物理层下行控制信道的盲检测方法与装置制造方法及图纸

技术编号:7161259 阅读:314 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本发明专利技术提供一种物理层下行控制信道(PDCCH)的盲检测方法与装置,所述方法包括:接收参考下行控制信息(DCI)的汇聚等级(AL)的上限值或下限值(S201);获取待测DCI与参考DCI的编码强度差异(S202);利用所述编码强度差异以及所述参考DCI的AL上限值生成所述待测DCI的AL上限值,或者利用所述编码强度差异以及所述参考DCI的AL下限值生成所述待测DCI的AL下限值(S203);采用待测DCI的AL上限值或下限值对PDCCH进行盲检测(S204)。本发明专利技术的方法与装置在进行PDCCH检测时,对于每个DCI仅检测AL的上限值或下限值,缩小移动站(MS)需检测的各DCI的AL范围,减少接收端MS所需的PDCCH盲检测次数,从而降低了MS的成本和功耗。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】

【专利技术属性】
技术研发人员:武雨春
申请(专利权)人:华为技术有限公司
类型:发明
国别省市:94

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