一种粉体金属电阻率测量装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种新型粉体金属材料电阻率的测试方法及测试装置，其特征是测量被测粉体材料在不同密度下的电阻值，再计算出相应的电阻率和电导率，从而得到描述粉体材料电性能的曲线。测试装置由压力机构、微位移测试装置、精密电桥、样品盒等组成。压力机构用于改变样品盒中粉体材料的体积，微位移测量装置实时记录体积的变化，精密电桥记录相应压力下的粉体电阻值。该测量方法和装置可用于镍粉（包括超细镍粉）电阻率的测量，也可用于其它金属粉体材料、非金属粉体材料以及纳米材料电阻率和电导率的测量，它将在材料学、电子技术等行业发挥作用。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种新型粉体金属电阻率测量方法，其特征是借助外部压力，在不改变被测粉体材料微观形貌前提下改变粉体材料的密度，通过测量相应的电阻和密度，计算出电阻率和电导率。这样，由小到大连续改变作用于粉体材料上的压力，则可得到描述材料电性能的电阻率随压力或材料密度变化曲线。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：郭金川，王国华，周彬，李清湘，李夏林，刘侦德，牛憨笨，
申请(专利权)人：深圳大学，深圳市中金岭南有色金属股份有限公司，
类型：发明
国别省市：94[中国|深圳]