一种伪装检测系统，包括：成像单元（２），通过从第一角度对检查对象（１２）进行成像，来获得第一图像，并且通过从不同于第一角度的第二角度对检查对象进行成像，来获得第二图像；特征点坐标计算单元（１０１），从第一图像检测第一特征点，获得对检测到的第一特征点的位置进行表示的第一特征点坐标，并且从第二图像检测第二特征点，获得对检测到的第二特征点的位置进行表示的第二特征点坐标；特征点关联单元（１０２），将第一特征点与第二特征点相关联；特征变换单元（１０４），通过执行第二特征点坐标从第二图像到第一图像的平面投影变换，来获得变换后坐标；以及相似性确定单元（１０５），当变换后坐标与第一特征点坐标之间的差等于或小于预定值时，确定试图进行伪装。
【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及伪装检测系统，伪装检测方法以及伪装检测程序，能够使用登记者的照片或在监视器上显示的面部图像来识别人，特别是在执行个人识别时。
技术介绍
伪装检测系统是在例如基于面部或头部进行认证时使用登记者的照片或在监视器上显示的面部图像来执行个人识别的系统。这种伪装检测系统和伪装检测方法公开在例如专利文献1中。该文献第W015]段公开了通过使用照明灯来改变照明环境，以及可以基于在不同照明环境中获得的面部图像之间的相似性程度，来去除伪装。该文献第W061]段公开了预先获得从多个方向获取的多个面部图像，以及将从一定方向获取的面部图像登记为“认证字典”。专利文献2的第-W021]段公开了使用用户图像和相应的图像获取角度， 来产生关于用户的三维信息，并将该三维信息与预先存储的个人的面部三维形状相比较。 这样，避免了使用照片的伪装。应该注意，专利文献3、非专利文献1、非专利文献2和非专利文献3将在稍后说明。相关现有技术文献专利文献专利文献1 日本特开专利公开No. 2003-178306专利文献2 日本特开专利公开No. 2004-362079专利文献3 日本特开专利公开No. 2006-338092非专利文献非专利文献 1 Kanazawa 禾口 Kanatani, "Detection of Feature Points for Computer Vision，，，The Journal of the Institute of Electronics, Information and Communication Engineers, Vol. 87, No.12,2004非专利文献 2 :T. K. Leung, Μ. C. Burl 禾口 P. Perona,"Finding Faces in Cluttered Scenes using Random Labeled Graph Matching，，，Fifth International Conference on Computer Vision, pp.637-644,1995非专利文 M 3 :R. Sukthankar, R. G. Stockton, Μ. D. Mull in, "Smarter presentations :Exploiting Homography in Camera-Projector Systems", Proceedings of International Conference on Computer Vision, Vol. 1, pp. 247-253, July 200
技术实现思路
然后，上述文献中公开的相关现有技术在以下方面还有待改进。首先，为了检测伪装，必需准备成像设备之外的附加设备，以用于认证。例如，可控的外部照明是为创建多种照明环境而所需的，专用的距离检测设备是为测量距离而所需的。此外，需要复杂的处理装置来获得关于个人的三维信息。6其次，由于认证时照明环境的改变，疏忽地接受使用照片的伪装的可能性较高。例如，通过利用主分量分析的技术，基于对象的亮度变化来检测伪装。然而，随着认证期间照明环境显著改变，对象的亮度的变化更大。结果，疏忽地接受照片作为真实对象的可能性变大。鉴于以上情况，提出了本专利技术。本专利技术的目的是提供伪装检测系统，伪装检测方法以及伪装检测程序，能够基于获得的图像来准确地检测伪装，而不需要除成像设备之外的任何附加设备。本专利技术的另一目的是提供一种对抗照明环境的改变的伪装确定系统。