一种三相电能表及其电能计量脉冲与断相的检测电路制造技术

本实用新型专利技术公开了一种三相电能表及其电能计量脉冲与断相检测电路，包括第一电压输入端、第二电压输入端、光耦合器、微处理器、第一电阻、第二电阻及计量芯片，其中，第一电压输入端连接于光耦合器中发光二极管的正极；第一电阻的一端连接发光二极管的负极，另一端连接计量芯片的电能计量脉冲输出引脚；第二电阻的一端连接第二电压输入端，另一端连接光耦合器中光敏三极管的集电极；微处理器连接光敏三极管的集电极，光敏三极管的发射极接地。通过对三相电能表中的电能计量脉冲电路和断相检测电路进行优化，使这两个电路合并为一个电路，即三相电能表的电能计量脉冲及断相检测电路，使电能计量脉冲电路同时具备断相检测功能，从而简化三相电能表的内部结构，并且节约3个光耦合器，降低成本。（*该技术在2021年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种三相电能表，尤其涉及的是一种三相电能表及其电能计量脉冲与断相的检测电路。
技术介绍
在具有断相检测功能的三相电能表中，断相检测电路和电能计量脉冲电路是两个相互独立的电路，而且在锰铜采样的三相电能表中，断相检测电路还需用光耦合器进行隔离之后才能送给MCU进行断相的判断，三相断相检测就需要3个光耦合器。这样使得三相电能表的结构复杂，成本高昂。因此，现有技术还有待于改进和发展。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种三相电能表及其电能计量脉冲与断相的检测电路，对三相电能表中的电能计量脉冲电路和断相检测电路进行优化，使这两个电路合并为一个电路，使电能计量脉冲电路同时具备断相检测功能，从而简化三相电能表的内部结构， 并且节约3个光耦合器，降低成本。本技术的技术方案如下一种三相电能表的电能计量脉冲与断相检测电路，包括第一电压输入端、第二电压输入端、光耦合器、微处理器、第一电阻、第二电阻及计量芯片，其中，第一电压输入端连接于光耦合器中发光二极管的正极；第一电阻的一端连接发光二极管的负极，另一端连接计量芯片的电能计量脉冲输出引脚；第二电阻的一端连接第二电压输入端，另一端连接光耦合器中光敏三极管的集电极；微处理器连接光敏三极管的集电极，光敏三极管的发射极接地。所述的三相电能表的电能计量脉冲与断相检测电路，其中，所述的光耦合器为普通的脉冲信号光耦合器。一种三相电能表，其中，所述电能表中设置上述的电能计量脉冲及断相检测电路。本技术通过对三相电能表中的电能计量脉冲电路和断相检测电路进行优化， 使这两个电路合并为一个电路，即三相电能表的电能计量脉冲及断相检测电路，使电能计量脉冲电路同时具备断相检测功能，从而简化三相电能表的内部结构，并且节约3个光耦合器，降低成本，增强了产品的竞争力。附图说明图1是三相电能表中的传统的断相检测电路；图2是三相电能表中传统的电能计量脉冲输出电路；图3是本技术中三相电能表的电能计量脉冲与断相检测电路；图4是本技术中断相检测的波形示意图。具体实施方式为使本技术的目的、技术方案及优点更加清楚、明确，以下参照附图并举实施例对本技术进一步详细说明。三相电能表中的传统的断相检测电路，如图1所示，该断相检测电路包括外接A相电压提供的直流电压的第一电压输入端Vl和外接三相电压提供的直流电压的第二电压输入端V2、光耦合器Q、用于断相检测的微处理器MCU、第一电阻Rl及第二电阻R2。其中，第一电压输入端Vl连接到光耦合器Q中发光二极管的正极，第一电阻Rl的一端连接到光耦合器Q中发光二极管的负极，另一端接地。光耦合器Q中光敏三极管的发射极直接接地，第二电阻R2的一端连接第二电压输入端V2，另一端连接到光敏三极管的集电极。微处理器MCU 连接到光敏三极管的集电极，用于检测断相。当第一电压输入端的输入电压未断相时，光耦合器Q导通，断相检测端输出低电平；第一电压输入端的输入电压未断相时，Vl为零伏，光耦合器Q不导通，断相检测端输出高电平，微处理器MCU通过判断断相检测端的电平来判断 A相是否断相。三相电能表中传统的电能计量脉冲输出电路，如图2所示，该三相电能表中传统的电能计量脉冲输出电路包括计量芯片M、光耦合器Q、第一电阻R1、第二电阻R2、以及外接三相电压提供的直流电压的第二电压输入端V2和微处理器MCU。其中计量芯片M连接到光耦合器Q中的发光二极管的正极，第一电阻Rl的一端连接到发光二极管的负极，另一端接地。