一种用于波束成形校准和能力测试的方法和装置制造方法及图纸

技术编号:7095807 阅读:171 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
一种用于波束成形校准和能力测试的方法和装置,所述校准装置包括:初始接收相位寄存模块及初始发射相位寄存模块;所述校准方法包括:基站上的各天线在接收到由该基站发出的接收回路校准信号后,由该基站分别对各天线收到的校准信号进行相位解析,并将解析出的各天线的初始接收相位保存起来;该基站依次向其上各天线对应的发射机发送发射回路校准信号,由发射机通过对应的天线将校准信号发出,该基站依次接收这些信号并分别对各信号进行相位解析,并将解析出的各天线的初始发射相位保存起来。本发明专利技术所述方法和装置,以极低的成本、极简的元器件对无线通讯的波束成形进行校准和测试,节省了校准时间,提高了测试效率,保证了校准和测试的可靠性。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
1.一种用于波束成形校准的方法,包括:基站上的各天线在接收到由该基站发出的接收回路校准信号后,由该基站分别对各天线收到的校准信号进行相位解析,并将解析出的各天线的初始接收相位保存起来;该基站依次向其上各天线对应的发射机发送发射回路校准信号,由发射机通过对应的天线将校准信号发出,所述基站依次接收这些信号并分别对各信号进行相位解析,并将解析出的各天线的初始发射相位保存起来。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:陈侃浩
申请(专利权)人:中兴通讯股份有限公司
类型:发明
国别省市:94

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