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一种基于光纤光栅时域反射技术的光谱仪制造技术

技术编号:7396971 阅读:127 留言:0更新日期:2012-06-02 14:46
一种基于光纤光栅时域反射技术的光谱仪,属光纤光栅光谱仪技术领域,包括待测光源、光调制器、数据采集和处理装置等,其特征在于光调制器位于待测光源的后面,光调制器后面经光纤和2×2光纤耦合器的一个输入端相连接;2×2光纤耦合器的一个输出端经光纤和光纤光栅组相连接,另一个输出端经光纤连接到光电探测器上;2×2光纤耦合器的另一个输入端经光纤连接到光电探测器上;光电探测器输出端连接到信号整形和放大电路,信号整形和放大电路输出端连接到数据采集和处理装置的接口上,由光电探测器送出的电信号经过整形和放大之后传输到数据采集和处理装置上进行信号处理。本实用新型专利技术具有结构简单合理、体积小、成本低的特点。(*该技术在2021年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种基于光纤光栅时域反射技术的光谱仪,属光纤光栅光谱仪

技术介绍
光谱检测广泛的应用在实验室和实际的生产应用中。目前,公知的光谱仪是由棱镜或衍射光栅,同时配合光电探测器等部件构成。目前普遍使用的光栅光谱仪利用棱镜或衍射光栅的色散作用,使得不同波长的谱线在位置上彼此分开,照射到光电探测器上,得到入射光的光谱。可以具有较宽的光谱范围。由于设计中光路的需求,仪器的体积较大,成本较高,同时设计时不能个性化的选择高精度的测量区间,如烟台东方分析仪器有限公司生产的DF-100E直读光谱仪即属于此列。因此迫切的需要一种简单易行的方法来解决上述问题。
技术实现思路
为了克服现有的光谱仪所存在的缺陷和不足,本技术提供一种基于光纤光栅时域反射技术的光谱仪,该光谱仪不仅能测出被测光的光谱,而且能方便地在设计制作时根据需要个性化的选择高精度的测量区间,同时仪器体积较小,成本低。本技术的技术方案如下一种基于光纤光栅时域反射技术的光谱仪,包括待测光源、光调制器、2X2光纤耦合器、光纤光栅组、光电探测器、信号整形和放大电路及数据采集和处理装置,其特征在于光调制器位于待测光源的后面,光调制器后面经光纤和2X2光纤耦合器的一个输入端相连接;2X2光纤耦合器的一个输出端经光纤和光纤光栅组相连接,另一个输出端经光纤连接到光电探测器上;2X2光纤耦合器的另一个输入端经光纤连接到光电探测器上;光电探测器输出端连接到信号整形和放大电路,信号整形和放大电路输出端连接到数据采集和处理装置的接口上,由光电探测器送出的电信号经过整形和放大之后传输到数据采集和处理装置上进行信号处理。所述的光电探测器是响应时间较短的光电二极管。所述的数据采集和处理装置是单片机或是计算机。所述的光纤光栅组是由不同中心反射波长的光纤光栅经光纤串连连接而成。本技术中的光路传输过程为待测光源通过光调制器使得进入光路的是一个光脉冲,光脉冲经过一个2X2的光纤耦合器之后,光分成两路,一路进入到光电探测器中, 由数据采集和处理装置采集时间数据;一路进入到光纤光栅组中,不同波长成分的光先后经过经相应的中心反射波长的光纤光栅反射后沿原光路返回,经2X2的光纤耦合器后输出到光电探测器中完成光电信号转换,再经过信号整形和放大电路对信号加以必要的预处理。经过数据采集和处理装置计算不同波长光的返回时间差,同时对照光纤光栅组在光纤中的位置完成待测光源的波长成分的检测。检测波长成分的同时,对不同波长的光成分进行系统的传输损耗修正和探测器响应修正,得出出射光的光强,绘制出完整的光谱图。