微小物体表面积周长并行精密测量系统技术方案

本发明专利技术名称为“微小物体表面积周长并行精密测量系统”，它将短程线主动轮廓线应用于不规则形状的图像多目标面积/周长并行测量问题中，开发出一种快速精确测量方法，并且将这种方法应用于二维图像测量机，实现了多个微小物体表面积/周长的快速准确测量。此外，使用了一种新颖的形心自标定技术，它不需要任何标准试件就能够准确完成像素尺寸当量的标定，最后求得被测物的真实表面积与周长。标定时移动导轨，并用双频激光器精确测量其位移。

【技术实现步骤摘要】

机器视觉中的图像测量技术是近20年来在测量领域形成的新型测量技术，它把图像作为检测和传递信息的手段或载体加以利用，完成对几何量尺寸测量、生物制品检测、 航空遥感测量等多种测量任务。这种技术能够适应许多新的生产制造工艺的测量要求，例如对易变形零件尺寸、微小尺寸、曲面轮廓及零件孔距的测量。本专利针对几何量测量领域中的面积/周长测量问题，开发出一种微小物体的面积/周长并行高效的测量系统。2.
技术介绍
在图像测量领域中，图像目标的像素面积(指图像目标所包含的像素个数)测量是一大难题，它可以分成2类即具有规则几何形状的目标和任意不规则形状的目标像素面积计算问题。对于前者，一般采用从目标重心到轮廓点的积分法或者通过角点/顶点的检测并且应用面积公式计算。对于后者，采用对曲线包围的内部像素计数来求解，一般采用下面的公式Ληβχ /、A= Y\x Jmm-Xjmia)(1)7—少 min在上式中，Xjmax为目标边界上对应于y坐标值为j的χ坐标最大值；^^为目标边界上对应于y坐标值为j的χ坐标最小值。关于图像目标的像素周长测量问题，经典方法分为两大类，第一类方法是应用曲线轮廓重建算法进行最小误差的本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：赵鹏，田少卿，
申请(专利权)人：东北林业大学，
类型：发明
国别省市：