【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种材料折射率测量
，特别是一种在室温条件下中红外波长材料折射率的测量装置及其测量方法。
技术介绍
目前，对于材料折射率的测量方法多种多样，最常用的方法有V形棱镜法、最小偏向角法等。虽然这些方法在特定波长可以给出待测材料比较精确的折射率，但前提是要求待测材料具备很好的透明性、折射率均勻性以及较大的尺寸，同时对于待测材料的形状和加工精度也有着严格要求，而且在测量过程中，有些方法需要使用对人体有害的试剂辅助测量，从而使这些方法在测量材料折射率过程中带有很大的局限性。即便如此，现有的测量方法对于材料折射率测量都局限在可见光及近红外波段，而对于材料在中红外波长的折射率，一般只能通过对待测材料在可见光及近红外波段测得的折射率数据利用经验公式进行拟合获得，无法保证拟合数据的准确性，从而给实际应用带来非常大的不便，在一定程度上限制了中红外光学材料与器件的发展。
技术实现思路
为了克服上述现有技术的不足，本专利技术提供一种，通过测量待测材料在不同中红外波长下的表面反射率，利用菲涅尔公式计算获得待测材料的精确折射率，解决目前各种材料在中红外波长折射率无法直接测量的...
【技术保护点】
１．一种中红外波长材料折射率的测量装置，特征在于其构成包括激光二极管（１）、光束整形装置（２）、输入镜（３）、激光晶体（４）、球面高反镜（５）、棱镜对（６）、狭缝（７）、输出耦合镜（８）、法拉第隔离器（９）、半透半反镜（１０）、可调光阑（１１）、精密旋转台（１３）、光谱仪（１４）和双通道功率计（１５），各元件的连接关系是：沿光路依次是所述的激光二极管（１）、光束整形装置（２）、输入镜（３）、激光晶体（４）和球面高反镜（５），所述的球面高反镜（５）将输入光分为第一反射光束和第一透射光束，第一透射光束进入所述的光谱仪（１４），沿第一反射光束光路依次是所述的棱镜对（６）、狭缝（７...
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：谢国强，马杰，高文兰，钱列加，张怀金，
申请(专利权)人：上海交通大学，
类型：发明
国别省市：31
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