具有检测激光外泄能力的电子设备及检测激光外泄的方法技术

具有检测激光外泄能力的电子设备及检测激光外泄的方法。根据本发明专利技术的电子设备具有激光元件且具有检测激光外泄能力，其包含三维图像撷取装置。根据本发明专利技术，三维图像撷取装置被控制以撷取二维图像，并且测量真实的深度信息图。撷取的二维图像被处理，进而获得估计的深度信息图。本发明专利技术根据估计的深度信息图与真实的深度信息图选择性地决定激光元件发生激光外泄或故障。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种具有激光元件(laser component)且具有检测激光外泄(leak of laser)能力的电子设备及其检测激光外泄的方法，并且特别地，本专利技术涉及适于在使用者端操作的具有检测激光外泄能力的电子设备及其检测激光外泄的方法。
技术介绍
激光元件已应用在一般的消费性电子设备上，例如，采用具有激光元件的三维图像掘取装置(three-dimensional image-capturing device)的监视器。具有激光元件的电子设备一般在出厂前必定会经过严格的检测，特别是针对激光元件的激光外泄检测。但是，这些电子设备在运送过程中可能会造成激光元件的损伤，而在电子设备使用期间发生激光外泄。如果是使用者长期使用这些已发生激光外泄的电子设备且曝露在激光外泄的环境下，可能造成永久性的伤害。然而，目前仍未见到在使用者端操作针对具有激光元件的电子设备的检测激光外泄的方法。因此，本专利技术的一范围在于提供一种具有激光元件且具有检测激光外泄能力的电子设备及其检测激光外泄的方法。并且特别地，根据本专利技术的电子设备适于在使用者端操作来检测激光是否外泄。此外，本专利技术的另一范围在于提供一种具有激光元件且具有检测激光外泄能力的电子设备及其检测激光外泄的方法。并且特别地，根据本专利技术的电子设备系利用本身的包装盒来检测激光是否外泄。藉此，本专利技术提供一种简易、环保的检测激光外泄方法。
技术实现思路
根据本专利技术的一较佳具体实施例的电子设备，其包含座体(housing)、三维图像撷取装置、处理/控制装置(processing/controlling device)以及盒体(casing)。三维图像撷取装置装设于座体上，并且包含激光元件。处理/控制装置装设于座体内，并且电连接至三维图像撷取装置。盒体其结构系构成暗室(dark room)。座体放置于暗室内。三维图像撷取装置由处理/控制装置控制以撷取二维图像(two-dimensional image)，并且测量真实的深度信息图(actual depth map)。处理/控制装置并且处理撷取的二维图像，进而获得估计的深度信息图(estimated depth map)。处理/控制装置根据估计的深度信息图与真实的深度信息图选择性地决定激光元件发生激光外泄或故障。在一具体实施例中，盒体用以包装座体的包装箱。在一具体实施例中，处理/控制装置并且计算在估计的深度信息图与真实的深度信息图之间的现行深度差异值。处理/控制装置并且判断现行深度差异值是否大于理想差异值(golden difference value)，并且若判断结果为肯定者，则决定激光元件发生激光外泄或故障。在一具体实施例中，处理/控制装置计算关于撷取的二维图像的能量密度分布 (texture gradient)值、关于撷取的二维图像的方差(variance)值以及关于撷取的二维图像的对比度(constrast)值。处理/控制装置并且处理能量密度分布值、方差值以及对比度值以获得估计的深度信息图，例如，通过线性加总法计算能量密度分布值、方差值以及对比度值而得估计的深度信息图。根据本专利技术的一较佳具体实施例的检测方法，其用以检测电子设备的激光元件的激光外泄。电子设备包含座体以及三维图像撷取装置。三维图像撷取装置装设于座体上， 并且包含激光元件。根据本专利技术的检测方法首先是将座体放置于暗室内。接着，根据本专利技术的检测方法系控制三维图像撷取装置撷取二维图像。接着，根据本专利技术的检测方法系控制三维图像撷取装置测量真实的深度信息图。接着，根据本专利技术的检测方法系处理撷取的二维图像，进而获得估计的深度信息图。最后，根据本专利技术的检测方法根据估计的深度信息图与真实的深度信息图，判断激光元件是否发生漏光或故障。关于本专利技术的优点与精神可以通过以下的专利技术详述及附图得到进一步的了解。 附图说明图IA根据本专利技术的一较佳具体实施例的电子设备在检测激光外泄时的外观示意图。图IB根据本专利技术的电子设备在检测激光外泄时的俯视图。图2是绘示根据本专利技术的电子设备1的功能区块图。图3是待处理图像使用3X3遮罩做均值滤波器的示意图。图4是绘示根据本专利技术的一较佳具体实施例的检测方法2的流程图。主要元件符号说明1:电子设备10 座体12a、12b 三维图像撷取装置122a、122b 激光元件 14 处理/控制装置16:盒体18:电源插头DR1、DR2:暗室2 检测方法S20 S34 流程步骤具体实施例方式本专利技术提供一种具有激光元件且具有检测激光外泄能力的电子设备及其检测激光外泄的方法。并且特别地，根据本专利技术的电子设备适于在使用者端操作来检测激光是否外泄。并且，本专利技术提供一种简易、环保的检测激光外泄方法。以下将详述本专利技术的较佳具体实施例，藉以充分解说本专利技术的特征、精神、优点以及实施上的可行性。请参阅图1A、图IB及图2，图IA根据本专利技术的一较佳具体实施例的电子设备1在检测激光外泄时的外观示意图。图IB根据本专利技术的电子设备1在检测激光外泄时的俯视图。图2根据本专利技术的电子设备1的功能区块图。如图1A、图IB及图2所示，根据本专利技术的电子设备1包含座体10、三维图像撷取装置12a、处理/控制装置14以及盒体16。三维图像撷取装置12a装设于座体10上，并且包含激光元件12加。图IA及图IB 所示的电子设备1是监视器。监视器1配置两个三维图像撷取装置(1加、1沘)，可以检测使用者在监视器1前比画的手势。同样地，三维图像撷取装置12b装设于座体10上，并且包含激光元件122b。如图2所示，处理/控制装置14装设于座体10内，并且分别电连接至三维图像撷取装置12a以及三维图像撷取装置12。特别地，盒体16其结构构成暗室。实务上，盒体16采用单一色系不易反光的材质，例如，黑色的纸箱。在图IA及图IB所示的电子设备1，因其具有两个三维图像撷取装置(12a、12b)。所以，盒体16中间以同色系材质隔板隔成两个暗室(DR1、DR2)，如图IA及图IB所示。座体10放置于暗室(DR1、DR2)内，仅露出电源插头18在盒体16，如图IB所示。盒体16包覆座体10，让两个三维图像撷取装置(12a、12b)分处于两个暗室(DR1、DR2) 内，以利在检测激光外泄过程中阻隔两个三维图像撷取装置(1加、12b)，避免两个三维图像撷取装置(lh、12b)相互影响。根据本专利技术的盒体16内隔成暗室的数目视电子设备1的激光元件的数目而定。在一具体实施例中，盒体16用以包装座体10的包装箱。利用既有的包装箱来组成检测激光外泄时所需的暗室(DR1、DR2)，即可达成本专利技术诉求简易、环保的检测激光外泄方法的目的。关于激光外泄的检测，以下仅以三维图像撷取装置1 做为说明例。如图2所示， 三维图像撷取装置1 由处理/控制装置14控制以撷取二维图像，并且测量真实的深度信息图。处理/控制装置14并且处理撷取的二维图像，进而获得估计的深度信息图。处理/ 控制装置14根据估计的深度信息图与真实的深度信息图选择性地决定激光元件12 发生激光外泄或故障。需声明的是，本专利技术仅要测出具有多个激光元件的电子设备中的一个激光元件激光外泄，即判断电子设备有激光外泄情况发生。在一具体实施例中，处理/控制装置14并且计算在估计的深度信息图与真实的深度信息图之间本文档来自技高网...

