本发明专利技术提供一种毫米波电路器件测试夹具，包括基座台、共轴固定夹具组件、共轴滑动夹具组件及直角滑动夹具组件，其中，所述共轴固定夹具组件固定于所述基座台，所述共轴滑动夹具组件及直角滑动夹具组件分别滑动设置在基座台上，通过调节共轴固定夹具组件与共轴滑动夹具组件或直角滑动夹具组件之间的距离来调整毫米波电路器件的输入输出信号。本发明专利技术提供的毫米波电路器件测试夹具通过固定在所述测试夹具上的V/K型连接器探针与微波传输带的接触建立基板的输入输出连接，其结构简单、测试较精确的且可重复测试。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于电子通讯器件的
，更具体地说，是涉及一种毫米波电路器件测试夹具。
技术介绍
随着千兆比特流((ib/s)点对点链接通信、大容量的无线局域网(WLAN)、短距离高速无线个人局域网(WPAN)和车载雷达等高速率宽频带通信应用的市场需求不断扩大，设计实现具有高集成度、高性能、低功耗和低成本的毫米波单片集成电路(MMIC)迫在眉睫。毫米波器件技术可以广泛应用于军事雷达系统、射电天文学和太空以及短距离无线高速传输等领域。采用GaAs或InP基的毫米波频段的MMIC已经应用于军事上的雷达和卫星通信中。由于GaAs和M5材料具有较高的电子迁移率和电阻率，因此电路可以获得较好的设无线射频RF性能，但成本较高。特别是在测试阶段，测试人员常规需要为不同的测试器件及基片专门制作不同的测试夹具，特别在测试毫米波频段的功放芯片，由于体积小增加了输入输出端与测试仪器连接的难度，微小的失误就会造成昂贵的芯片破损报废；同时在测试中，频繁的更换测试夹具和连接器的过程中不可避免的造成测试误差的加大，影响到测试结果的准确性。
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题在于提供一种结构简单、测试较精确的且可重复测试的毫米波电路器件测试夹具。为解决上述技术问题，本专利技术的采用的技术方案是提供一种毫米波电路器件测试夹具，包括基座台、共轴固定夹具组件、共轴滑动夹具组件及直角滑动夹具组件，其中，所述共轴固定夹具组件固定于所述基座台，所述共轴滑动夹具组件及直角滑动夹具组件分别滑动设置在基座台上，通过调节共轴固定夹具组件与共轴滑动夹具组件或直角滑动夹具组件之间的距离来调整毫米波电路器件的输入输出信号。进一步地，在上述毫米波电路器件测试夹具中，所述基座台包括一方形的底座，所述底座的一端凸设有一条状的固定档块，所述底座上设置有多个用于连接所述共轴固定夹具组件、共轴滑动夹具组件或直角滑动夹具组件的调节座。进一步地，在上述毫米波电路器件测试夹具中，所述调节座平行于固定档块。进一步地，在上述毫米波电路器件测试夹具中，所述基座台还包括穿设所述调节座及固定挡块的中心滑动杆及辅助滑动杆，所述中心滑动杆的一端设有杆帽，其杆身设有螺纹，所述中心滑动杆依次穿设螺纹孔及固定孔，所述杆帽抵持于所述调节座上，所述辅助滑动杆也依次穿设通孔及固定孔。进一步地，在上述毫米波电路器件测试夹具中，所述基座台还包括分别设于所述固定槽两端面的紧固块及沿所述固定槽方向穿设所述调节座及紧固块的调节螺杆。进一步地，在上述毫米波电路器件测试夹具中，所述调节座上还沿平行于所述固定档块的方向开设有固定槽，所述固定槽的两个端面的下方均设有通孔。进一步地，在上述毫米波电路器件测试夹具中，所述紧固块的中部设有贯孔，以供所述调节螺杆穿设，所述调节座及紧固块还对应设有安装孔，通过固定件使所述紧固块固定于所述固定槽两端面。进一步地，在上述毫米波电路器件测试夹具中，所述共轴滑动夹具组件包括底板、 第一安装座、第一夹持体、压板、连接杆以及连接器固定片及基片压板，其中，所述安装座、 固定于底板、上并通过底板、固定于基座台的调节座上；所述夹持体滑动卡设于所述第一安装座上，所述连接杆穿设所述压板并抵持紧固所述第一夹持体；所述基片压板压紧于所述第一夹持体上，并通过连接器固定片连接于外部的标量网络分析仪。进一步地，在上述毫米波电路器件测试夹具中，所述夹持体包括一主体部及由所述主体部垂直延伸的固定部，所述主体部的中部开设有螺纹孔，所述主体部的两侧开设有滑槽，所述主体部还设有基片槽。