一种大孔径红外中短波双波段成像光学系统技术方案

本发明专利技术公开了一种大孔径红外中短波双波段成像光学系统，它主要用于红外焦平面成像系统，工作波段为1～3微米和3～5微米。本发明专利技术提出一种折反射式光学系统，该系统包括主反射镜，次反射镜，滤光片，分光镜，中波校正透镜组，中波探测器窗口，中波探测器冷光阑，平面反射镜，短波校正透镜组，短波探测器窗口。该系统实现了同时对中波红外和短波红外两个波段实时成像。入瞳直径为300毫米，相对孔径为1∶1.46，焦距440毫米，视场1.6°。本发明专利技术的主要特点在于：大孔径，两次成像，以冷光阑作为孔径光阑，入瞳在主反射镜上，可以有效控制主反射镜的尺寸。两个波段共用主反射镜和次反射镜，结构紧凑。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及红外光学系统，特别的，是涉及到一种中波红外(3 5微米)和短波红外(1 3微米)波段的成像光学系统。
技术介绍
红外光学系统常使用反射式系统、折射式系统以及折反射式系统。反射式系统的优势是无色差，反射镜的口径不受红外透光材料限制，可以制作得较大，系统光能损失较小。但是反射式系统的最大缺点是轴外像差较大，一般只适用于小视场、小相对孔径的光学系统。对于经典的卡塞格伦(Cassegrain)或里奇-克雷季昂(Ritchey-Chretien)双反射镜系统来说，当相对孔径增大，比如相对孔径大于1 2时，或者视场增大，比如视场大于 1°时，其像质都将迅速恶化。此外，当通光口径大于200毫米时，像质也会变坏。折射式系统由多片不同材料的透镜组成，可利用一个镜片的像差去平衡另一个镜片的像差，在满足大相对孔径、大视场的同时可得到良好的像质。但是，由于红外透光材料的尺寸受到较大的限制，折射式光学系统不能做成太大的口径。而且折射式光学系统通常只用于有限的波段范围，例如1 3 μ m，或3 5 μ m。这是因为同时能透过很宽波段的红外光学材料种类很少，同时，由于光学材料色散的存在，同时消除本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：潘兆鑫，葛军，李满良，蹇毅，朱承希，
申请(专利权)人：中国科学院上海技术物理研究所，
类型：发明
国别省市：