电流测量用金属取样电阻制造技术

技术编号:7096876 阅读:263 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本实用新型专利技术公开了一种电流测量用金属取样电阻,包括电阻本体和两根电流测量取样信号引出电缆,两根电流测量取样信号引出电缆分别从电阻本体上的取样点A、B点引出后紧靠电阻本体外表面相互紧密缠绕延伸引出直至外部电路,电阻本体为长方形,取样点(A、B点)在电阻本体厚度方向的边沿上,两根电流测量取样信号引出电缆从取样点(A、B点)引申至电阻本体宽度方向的中心线位置开始相互紧密缠绕。本实用新型专利技术最大限度的减少了电阻本体和两根电流测量取样信号引出电缆所处位置以及周围存在的交变磁场、电场对电流测量取样信号的干扰,从而提高了测量精度。(*该技术在2021年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种电流测量用金属取样电阻
技术介绍
在利用锰铜等金属导体的电阻阻值进行电流测量或由电流测量引申的功率测量、 电能计量等应用时,电阻本体和两根电流测量取样信号引出电缆所处位置以及周围存在的交变磁场(如电源变压器漏磁产生的交变磁场或其它交变磁场)、电场(如在高压电线底下的电场或其它)对电流测量取样信号存在干扰,导致测量误差的产生和增大,特别是在小电流、小功率测量和电能计量时,因交变磁场、电场对电流测量取样信号的干扰而带来的测量误差更大,且交变磁场、电场的强度发生变化时,其对电流测量取样信号的干扰而带来的测量误差也会变化,因此,在利用锰铜等金属导体的电阻阻值进行电流测量或由电流测量引申的功率测量、电能计量等应用时,如何提高电流测量精度或由电流测量所引申的功率测量精度、电能计量精度以及减小各个测量精度因工作条件变化(如工作电压、负载大小变化引起电源变压器漏磁强度的变化或外加磁场、电场騷扰)引起的数据精度变差的范围是至关重要的问题。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种能提高测量精度的电流测量用金属取样电阻。本技术提供的这种电流测量用金属取样电阻,包括电阻本体和两根电流测量取样信号引出电缆,所述两根电流测量取样信号引出电缆分别从电阻本体上的取样点A、B 点引出后紧靠电阻本体外表面相互紧密缠绕延伸弓I出直至外部电路。所述电阻本体为长方形,所述取样点A、B点在电阻本体厚度方向的边沿上,所述两根电流测量取样信号引出电缆从所述取样点A、B点引申至电阻本体宽度方向的中心线位置开始相互紧密缠绕。本技术最大限度地减小了电阻本体和两根电流测量取样信号引出电缆所处位置以及周围存在的交变磁场、电场对电流测量取样信号的干扰而引起的电流测量误差, 从而提高了测量精度。附图说明图1为本技术的结构图。具体实施方式图1为本技术的结构图,包括长方形的电阻本体和两根电流测量取样信号引出电缆,其中A、B为电流测量取样信号引出电缆从电阻本体厚度方向边沿上的取样点,C、D 为电流测量取样信号引出端,两根电流测量取样信号引出电缆分别从电阻本体厚度方向的边沿取样点A、B点引出后紧靠电阻本体外表面引至其宽度方向的中心线位置后相互紧密缠绕延伸弓丨出直至外部电路,这样最大限度地缩小了受交变磁场(如电源变压器漏磁产生的交变磁场或其它交变磁场)、电场(如在高压电线底下的电场或其它电场)感应影响的由电流测量取样信号引出端C、D两端通过电流测量取样信号引出电缆和电阻本体之间的电路串联所形成的回路面积在立体空间中各个方向上的受干扰感应面积,根据法拉第电磁感应定律,这时在电流测量取样信号引出端C、D两端受交变磁场、电场影响感应产生的干扰电压信号也是最小的,从而最大限度地减小了交变磁场、电场对电流测量取样信号的干扰而引起的电流测量误差,从而提高了电流测量精度或由电流测量所引申的功率测量精度、 电能计量精度,也相应地减小了各个测量精度因工作条件变化(如工作电压、负载大小变化引起电源变压器漏磁强度的变化或外加磁场、电场騷扰)而引起的数据精度变差的范围。权利要求1.一种电流测量用金属取样电阻,包括电阻本体和两根电流测量取样信号引出电缆, 其特征在于所述两根电流测量取样信号引出电缆分别从电阻本体上的取样点(A、B点)引出后紧靠电阻本体外表面相互紧密缠绕延伸引出直至外部电路。2.根据权利要求1所述的电流测量用金属取样电阻,其特征在于所述电阻本体为长方形,所述取样点(A、B点)在电阻本体厚度方向的边沿上,所述两根电流测量取样信号引出电缆从所述取样点(A、B点)引申至电阻本体宽度方向的中心线位置开始相互紧密缠绕。专利摘要本技术公开了一种电流测量用金属取样电阻,包括电阻本体和两根电流测量取样信号引出电缆,两根电流测量取样信号引出电缆分别从电阻本体上的取样点A、B点引出后紧靠电阻本体外表面相互紧密缠绕延伸引出直至外部电路,电阻本体为长方形,取样点(A、B点)在电阻本体厚度方向的边沿上,两根电流测量取样信号引出电缆从取样点(A、B点)引申至电阻本体宽度方向的中心线位置开始相互紧密缠绕。本技术最大限度的减少了电阻本体和两根电流测量取样信号引出电缆所处位置以及周围存在的交变磁场、电场对电流测量取样信号的干扰,从而提高了测量精度。文档编号G01R15/00GK202133699SQ20112024680公开日2012年2月1日 申请日期2011年7月14日 优先权日2011年7月14日专利技术者刘虎踞, 周弼 申请人:威胜集团有限公司本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种电流测量用金属取样电阻,包括电阻本体和两根电流测量取样信号引出电缆,其特征在于所述两根电流测量取样信号引出电缆分别从电阻本体上的取样点(A、B点)引出后紧靠电阻本体外表面相互紧密缠绕延伸引出直至外部电路。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:刘虎踞周弼
申请(专利权)人:威胜集团有限公司
类型:实用新型
国别省市:43

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