根据本专利技术，提供了一种伪装检测系统，包括成像单元，通过从第一角度对检查对象进行成像，来获得第一图像，并且通过从不同于第一角度的第二角度对检查对象进行成像，来获得第二图像；计算单元，从第一图像检测第一特征点，获得对检测到的第一特征点的位置进行表示的第一特征点坐标，并且从第二图像检测第二特征点，获得对检测到的第二特征点的位置进行表示的第二特征点坐标；特征点关联单元，将第一特征点与第二特征点相关联；特征变换单元，通过执行第二特征点坐标从第二图像到第一图像的平面投影变换，来获得变换后坐标；以及相似性确定单元，当变换后坐标与对应的第一特征点坐标之间的差等于或小于预定值时，确定试图进行伪装。根据本专利技术，提供了一种伪装检测方法，包括通过从第一角度对检查对象进行成像来获得第一图像的步骤；从第一图像计算第一特征点坐标的步骤；通过从第二角度对检查对象进行成像来获得第二图像的步骤；从第二图像计算第二特征点坐标的步骤；特征点关联步骤，将第一特征点与第二特征点相关联；特征变换步骤，通过执行第二特征点坐标从第二图像到第一图像的平面投影变换，来获得变换后坐标；以及相似性确定步骤，当变换后坐标与对应的第一特征点坐标之间的差等于或小于预定值时，确定试图进行伪装。根据本专利技术，提供了一种伪装检测程序，用于使计算机执行特征点坐标计算处理，用于从检查对象的第一图像获得对第一特征点的位置进行表示的第一特征点坐标，所述第一图像是从第一角度获得的，并且用于从检查对象的第二图像获得对第二特征点的位置进行表示的第二特征点坐标，所述第二图像是从不同于第一角度的第二角度获得的；特征点关联处理，用于将第一特征点与第二特征点相关联；特征变换处理，用于通过执行第二特征点坐标从第二图像到第一图像的平面投影变换，来获得变换后坐标，所述第二特征点是使用第一特征点和第二特征点来关联的；以及相似性确定处理，用于当变换后坐标与第一特征点的坐标之间的差等于或小于预定值时，确定试图进行伪装。采用上述结构，本专利技术能够提供伪装检测系统，伪装检测方法以及伪装检测程序， 能够通过确定输入图像彼此之间是否具有平面关系，来以高精度检测伪装，而不需要除成像设备之外的任何附加设备。根据本专利技术，仅根据关于检查对象的图像信息来执行确定，因此，在提供伪装检测系统，伪装检测方法以及伪装检测程序时不需要除成像设备之外的任何附加设备。此外，由于不是基于检查对象的亮度变化，而是基于特征点位置的移动，来执行确定，所以能够提供对抗照明环境的改变的伪装检测系统，伪装检测方法以及伪装检测程序。附图说明从以下结合附图的优选实施例描述中，本专利技术的上述和其他目的、特征和优点将7更加明显。图1是根据第一示例实施例的伪装检测系统的功能框图。图2是根据第一示例实施例的操作的流程图。图3是第一示例实施例的具体示例的功能框图。图4是第一示例实施例的具体示例的图。图5是根据第二示例实施例的伪装检测系统的功能框图。具体实施例方式下面参照附图描述本专利技术的示例实施例。应该注意，在所有附图中，相似部件由相似附图标记表示，并且不再重复对其的说明。(第一示例实施例)图1是示出了伪装检测系统的示例结构的图。该示例实施例提供了一种伪装检测系统，包括成像单元2，通过从第一角度对检查对象进行成像，来获得第一图像，并且通过从不同于第一角度的第二角度对检查对象进行成像，来获得第二图像；特征点坐标计算单元101，从第一图像检测第一特征点，获得对检测到的第一特征点的位置进行表示的第一特征点坐标，并且从第二图像检测第二特征点，获得对检测到的第二特征点的位置进行表示的第二特征点坐标；特征点关联单元102，将第一特征点与第二特征点相关联；特征变换单元104，通过执行第二特征点坐本文档来自技高网...
【技术保护点】
１．一种伪装检测系统，包括：成像单元，通过从第一角度对检查对象进行成像，来获得第一图像，并且通过从不同于第一角度的第二角度对检查对象进行成像，来获得第二图像；特征点坐标计算单元，从第一图像检测第一特征点，获得对检测到的第一特征点的位置进行表示的第一特征点坐标，并且从第二图像检测第二特征点，获得对检测到的第二特征点的位置进行表示的第二特征点坐标；特征点关联单元，将第一特征点与第二特征点相关联；特征变换单元，通过执行第二特征点坐标从第二图像到第一图像的平面投影变换，来获得变换后坐标；以及相似性确定单元，当变换后坐标与第一特征点坐标之间的差等于或小于预定值时，确定试图进行伪装。
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...
【专利技术属性】
技术研发人员：铃木哲明，
申请(专利权)人：日本电气株式会社，
类型：发明
国别省市：JP
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