° (左)之位置；而两个光学耦合组件46则分别是设计在0°及180°的位置的上方。如此一来，假设旋转机构23是以顺时针方向每次旋转90度，则操作人员即可固定地在旋转至90°的位置的承载治具36上来取出已覆本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：林坤荣，刘晓冬，
申请(专利权)人：瑞世达科技厦门有限公司，
类型：实用新型
国别省市：
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