用于在存储介质上确定缺陷位置的方法和装置制造方法及图纸

在盘驱动器的存储介质上检测缺陷。在存储介质上存储的数据的最小可寻址单元内确定缺陷的位置。位置的指示存储在存储器中。监视盘驱动器的传感器相对于存储介质上存储的数据的位置。基于传感器相对于存储介质上存储的数据的位置和存储的缺陷位置的指示，改变盘驱动器的缺陷检测器、盘驱动器的读通道控制器和盘驱动器的伺服器控制器中至少一个的响应。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本公开总体上涉及盘存储设备，并且更特别地，涉及在盘上检测缺陷的位置。
技术介绍
出于总体上提供该公开的上下文的目的，在此提供了背景描述。对于当前具名的专利技术人的工作，在该背景部分对其描述的程度中、以及在提交时可能不作为现有技术的描述的多个方面，对于本公开而言，既不明示地也不暗示地被承认为现有技术。可以使用激光器向光存储介质写入数据，该激光器在光存储介质的聚碳酸酯衬底的顶部形成极小的刻痕或凹痕的图案。凹痕之间的区域被称为凸面，并且凹痕和凸面一起表示写到光存储介质的数据。将可以包括激光器和光传感器的光学拾取单元(OPU)用于读取数据。例如，可以将OPU的激光引导到期望从其读取数据的光存储介质上的轨道处。凹痕相对于凸面的刻痕使得光从凹痕的反射与从凸面的反射不同。在读取操作期间，光存储介质由主轴马达/进给马达(FM)驱动器旋转，以允许光传感器读取凹痕和凸面。该光传感器感测来自于凹痕和凸面的反射中的差异，以便读取由凹痕和凸面表示的数据。因为从光存储介质准确读取数据取决于对反射中的差异的准确感测，并且因为凹痕是极小的刻痕，所以写在光存储介质上的数据的完整性容易受到诸如划痕或指印之类的缺陷的本文档来自技高网...

【技术保护点】
１．一种方法，包括：在盘驱动器的存储介质上检测缺陷；在所述存储介质上存储的数据的最小可寻址单元内，确定所述缺陷的位置；在存储器中存储所述位置的指示；监视所述盘驱动器的传感器相对于所述存储介质上存储的所述数据的位置；以及基于所述传感器相对于所述存储介质上存储的所述数据的所述位置和存储的所述缺陷的位置的指示，改变所述盘驱动器的缺陷检测器、所述盘驱动器的读通道控制器和所述盘驱动器的伺服器控制器中至少一个的响应。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：M·奥伯格，
申请(专利权)人：马维尔国际贸易有限公司，
类型：发明
国别省市：BB