进一步地，在上述毫米波电路器件测试夹具中，所述直角滑动夹具组件包括底板、 第二安装座、第二夹持体、压板、连接杆以及连接器固定片及基片压板，其中，所述第二安装座固定于底板上并通过底板固定于基座台的调节座上；所述第二夹持体滑动卡设于所述第二安装座上，所述连接杆穿设所述压板并抵持紧固所述第二夹持体；所述基片压板压紧于所述第二夹持体上，并通过连接器固定片连接于外部的标量网络分析仪。本专利技术提供的毫米波电路器件测试夹具通过固定在所述测试夹具上的V/K型连接器探针与微波传输带的接触建立基板的输入输出连接，从而免去了常规测试中需要焊接的繁琐工作，而且通过调节测试夹具上的螺母和测试夹具上的标尺，用户可以设置v/κ连接器进行一定空间范围内的定位以满足输入输出端非共轴/垂直的基板测试要求，其结构简单、测试较精确的且可重复测试。附图说明图IA为本专利技术实施例提供的毫米波电路器件测试夹具的一个结构示意图； 图IB为本专利技术实施例提供的毫米波电路器件测试夹具的另一个结构示意图； 图2为图IA及图IB中基座台的爆炸结构示意图3为图IA中共轴滑动夹具组件的爆炸结构示意图； 图4为图IB中直角滑动夹具组件的爆炸结构示意图； 图5为本专利技术实施例提供的毫米波电路器件测试夹具的应用示意图。具体实施例方式为了使本专利技术所要解决的技术问题、技术方案及有益效果更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本专利技术进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本专利技术，并不用于限定本专利技术。本专利技术毫米波电路器件测试夹具是为测量微波传输带和共面基板提供了较为精确的、可重复测试的工具，其通过固定在所述测试夹具可变夹具上的v/κ型连接器探针与微波传输带的接触建立基板的输入输出连接，从而免去了常规测试中需要焊接的繁琐工作。夹具可以测试厚度从o.lmm到25mm有源/无源器件。而且通过调节测试夹具上的螺母和测试夹具上的标尺，用户可以设置V/K连接器进行一定空间范围内的定位以满足输入输出端非共轴/垂直的基板测试要求。请参照图IA及图1B，图IA及图IB为本专利技术提供的毫米波电路器件测试夹具的结构示意图，现对其进行说明。本专利技术毫米波电路测试夹具包括基座台1、共轴固定夹具组件2、共轴滑动夹具组件3及直角滑动夹具组件4，其中，所述共轴固定夹具组件2固定于所述基座台1，所述共轴滑动夹具组件3及直角滑动夹具组件4分别滑动设置在基座台1上，通过调节共轴固定夹具组件2与共轴滑动夹具组件3或直角滑动夹具组件4之间的距离来通过调节共轴固定夹具组件与共轴滑动夹具组件或直角滑动夹具组件之间的距离来调整毫米波电路器件的输入输出信号。请参照图2，图2为图IA及图IB中基座台的爆炸结构示意图。其中，所述基座台1包括一方形的底座10，所述底座10的一端凸设有一条状的固定档块102，所述底座10上设置有多个用于连接所述共轴固定夹具组件2、共轴滑动夹具组件3或直角滑动夹具组件4的调节座104。所述调节座104平行于固定档块102。本实施例中所述调节座104的个数为2，其中一个连接于共轴固定夹具组件2，另一个连接于所述共轴滑动夹具组件3或直角滑动夹具组件4。所述调节座104的侧面中部设有一贯穿的螺纹孔1042及分设于所述螺纹孔1042 两侧的通孔1044，所述固定档块102设有与所述螺纹孔1042及通孔1044对应的固定孔 10M。所述基座台1还包括穿设所述调节座104及固定挡块102的中心滑动杆12及辅助滑动杆14，所述中心滑动杆12的一端设有杆帽122，其杆身设有螺纹，所述中心滑动杆12 依次穿设螺纹孔1042及固定孔1024，所述杆帽122抵持于所述调节座104上。另，所述辅助滑动杆14也依次穿设通孔1044及固定孔10M。所本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：杨春，王灏，付晓庆，
申请(专利权)人：苏州易特诺科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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