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一种用于波束成形校准和能力测试的方法和装置，所述校准装置包括：初始接收相位寄存模块及初始发射相位寄存模块；所述校准方法包括：基站上的各天线在接收到由该基站发出的接收回路校准信号后，由该基站分别对各天线收到的校准信号进行相位解析，并将解析出的...
该专利属于中兴通讯股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过中兴通讯股份有限公司授权不得商用。

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