【技术保护点】
１．一种电子设备，包含：一座体；一三维图像撷取装置，该三维图像撷取装置装设于该座体上并且包含一激光元件；一处理／控制装置，该处理／控制装置装设于该座体内并且电连接至该三维图像撷取装置；以及一盒体，该盒体其结构是构成一暗室，其中该座体放置于该暗室内，该三维图像撷取装置由该处理／控制装置控制以撷取一二维图像并且测量一真实的深度信息图，该处理／控制装置并且处理该撷取的二维图像进而获得一估计的深度信息图，该处理／控制装置根据该估计的深度信息图与该真实的深度信息图选择性地决定该激光元件发生激光外泄或故障。

【技术特征摘要】
1.一种电子设备，包含一座体；一三维图像撷取装置，该三维图像撷取装置装设于该座体上并且包含一激光元件；一处理/控制装置，该处理/控制装置装设于该座体内并且电连接至该三维图像撷取装置；以及一盒体，该盒体其结构是构成一暗室，其中该座体放置于该暗室内，该三维图像撷取装置由该处理/控制装置控制以撷取一二维图像并且测量一真实的深度信息图，该处理/控制装置并且处理该撷取的二维图像进而获得一估计的深度信息图，该处理/控制装置根据该估计的深度信息图与该真实的深度信息图选择性地决定该激光元件发生激光外泄或故障。2.如权利要求1所述的电子设备，其中该处理/控制装置并且计算在该估计的深度信息图与该真实的深度信息图之间的一现行深度差异值，该处理/控制装置并且判断该现行深度差异值是否大于一理想差异值，并且若判断结果为肯定者，则决定该激光元件发生激光外泄或故障。3.如权利要求1所述的电子设备，其中该盒体用以包装该座体的一包装箱。4.如权利要求1所述的电子设备，其中该处理/控制装置计算关于该撷取的二维图像的一能量密度分布值、关于该撷取的二维图像的一方差值以及关于该撷取的二维图像的一对比度值，该处理/控制装置并且处理该能量密度分布值、该方差值以及该对比度值以获得该估计的深度信息图。5.如权利要求4所述的电子设备，其中该处理/控制装置通过一线性加总法计算该能量密度...

【专利技术属性】
技术研发人员：钟玉圻，李信宏，陈旭宏，
申请(专利权)人：广达电脑股份有限公司，
类型：发明
国别省市：71