第二电阻R2的一端连接第二电压输入端V2，另一端连接到光耦合器Q中光敏三极管的集电极，光敏三极管的发射机直接接地，微处理器MCU连接在光敏三极管的集电极上， 用于检测输出脉冲CFA。如图2所示，计量芯片M产生的电能计量脉冲CFl通过光耦合器Q 隔离之后从光敏三极管的集电极输出后送给微处理器MCU用于电能的计量。如图3所示，本技术对图1中的断相检测电路和图2中的电能计量脉冲输出电路进行了优化，将这两个电路合并为一个电能计量脉冲与断相检测电路。其改进方法为在现有断相检测电路的基础上，将计量芯片M串联到第一电阻Rl的一端，第一电阻Rl的另一端连接到发光二极管的负极。计量芯片M产生的电能计量脉冲通过光耦合器Q隔离之后依然从光敏三极管的集电极输出，送给微处理器MCU用于电能的累计和断相的判断。计量芯片M产生脉冲信号，当第一电压输入端Vl输入的单相电压没有断相时，计量芯片M产生的电能计量脉冲和经光耦合器隔离之后的脉冲同步；当第一电压输入端输入的单相电压断相时，则该输入端的输入电压为零伏，光耦合器Q不通，检测端P检测到持续的高电平信号。图4是本技术中断相检测波形示意图。当光敏三极管的集电极输出的是高频率的脉冲信号时，MCU将该高频脉冲用于电能的累计；当光敏三极管的集电极输出的是持续的高电平时，MCU则则认为第一电压输入端Vl的输入电压断相。从图1、图2与图3的对比中可以看出这种优化设计使电路变的简单，在三相电能表中还省去了 3个光耦合器，从而简化了电能表的内部结构，并大大的节约了成本，在批量生产中所带来的成本效应相当可观。应当理解的是，本技术的应用不限于上述的举例，对本领域普通技术人员来说，可以根据上述说明加以改进或变换，例如，该电路中的光耦合器可为光敏二极管输出型，光敏三极管输出型，光电池输出型，光可控硅输出型等。所有这些改进和变换都应属于本技术所附权利要求的保护范围。权利要求1.一种三相电能表的电能计量脉冲及断相检测电路，其特征在于，包括第一电压输入端、第二电压输入端、光耦合器、微处理器、第一电阻、第二电阻及计量芯片，其中，第一电压输入端连接于光耦合器中发光二极管的正极；第一电阻的一端连接发光二极管的负极，另一端连接计量芯片的电能计量脉冲输出引脚；第二电阻的一端连接第二电压输入端，另一端连接光耦合器中光敏三极管的集电极；微处理器连接光敏三极管的集电极，光敏三极管的发射极接地。2.根据权利要求1所述的三相电能表的电能计量脉冲及断相检测电路，其特征在于， 所述的光耦合器为普通的脉冲信号光耦合器。3.—种三相电能表，其特征在于，所述电能表中设置有权利要求1至权利要求2任意一项中所述的电能计量脉冲与断相检测电路。专利摘要本技术公开了一种三相电能表及其电能计量脉冲与断相检测电路，包括第一电压输入端、第二电压输入端、光耦合器、微处理器、第一电阻、第二电阻及计量芯片，其中，第一电压输入端连接于光耦合器中发光二极管的正极；第一电阻的一端连接发光二极管的负极，另一端连接计量芯片的电能计量脉冲输出引脚；第二电阻的一端连接第二电压输入端，另一端连接光耦合器中光敏三极管的集电极；微处理器连接光敏三极管的集电极，光敏三极管的发射极接地。通过对三相电能表中的电能计量脉冲电路和断相检测电路进行优化，使这两个电路合并为一个电路，即三相电能表的电能计量脉冲及断相检测电路，使电能计量脉冲电路同时具备断相检测功能，从而简化三相电能表的内部结构，并且节约3个光耦合器，降低成本。文档编号G01R35/04GK202133770SQ201120236300公开日2012年2月1日 申请日期2011年7月6日 优先权日2011年7月6日专利技术者吴斌, 王学军, 王飞 申请人:深圳威胜科技有限公本文档来自技高网...

【技术保护点】
１．一种三相电能表的电能计量脉冲及断相检测电路，其特征在于，包括第一电压输入端、第二电压输入端、光耦合器、微处理器、第一电阻、第二电阻及计量芯片，其中，第一电压输入端连接于光耦合器中发光二极管的正极；第一电阻的一端连接发光二极管的负极，另一端连接计量芯片的电能计量脉冲输出引脚；第二电阻的一端连接第二电压输入端，另一端连接光耦合器中光敏三极管的集电极；微处理器连接光敏三极管的集电极，光敏三极管的发射极接地。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：王飞，王学军，吴斌，
申请(专利权)人：深圳威胜科技有限公司，
类型：实用新型
国别省市：94