模拟单元制造技术

在A/D变换单元(11)的使用现场，通过对将模拟输入值(Sa)输入至A/D变换电路(12)时的ADC码(Cd)进行测量，从而测定用户测量值(uP1)，用户设定值计算部(15)基于1个点的用户测量值(uP1)、工厂补偿值(Fo)以及工厂增益值(Fg)，对用户补偿值(Uo)以及用户增益值(Ug)进行计算，将计算出的用户补偿值(Uo)以及用户增益值(Ug)存储在非易失性存储器(14)中。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及一种模拟单元，特别地，涉及一种模拟单元输出值的校正方法。
技术介绍
在模拟单元中，为了对每个通路的变换特性的波动进行校正，而进行模拟单元的输出值的校正。在该模拟单元的输出值的校正中，通常进行补偿值以及增益值的2个点的测量，在这2个点之间以直线进行近似。另外，在专利文献1中公开了下述方法，S卩，为了对A/D变换时的非直线性进行补偿，而将向A/D变换装置输入的输入电压范围Vmin Vmax，以中心电压Vc为边界2等分为区域1和区域2，在区域1中近似为近似直线L11，在区域2中近似为近似直线L12。另外，在专利文献2中公开了下述方法，S卩，根据继承源的工厂补偿值、工厂增益值以及用户补偿值、存储于非易失性存储器中的工厂补偿值以及工厂增益值，对A/D变换单元的其通路所具有的用户补偿值进行校正计算，从而不必对补偿值以及增益值进行测量，就可以对模拟单元的输出值进行校正。另外，在专利文献3中公开了下述方法，即，使用将基准模拟信号通过A/D变换部变换后得到的基准数字值，针对每个数字值预先计算与应输出的数字值对应的A/D变换值，将该A/D变换值和通过A/D变换部从模拟信号变换成的原始数字信号进行比较。专利文献1 日本专利第4074823号公报专利文献2 日本专利第3969391号公报专利文献3 日本专利第3403127号公报
技术实现思路
但是，在将补偿值以及增益值的2个点之间以直线进行近似的方法中，必须对2个点的补偿值以及增益值进行测量，存在耗费工时的问题。另外，在专利文献1所公开的方法中，由于在区域1中近似为近似直线L11，在区域 2中近似为近似直线L12，所以必须对3个点的补偿值以及增益值进行测量，存在下述问题， 即，不仅耗费工时，而且校正精度的波动大。 另外，在专利文献2所公开的方法中，在模拟信号和ADC码的关系以直线表示的情况下，可以得到高校正精度，但在无法将模拟信号和ADC码的关系以直线表示的情况下，存在校正精度降低的问题。另外，对于专利文献3所公开的方法，作为与温度漂移等相对应的输出值的校正方法是有效的，但需要将A/D变换值以地址相当于数字值的形式存储而得到的数据表、以及对通过A/D变换部从模拟信号变换来的原始数字信号和数据表中的A/D变换值进行比较的比较电路，存在导致成本升高的问题。本专利技术就是鉴于上述情况而提出的，其第1目的在于，得到一种模拟单元，其即使在模拟信号和ADC码的关系表示出非直线性的情况下，也可以抑制测定所耗费的工时的增加，同时对输出值进行校正。本专利技术的第2目的在于，得到一种模拟单元，其即使在模拟信号和ADC码的关系表示出非直线性的情况下，也可以减少校正精度的波动。本专利技术的第3目的在于，得到一种模拟单元，其抑制成本升高，同时可以对与温度漂移对应的输出值进行校正。为了解决上述课题，实现目的，本专利技术的模拟单元的特征在于，具有变换电路，其将输入值变换为输出值；存储部，其以2个点的量存储表示上述输入值和校正前的输出值之间的关系的工厂设定值；以及用户设定值计算部，其基于表示上述输入值和校正前的输出值之间的关系的1个点的用户测量值以及上述2个点的工厂设定值，对表示上述输入值和校正后的输出值之间的关系的2个点的用户设定值进行计算。专利技术的效果根据本专利技术，具有下述效果，S卩，可以得到一种模拟单元，其即使在模拟信号和ADC 码的关系表示出非直线性的情况下，也可以抑制测定所耗费的工时的增加，同时对输出值进行校正。