本技术的工作原理如下利用光纤光栅对不同波长的光选择性反射特性,可以制作多组光纤光栅排成光纤光栅组,光纤光栅之间辅以必要的光纤连接,以使得先后反射的光在到达光电探测器时可以分辨,使待测光从光纤光栅组中通过,若光中含有的波长成分符合通过的光纤光栅的中心反射波长,则反射,沿原光路返回,其他波长成分的光继续传播,继而直到所有符合光纤光栅组中光栅中心反射波长的波长成分的光均被反射从光路返回为止。而每个光纤光栅的位置信息已知,通过记录待测光进入光纤光栅组的时间和反射回的光的时间,得出传播时间差At =,进而可通过光的传播速度和时间差的关系由以下公式计算出该反射光传播距离L = (3Δ72,再对照光纤光栅组得出具体由哪个光纤光栅反射,进而得出该反射光的波长。同时根据光在光路中传播的损耗情况,对光电探测器接收到的光强进行修正,进而得到按照波长展开的光强分布,即待测光的光谱。光纤光栅最显著的就是其自身的反射效应。我们知道,光纤光栅的中心反射波长可表示为λ8 = 2nrffA。式中,Λ是光栅周期,nrff是光栅区得有效折射率。而现有的工艺条件下,光纤光栅的中心反射波长带宽可以缩小到0. Inm左右。在实际设计时,可以在光纤传输损耗较小的波段1200nm-1600nm之间进行广谱的光谱仪设计,也可以根据实际的需要在该波段内个性化的选择需要高精度测量的区间。本技术的有益效果是,结构简单合理可行,可以在在测量区间内大幅度提高测量精度,有效的控制光谱仪的仪器体积和成本。附图说明以下结合附图和实施例对本技术进一步说明。图1是本技术的结构示意图。其中1、待测光源;2、光调制器;3、2X2光纤耦合器;4、光纤;5、光纤光栅组;6、光纤; 7、光纤;8、光纤;9、光电探测器;10、信号整形和放大电路;11、数据采集和处理装置。具体实施方式以下结合附图和实施例对本技术作进一步说明,但不限于此。实施例1:本技术实施例1如图1所示,一种基于光纤光栅时域反射技术的光谱仪,包括待测光源1、光调制器2、2X2光纤耦合器3、光纤光栅组5、光电探测器9、信号整形和放大电路10、数据采集和处理装置11,其特征在于光调制器2位于待测光源1的后面,光调制器 2后面经光纤和2 X 2光纤耦合器3的一个输入端相连接;2 X 2光纤耦合器3的一个输出端经光纤8连接到光电探测器9上,另一个输出端经光纤4和光纤光栅组5相连接;2X2光纤耦合器3的另一个输入端经光纤7连接到光电探测器9上,光电探测器9输出端连接到信号整形和放大电路10上,信号整形和放大电路10输出端连接到数据采集和处理装置11 的接口上,由光电探测器9送出的电信号经过整形和放大之后传输到数据采集和处理装置 11上进行信号处理。所述的数据采集和处理装置11是单片机。所述的光电探测器9是响应时间较短的光电二极管。所述的光纤光栅组5是由不同中心反射波长的光纤光栅经光纤串连连接而成。实施例2 和实施例1相同,只是所述的数据采集和处理装置11是计算机。本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于光纤光栅时域反射技术的光谱仪,包括待测光源、光调制器、2X2光纤耦合器、光纤光栅组、光电探测器、信号整形和放大电路及数据采集和处理装置,其特征在于光调制器位于待测光源的后面,光调制器后面经光纤和2X2光纤耦合器的一个输入端相连接;2X2光纤耦合器的一个输出端经光纤和光纤光栅组相连接,另一个输出端经光纤连接到光电探测器上;2X2光纤耦合器的另一个输入端经光纤连接到光电探测器上;光电探测器输出端连接到信号整形和放大电路,信号整形和放大电路输出端连接到数据采...

【专利技术属性】
技术研发人员:刘永宁孙兆宗黄越常军王照勇
申请(专利权)人:山东大学
类型:实用新型
国别省市:

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