附图说明图1是表示本专利技术所涉及的模拟单元的实施方式1的概略结构的框图。图2是表示图1的模拟单元的校正方法的流程图。图3是表示本专利技术所涉及的模拟单元的实施方式2的校正方法的图。图4是表示本专利技术所涉及的模拟单元的实施方式3的校正方法的图。图5是表示本专利技术所涉及的模拟单元的实施方式4的概略结构的框图。图6是表示本专利技术所涉及的模拟单元的实施方式5的校正方法的图。图7是表示本专利技术所涉及的模拟单元的实施方式6的校正方法的图。图8是表示本专利技术所涉及的模拟单元的实施方式7的概略结构的框图。图9是表示本专利技术所涉及的模拟单元的实施方式8的概略结构的框图。图10是表示图9的模拟单元的温度漂移校正方法的图。图11是表示本专利技术所涉及的模拟单元的实施方式9的概略结构的框图。图12是表示本专利技术所涉及的模拟单元的实施方式10的概略结构的框图。图13是表示图12的模拟单元的温度漂移校正方法的图。图14是表示本专利技术所涉及的模拟单元的实施方式11的概略结构的框图。图15是表示本专利技术所涉及的模拟单元的实施方式12的校正方法的流程图。符号的说明11、21、31、41、51、61 A/D 变换单元12 A/D变换电路13定标部14、24、44非易失性存储器15、25、2fe 25c用户设定值计算部16、26临时存储器35设定值线性插补部35a补偿值线性插补值计算部35b增益值线性插补值计算部36计时器55设定值选择部55a补偿值选择部55b增益值选择部62切换部具体实施例方式下面，基于附图，详细说明本专利技术所涉及的模拟单元的实施方式。此外，本专利技术并不受本实施方式限定。另外，作为模拟单元具有A/D变换单元和D/A变换单元，在以下的说明中，主要以A/D变换单元为例进行说明，但并不限定于A/D变换单元。实施方式1图1是表示本专利技术所涉及的模拟单元的实施方式1的概略结构的框图。在图1中， 在A/D变换单元11中设置有A/D变换电路12、定标部13、非易失性存储器14、用户设定值计算部15以及临时存储器16。在这里，A/D变换电路12可以将模拟输入值M变换为ADC码(数字变换值)Cd。 此外，在1个A/D变换单元11中例如可以搭载与4 8个通路对应的A/D变换电路12。所谓通路是指1个A/D变换单元11中所具有的多个A/D变换电路12中的1个功能单位。定标部13可以将ADC码Cd压缩/扩展为与用户量程对应的数字输出值Do。另外，在定标部13中，由于针对每个通路而对A/D变换特性的波动进行补偿，所以可以进行A/ D变换单元11的校正。此外，所谓A/D变换单元11的校正，是指在电压或者电流等的模拟输入值&被输入时，进行调整，以输出期望的数字输出值Do。另外，定标部13在进行A/D 变换单元11的校正的情况下，可以参照存储在非易失性存储器14中的用户补偿值Uo以及用户增益值Ug0非易失性存储器14可以对应于各个用户量程Rl Rm而存储2个点的工厂设定值以及2个点的用户设定值。此外，工厂设定值可以表示模拟输入值M和ADC码Cd (即， 校正前的数字输出值Do)的关系。另外，作为2个点的工厂设定值，可以给出工厂补偿值以及工厂增益值Fg。另外，用户设定值可以表示模拟输入值M和数字输出值Do之间的关系。另外，作为2个点的用户设定值，可以给出用户补偿值Uo以及用户增益值Ug0在这里，工厂补偿值以及工厂增益值Fg可以在生产A/D变换单元11时在工厂内设定。该工厂补偿值你是按照定标时使用的规格在生产工厂内施加最低的补偿电压时所输出的ADC码。另外，工厂增益值Fg是按照定标时使用的规格在生产工厂内施加最高的增益电压时所输出的ADC码。另外，用户补偿值Uo以及用户增益值Ug可以在用户使用A/D变换单元11的现场进行设定。该用户补偿值Uo是按照定标时使用的规本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】

【专利技术属性】
技术研发人员：仓地晴幸，
申请(专利权)人：三菱电机株式会社，
类型：发明
国别省市：